混合质谱装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种混合质谱装置。用于分析分析物样品的质谱装置(100)包括：离子源(1)，可以从该离子源(1)获取来自分析物样品的一定量的分析物离子以用于提供离子束(7，11)；质量分析仪(9)，用于将离子束(7，11)的分析物离子基于其质荷比进行过滤；第一检测器单元(A)，用于分析离子束(7，11)的离子；以及，第二检测器单元(B)，其基于飞行时间原理并且包括用于分析离子束(7，11)的离子的第二检测器(15)。本发明专利技术还涉及一种通过根据本发明专利技术的质谱装置(100)分析分析物样品的方法。析分析物样品的方法。析分析物样品的方法。

【技术实现步骤摘要】
混合质谱装置


[0001]本专利技术涉及一种用于分析分析物样品的质谱装置以及一种通过质谱装置分析分析物样品的方法。

技术介绍

[0002]如今，借助质谱法对分析物样品进行分析和/或表征已广泛用于各种领域。从现有技术已经变得已知许多不同类型的质谱仪，例如扇形场、四极或飞行时间质谱仪，或者还有具有电感耦合的等离子体的质谱仪。各种质谱仪的操作模式已在许多出版物中进行了描述，因此此处不再详细说明。
[0003]在质谱仪中，分析物样品的分子或原子首先被转移到气相中并被电离。对于电离，现有技术中已知的各种方法是可用的，例如电感耦合等离子体电离(ICP)、碰撞电离、电子碰撞电离、化学电离、光电离、场电离或所谓的快速原子轰击、基质
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辅助激光解吸/电离或电喷雾电离。
[0004]在电离后，离子通过分析仪(也称为质量分析仪)，其中，将离子根据它们的质荷比m/z进行分离。不同类型的分析仪和操作模式基于例如静态或动态电场和/或磁场的应用或基于不同离子的不同飞行时间。特别地，不同类型的质量分析仪包括分析仪的单一、多重或混合排列，例如四本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于分析分析物样品的质谱装置(100)，包括：离子源(1)，能够从所述离子源(1)获取来自所述分析物样品的一定量的分析物离子，以用于提供离子束(7，11)，质量分析仪(9)，所述质量分析仪(9)用于将所述离子束(7，11)的分析物离子基于其质荷比进行过滤，以及第一检测器单元(A)，所述第一检测器单元(A)用于分析所述离子束(7，11)的离子，其特征在于所述装置(100)还包括第二检测器单元(B)，所述第二检测器单元(B)基于飞行时间原理，且包括用于分析所述离子束(7，11)的离子的第二检测器(15)。2.根据权利要求1所述的质谱装置(100)，其中，所述第一检测器单元(A)包括四极检测器(10)。3.根据权利要求1或2所述的质谱装置，其中，所述第二检测器(15)为四极检测器。4.根据前述权利要求中任一项所述的质谱装置(100)，其中，所述质量分析仪(8)为四极质量分析仪。5.根据前述权利要求中任一项所述的质谱装置(100)，包括至少两个质量分析仪(8、26)。6.根据前述权利要求中任一项所述的质谱装置(100)，其中，所述第一检测器单元(A)平行于第一平面(E1)布置，且所述第二检测器单元(B)平行于第二平面(E2)布置，所述第一平面(E1)和所述第二平面(E2)彼此之间具有预定角度，以及其中，所述质谱装置(100)被配置为将从所述质量分析仪(8)接收的离子束(11)引导至所述第一检测器单元(A)或第二检测器单元(B)。7.根据前述权利要求中任一项所述的质谱装置(100)，还包括至少一个第一引导光学器件(C)，被布置和/或配置为沿着平行于所述第一平面(E1)的第一流动方向(f1)和/或沿着平行于所述第二平面(E2)的第二流动方向(f2)引导从所述质量分析仪(8)接收的离子束(11)。8.根据权利要求7所述的质谱装置(100)，其中，所述引导光学器件(C)包括至少一个电极(12、13、25、30、31)和/或透镜装置或离子镜。9.根据权利要求7或8所述的质谱装置(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗兰，
申请(专利权)人：耶拿分析仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：