一种可扩展多只晶振自动测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可扩展多只晶振自动测试电路，包括USB转串口模块、控制模块、第一串行转并行缓存器、第一射频开关以及至少两个稳压器，每个稳压器均连接有晶振为晶振供电，USB转串口模块用于获取上位机的选通指令发送给控制模块，控制模块输出串行选通数据给第一串行转并行缓存器，第一串行转并行缓存器输出并行选通数据选择稳压器为相应的晶振供电，所有晶振的信号输出端通过第一射频开关输出信号，控制模块连接第一射频开关控制其选通相应的晶振信号。本实用新型专利技术提供了一种可扩展多只晶振自动测试电路，采用自动测试方式对多只晶振进行测试，节约测试成本，并可以提高对测试设备的使用率。测试设备的使用率。测试设备的使用率。

【技术实现步骤摘要】
一种可扩展多只晶振自动测试电路


[0001]本技术涉及电子设备检测
，特别是涉及一种可扩展多只晶振自动测试电路。

技术介绍

[0002]晶体振荡器是指从一块石英晶体上按一定方位角切下晶片，添加LC组成振荡电路的晶体元件；其产品一般用金属外壳封装。其作用主要包括：
[0003]1.通用晶体振荡器，用于各种电路中，产生振荡频率。
[0004]2.时钟脉冲用石英晶体谐振器，与其它元件配合产生标准脉冲信号，广泛用于数字电路中。
[0005]3.微处理器用石英晶体谐振器。
[0006]晶体振荡器的主要参数包括频率准确度、温度稳定度，频率调节范围，调频特性、负载特性、电压特性等。
[0007]在晶体振荡器的设计和生产过程中，需要对晶体振荡器的参数进行检测。
[0008]目前，市场上针对晶振的测试夹具只能单只测试，由于电子产品往往生产量很大，采用单只测试方式比较花费人力，测试成本较高，效率低下。
[0009]因此，现有技术的缺陷是，缺少一种可扩展多只晶振自动测试电路，采用自动测试方式对多只晶振进行测试，节约测试成本，并可以提高对测试设备的使用率。

技术实现思路

[0010]有鉴于现有技术的至少一个缺陷，本技术的目的是提供一种可扩展多只晶振自动测试电路，采用自动测试方式对多只晶振进行批量测试，节约测试成本，并可以提高对测试设备的使用率。
[0011]为了达到上述目的，本技术采用如下技术方案：一种可扩展多只晶振自动测试电路，包括USB转串口模块、控制模块、第一串行转并行缓存器、第一射频开关以及至少两个稳压器，每个稳压器均连接有晶振为晶振供电，USB转串口模块用于获取上位机的选通指令发送给控制模块，控制模块输出串行选通数据给第一串行转并行缓存器，第一串行转并行缓存器输出并行选通数据选择稳压器为相应的晶振供电，所有晶振的信号输出端通过第一射频开关输出信号，控制模块连接第一射频开关控制其选通相应的晶振信号。
[0012]所述控制模块或者是单片机，或者是单片机通过SPI串行接口连接有SPI 驱动模块；单片机根据USB转串口模块的串口数据转换成SPI串行数据。
[0013]所述单片机的串行输入端组连接USB转串口模块，单片机的SPI串行接口连接有SPI驱动模块，单片机经SPI驱动模块连接第一串行转并行缓存器输出 SPI串行选通数据；单片机还经SPI驱动模块连接第一射频开关的选择端组控制其选通相应的晶振信号。
[0014]所述SPI驱动模块连接第一串行转并行缓存器的串行数据输入端组，第一串行转并行缓存器的并行输出端组连接稳压器的使能端，晶振的信号输出端依次连接第一射频开
关的相应信号输入端，第一射频开关的信号输出端输出相应的晶振信号。
[0015]所述晶振、稳压器为16只，所述第一串行转并行缓存器采用74HC595D模块，第一串行转并行缓存器为两只，第一射频开关采用HMC241ALP3E模块，第一射频开关为1只，还包括四个第二射频开关，第二射频开关采用HMC241ALP3E模块，16只晶振的16个输出端依次连接四个第二射频开关的输入端，四个第二射频开关的输出端连接第一射频开关的四个输入端；
[0016]单片机经SPI驱动模块连接有第二串行转并行缓存器，第二串行转并行缓存器采用74HC595D模块，第二串行转并行缓存器的八个信号输出端依次连接四个第二射频开关的选择端组控制其选通相应的晶振信号。
[0017]显著效果:本技术提供了一种一种可扩展多只晶振自动测试电路，采用自动测试方式对多只晶振进行批量测试，节约测试成本，并可以提高对测试设备的使用率。
附图说明
[0018]图1为本技术的结构图；
[0019]图2为16只晶振自动测试电路的电路图；
[0020]图3为1
‑
4只晶振及其稳压器的电路图；其中，(a)为第1只晶振及其稳压器的电路图，(b)为第2只晶振及其稳压器的电路图，(c)为第3只晶振及其稳压器的电路图，(d)为第4只晶振及其稳压器的电路图；
[0021]图4为5
‑
8只晶振及其稳压器的电路图；其中，(a)为第5只晶振及其稳压器的电路图，(b)为第6只晶振及其稳压器的电路图，(c)为第7只晶振及其稳压器的电路图，(d)为第8只晶振及其稳压器的电路图；
[0022]图5为9
‑
12只晶振及其稳压器的电路图；其中，(a)为第9只晶振及其稳压器的电路图，(b)为第10只晶振及其稳压器的电路图，(c)为第11只晶振及其稳压器的电路图，(d)为第12只晶振及其稳压器的电路图；
[0023]图6为13
‑
16只晶振及其稳压器的电路图；其中，(a)为第13只晶振及其稳压器的电路图，(b)为第14只晶振及其稳压器的电路图，(c)为第15只晶振及其稳压器的电路图，(d)为第16只晶振及其稳压器的电路图；
[0024]图7为第一串行转并行缓存器和第二串行转并行缓存器的电路图，其中， (a)、(b)分别为两个第一串行转并行缓存器的电路图；(c)为第二串行转并行缓存器的电路图；(d)为第一串行转并行缓存器、第二串行转并行缓存器、第一射频开关、第二射频开关的电源模块的电路图；(e)为J2接口的电路图；
[0025]图8为第二射频开关和第一射频开关的电路图；其中(a)、(b)、(c)、(d) 为第二射频开关的电路图，(e)为第一射频开关的电路图；
[0026]图9为单片机及其供电模块的电路图；其中，(a)为单片机的电路图，(b) 为供电模块的电路图，(c)为单片机接口J2的电路图；
[0027]图10为USB转串口模块的电路图；其中，(a)为USB转串口芯片的电路图， (b)为USB指示灯的电路图；
[0028]图11为三个SPI驱动模块及其输出接口的电路图；其中，(a)为第一个SPI 驱动模块的电路图，(b)为第二个SPI驱动模块的电路图，(c)为第三个SPI 驱动模块的电路图，(d)
为SPI驱动模块输出接口的电路图。
具体实施方式
[0029]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步详细说明。
[0030]本技术涉及一种可扩展多只晶振自动测试电路。特指通过单片机将串行数据转换为并行数据，控制电路中的各个稳压块和微波射频开关，实现多个待测晶振的自动测试。
[0031]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：采用USB为控制接口，控制方式为串口通信协议，利用计算机软件发指令给电路中的单片机，单片机输出串行指令，通过串行转并行电路，选择不同的晶振，从而达到一次测试16只甚至更多晶振的目的。
[0032]本专利技术的有益效果是，能较好的满足批量晶振的测试需要，并且电路结构简单，并可根据不同的要求对电路进行扩展，测试效率搞，成本低，实现大规模自动测试。
[0033]如图1
‑
图11所示，一种可扩展多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可扩展多只晶振自动测试电路，其特征在于，包括USB转串口模块、控制模块、第一串行转并行缓存器、第一射频开关以及至少两个稳压器，每个稳压器均连接有晶振为晶振供电，USB转串口模块用于获取上位机的选通指令发送给控制模块，控制模块输出串行选通数据给第一串行转并行缓存器，第一串行转并行缓存器输出并行选通数据选择稳压器为相应的晶振供电，所有晶振的信号输出端通过第一射频开关输出信号，控制模块连接第一射频开关控制其选通相应的晶振信号。2.根据权利要求1所述的一种可扩展多只晶振自动测试电路，其特征在于：所述控制模块或者是单片机，或者是单片机通过SPI串行接口连接有SPI驱动模块；单片机根据USB转串口模块的串口数据转换成SPI串行数据。3.根据权利要求2所述的一种可扩展多只晶振自动测试电路，其特征在于：所述单片机的串行输入端组连接USB转串口模块，单片机的SPI串行接口连接有SPI驱动模块，单片机经SPI驱动模块连接第一串行转并行缓存器输出SPI串行选通数据；单片机还经SPI驱动模块连接第一射频开关的选择端组控制其选...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐春，冯晓东，蒙家材，
申请(专利权)人：重庆会凌电子新技术有限公司，
类型：新型
国别省市：