一种平面齿形检测工装制造技术

本实用新型专利技术涉及航空零件测量技术领域，尤其涉及一种平面齿形检测工装。本实用新型专利技术提供的平面齿形检测工装包括多齿规和单齿规，多齿规包括多个第一齿，多个第一齿均匀间隔设置于多齿规的底面，第一齿的齿形为齿形零件的齿型最大实体状态，单齿规包括一个第二齿，第二齿的齿形为齿形零件的齿型最小实体状态。通过将第一齿的齿形设置为齿形零件的齿型最大实体状态，以及将第二齿的齿形设置为齿形零件的齿型最小实体状态，能够利用多齿规快速检测齿形零件是否符合最大齿高，在齿形零件符合最大齿高的情况下，利用单齿规能够快速检测齿形零件是否符合最小齿高，从而能够节省检验成本，减少检测时间，提高对齿形零件的检测效率。提高对齿形零件的检测效率。提高对齿形零件的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种平面齿形检测工装


[0001]本技术涉及航空零件测量
，尤其涉及一种平面齿形检测工装。

技术介绍

[0002]在航空零件制造中，为了提升连接可靠性，增加连接面积，将本来平面贴合的零部件设计成以齿形对接的方式进行贴合。在这种零件中，对接齿形分别设置于两个对接零件平面上，其截面为阵列的齿形结构，齿距相同，底部设置有一定的圆角，用于提高齿形强度和疲劳寿命。为了检测这种零件的齿形是否满足公差要求，现有技术通常利用专用投影仪或三坐标测量机，通过投影或者三坐标测量等方式进行公差测量，这些方法使用成本高，测量速率低，尤其是在批量检测时耗时较长。
[0003]因此亟需一种平面齿形检测工装以解决上述问题。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种平面齿形检测工装，能够实现低成本并且简单便捷地进行平面齿形检测。
[0005]为达此目的，本技术采用了以下方案：
[0006]一种平面齿形检测工装，用于检测齿形零件是否满足公差要求，包括多齿规和单齿规，该多齿规包括多个第一齿，多个该第一齿均匀间隔设置于该多齿规的底面，该第一齿的齿形为该齿形零件的齿型最大实体状态，该单齿规包括一个第二齿，该第二齿的齿形为该齿形零件的齿型最小实体状态。
[0007]作为可选方案，该平面齿形检测工装还包括照明灯，该照明灯用于辅助观察该多齿规和该单齿规与该齿形零件的配合情况。
[0008]作为可选方案，平面齿形检测工装还包括放大镜，该放大镜用于辅助观察该多齿规和该单齿规与该齿形零件的配合情况。
[0009]作为可选方案，该多齿规外形呈长方体形状，多个该第一齿沿该多齿规的长度方向间隔分布。
[0010]作为可选方案，该多齿规的端面齿距为节距的0.3倍。
[0011]作为可选方案，该多齿规和该单齿规的侧面均设置有防滑层。
[0012]作为可选方案，该多齿规由金属材料制成。
[0013]作为可选方案，该单齿规由金属材料制成。
[0014]作为可选方案，该多齿规的表面设置有防锈涂层。
[0015]作为可选方案，该单齿规的表面设置有防锈涂层。
[0016]本技术的有益效果为：
[0017]本技术提供的平面齿形检测工装中，通过将第一齿的齿形设置为齿形零件的齿型最大实体状态，以及将第二齿的齿形设置为齿形零件的齿型最小实体状态，能够利用多齿规快速检测齿形零件是否符合最大齿高，在齿形零件符合最大齿高的情况下，利用单
齿规能够快速检测齿形零件是否符合最小齿高，从而能够节省检验成本，减少检测时间，提高对齿形零件的检测效率。
附图说明
[0018]图1是本技术提供的多齿规的结构示意图；
[0019]图2是图1的A处的局部放大图；
[0020]图3是本技术提供的单齿规的结构示意图；
[0021]图4是图3中B处的局部放大图；
[0022]图5是本技术提供的多齿规在工作时的一个结构示意图；
[0023]图6是本技术提供的多齿规在工作时的又一个结构示意图；
[0024]图7是本技术提供的单齿规在工作时的一个结构示意图；
[0025]图8是本技术提供的单齿规在工作时的又一个结构示意图。
[0026]图中：
[0027]100、多齿规；110、第一齿；200、单齿规；210、第二齿；300、齿形零件。
具体实施方式
[0028]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部。
[0029]本技术中限定了一些方位词，在未作出相反说明的情况下，所使用的方位词如“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”，这些方位词是为了便于理解而采用的，因而不构成对本技术保护范围的限制。
[0030]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0031]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0032]如图1～图4所示，本实施例提供一种平面齿形检测工装，用于检测齿形零件300是否满足公差要求。本实施例提供的平面齿形检测工装包括多齿规100和单齿规200，多齿规100包括多个第一齿110，多个第一齿110均匀间隔设置于多齿规100的底面，第一齿110的齿形为齿形零件300的齿型最大实体状态，单齿规200包括一个第二齿210，第二齿210的齿形为齿形零件300的齿型最小实体状态。本实施例中的平面齿形检测工装的检测流程如下：首先使用多齿规100进行检验，请结合参考图5，若多齿规100的第一齿110的齿型底部与齿形
零件300的齿型顶部贴合，第一齿110的齿型顶部与齿形零件300的齿槽有间隙，第一齿110的某一侧齿侧与齿形零件300的齿侧有间隙，则说明齿形零件300的齿形深度大于其工艺公差要求的最大齿高，说明齿形零件300不合格；请结合参考图6，若多齿规100的第一齿110的底部与齿形零件300的齿型顶部有间隙而第一齿110的齿侧与齿形零件300的齿侧无间隙，则说明齿形零件300的齿型深度小于工艺公差要求的最大齿高，此时继续使用单齿规200进行进一步检测。使用单齿规200进行检验，请结合参考图7，若单齿规200的第二齿210的齿形底部与齿形零件300的齿型顶部贴合，单齿规200的第二齿210的齿型顶部与齿形零件300的齿型底部贴合或者有间隙，则齿形零件300的齿型深度大于工艺公差要求的最小齿高，此时齿形零件300合格；请结合参考图8，若单齿规200的第二齿210的齿型底部与齿形零件300的齿型顶部有间隙，则说明零件齿型深度小于工艺公差要求的最小齿高，此时齿形零件300不合格，需要进一步加工。通过将第一齿110的齿形设置为齿形零件300的齿型最大实体状态，以及将第二齿210的齿形设置为齿形零件300的齿型最小实体状态，能够利用多齿规100快速检测齿形零件300是否符合最大齿高，在齿形零件300符合最大齿高的情况下，利用单齿规200能够快速检测齿形零本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平面齿形检测工装，用于检测齿形零件(300)是否满足公差要求，其特征在于，包括多齿规(100)和单齿规(200)，所述多齿规(100)包括多个第一齿(110)，多个所述第一齿(110)均匀间隔设置于所述多齿规(100)的底面，所述第一齿(110)的齿形为所述齿形零件(300)的齿型最大实体状态，所述单齿规(200)包括一个第二齿(210)，所述第二齿(210)的齿形为所述齿形零件(300)的齿型最小实体状态。2.根据权利要求1所述的平面齿形检测工装，其特征在于，还包括照明灯，所述照明灯用于辅助观察所述多齿规(100)和所述单齿规(200)与所述齿形零件(300)的配合情况。3.根据权利要求2所述的平面齿形检测工装，其特征在于，还包括放大镜，所述放大镜用于辅助观察所述多齿规(100)和所述单齿规(200)与所述齿形零件(300)的配合情况。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：张祥兵，方丽萍，于选坤，杨浩，毛毅明，张恒，
申请(专利权)人：中国商用飞机有限责任公司，
类型：新型
国别省市：