本发明专利技术涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种半导电橡塑材料电阻率的测试装置，包括设于底座上并沿X向相对间隔形成检测区域的固定夹紧组件和移动夹紧组件，驱动组件驱动移动夹紧组件沿X向移动，导体组件设于检测区域一侧，包括可沿X向移动地设于底座上的升降平台、可沿Y向移动地设于升降平台上的支撑结构及设于支撑结构上的下、上导体。还涉及采用该装置的半导电橡塑材料电阻率的评价方法，由驱动组件驱动移动夹紧组件移动，对两端分别夹持于固定夹紧组件和移动夹紧组件的半导电试片进行拉伸后，导体组件动作将下、上导体移送至检测区域并分别接触半导电试片的下、上表面，通过测量仪器测得拉伸后的半导电试片的电压和电流，计算体积电阻率。算体积电阻率。算体积电阻率。
【技术实现步骤摘要】
半导电橡塑材料电阻率的测试装置及评价方法
[0001]本专利技术涉及检测设备
，尤其涉及一种半导电橡塑材料电阻率的测试装置及一种基于该测试装置的半导电橡塑材料电阻率的评价方法。
技术介绍
[0002]电缆中采用半导电橡胶材料作为导体的保护层，具有能优化电场分布、降低运行故障概率等优点，半导电材料成型部件在使用过程中会受到张力、压力，致使其产生形变，长度和厚度产生变化，影响材料微观结构及其导电性能。半导电橡胶材料属于半导电橡塑材料的一种，现有技术中，缺少针对半导电橡塑材料拉伸后的性能测试装置，不能精准测试和评价半导电橡塑材料拉伸后的电阻率。
技术实现思路
[0003]鉴于现有技术的上述缺陷，本专利技术要解决的技术问题是提供一种半导电橡塑材料电阻率的测试装置，能够实现对半导电橡塑材料进行拉伸试验并测量拉伸后的电阻率。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0005]本专利技术提供一种半导电橡塑材料电阻率的测试装置，包括：底座；固定夹紧组件，固设于底座上，固定夹紧组件用于夹持待测试的半导电试片的一端；移动夹紧组件，可沿X向移动地设于底座上，移动夹紧组件与固定夹紧组件沿X向相对间隔形成检测区域，移动夹紧组件用于夹持半导电试片的另一端；驱动组件，与移动夹紧组件相连接，驱动组件用于驱动移动夹紧组件沿X向移动并使移动夹紧组件在指定位置保持停留；导体组件，沿Y向设于检测区域的一侧，导体组件包括可沿X向移动地设于底座上并可沿Z向升降的升降平台、可沿Y向移动地设于升降平台上的支撑结构以及设于支撑结构上的下导体和上导体，上导体与下导体之间沿Z向间隔形成供半导电试片穿过的间隙。
[0006]优选地，固定夹紧组件包括由下至上依次叠置并通过第一螺杆相连接的连接块、第一夹块、第二夹块和第一压块，连接块与底座固定连接，第一螺杆的两端分别穿出连接块和第一压块并连接第一螺母，第一夹块和第二夹块相对的面为与半导电试片相接触的夹持面。
[0007]优选地，移动夹紧组件包括由下至上依次叠置并通过第二螺杆相连接的移动块、第三夹块、第四夹块和第二压块，移动块连接驱动组件并与第二螺杆的下端固定连接，第二螺杆的上端穿出第二压块并连接第二螺母，第三夹块和第四夹块相对的面为与半导电试片相接触的夹持面。
[0008]优选地，夹持面上设有点状凸起或短条状凸起或长条状凸起。
[0009]优选地，驱动组件包括固设于底座上的固定块、沿X向设置的拉杆和设于拉杆的一端上的手柄，拉杆的外周面上设有外螺纹，固定块设有具有内螺纹的穿孔，拉杆穿设于穿孔并通过外螺纹与穿孔的内螺纹配合连接，拉杆的另一端与移动夹紧组件活动连接。
[0010]优选地，拉杆的外周面上套设有紧固块，紧固块设有具有内螺纹的内孔，内孔的内
螺纹与拉杆的外螺纹配合连接。
[0011]优选地，拉杆与移动夹紧组件相连接的一端的外周面上沿周向开设有环形凹槽，移动夹紧组件上连接有挡板，挡板与环形凹槽卡接配合。
[0012]优选地，支撑结构包括下支撑板和上支撑板，下支撑板可沿Y向移动地设于升降平台上，下支撑板的上表面上设有盲孔，下导体的下端置于盲孔内，上支撑板平行间隔地设于下支撑板的上方并与下支撑板相连接，上支撑板上设有通孔，通孔与盲孔同轴设置，上导体穿设于通孔。
[0013]本专利技术还提供一种半导电橡塑材料电阻率的评价方法，采用如上所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置，依次包括以下步骤：步骤一、将半导电试片的两端分别夹持固定于固定夹紧组件和移动夹紧组件，通过驱动组件驱动移动夹紧组件沿X向移动，对半导电试片进行拉伸试验，拉伸试验在预设环境温度下进行并具有预设拉伸比例或预设拉伸时间；步骤二、导体组件动作将下导体和上导体移送至检测区域，使下导体和上导体分别接触半导电试片的下表面和上表面，将测量仪器与下导体和上导体连接，通过测量仪器测得半导电试片的电压和电流；步骤三、计算半导电试片拉伸后的体积电阻率。
[0014]优选地，还包括：步骤四、设定多个依次递增的预设拉伸比例，在同一预设环境温度下依次按照多个预设拉伸比例重复进行步骤一至步骤三，获得半导电试片拉伸后的体积电阻率与预设拉伸比例的关系；步骤五、设定多个依次递增的预设拉伸时间，在同一预设环境温度下依次按照多个预设拉伸时间重复进行步骤一至步骤三，获得半导电试片拉伸后的体积电阻率与预设拉伸时间的关系；步骤六、将检测区域容纳于烘箱中，通过烘箱改变预设环境温度，设定多个依次递增的预设环境温度，在同一预设拉伸比例下依次按照多个预设环境温度重复进行步骤一至步骤三，获得半导电试片拉伸后的体积电阻率与预设环境温度的关系。
[0015]与现有技术相比，本专利技术具有显著的进步：
[0016]本专利技术通过将待测试的半导电试片置于移动夹紧组件与固定夹紧组件之间的检测区域内，并将半导电试片的两端分别夹持固定于固定夹紧组件和移动夹紧组件，通过驱动组件驱动移动夹紧组件沿X向移动，对半导电试片进行拉伸试验，拉伸试验完成后，导体组件动作，通过升降平台沿X向移动、升降平台沿Z向升降以及支撑结构沿Y向移动，将下导体和上导体移送至检测区域，并使得下导体和上导体分别接触半导电试片的下表面和上表面，然后将测量仪器与下导体和上导体连接，通过测量仪器测得拉伸后的半导电试片的电压和电流，从而可计算半导电试片拉伸后的体积电阻率。由此，本专利技术能够实现对半导电橡塑材料进行拉伸试验并测量半导电橡塑材料拉伸后的电阻率。
附图说明
[0017]图1是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置的整体结构示意图。
[0018]图2是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置去掉导电组件后的结构示意图。
[0019]图3是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，导电组件的结构示意图。
[0020]图4是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，底座的结构示意图。
[0021]图5是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，连接块的结构示意图。
[0022]图6是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，移动块的结构示意图。
[0023]图7是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，夹块的夹持面上设有点状凸起的结构示意图。
[0024]图8是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，夹块的夹持面上设有短条状凸起的结构示意图。
[0025]图9是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，夹块的夹持面上设有长条状凸起的结构示意图。
[0026]图10是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，固定块的结构示意图。
[0027]图11是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，拉杆的结构示意图。
[0028]图12是本专利技术实施例的半导电橡塑材料电阻率的测试装置中，挡板的结构示意图。
[0029]其中，附图标记说明如下：
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底座
ꢀꢀꢀꢀ本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导电橡塑材料电阻率的测试装置，其特征在于，包括：底座(1)；固定夹紧组件(2)，固设于所述底座(1)上，所述固定夹紧组件(2)用于夹持待测试的半导电试片的一端；移动夹紧组件(3)，可沿X向移动地设于所述底座(1)上，所述移动夹紧组件(3)与所述固定夹紧组件(2)沿X向相对间隔形成检测区域(A)，所述移动夹紧组件(3)用于夹持所述半导电试片的另一端；驱动组件(4)，与所述移动夹紧组件(3)相连接，所述驱动组件(4)用于驱动所述移动夹紧组件(3)沿X向移动并使所述移动夹紧组件(3)在指定位置保持停留；导体组件(5)，沿Y向设于所述检测区域(A)的一侧，所述导体组件(5)包括可沿X向移动地设于所述底座(1)上并可沿Z向升降的升降平台(51)、可沿Y向移动地设于所述升降平台(51)上的支撑结构(52)以及设于所述支撑结构(52)上的下导体(53)和上导体(54)，所述上导体(54)与所述下导体(53)之间沿Z向间隔形成供所述半导电试片穿过的间隙。2.根据权利要求1所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置，其特征在于，所述固定夹紧组件(2)包括由下至上依次叠置并通过第一螺杆(25)相连接的连接块(21)、第一夹块(22)、第二夹块(23)和第一压块(24)，所述连接块(21)与所述底座(1)固定连接，所述第一螺杆(25)的两端分别穿出所述连接块(21)和所述第一压块(24)并连接第一螺母(26)，所述第一夹块(22)和所述第二夹块(23)相对的面为与所述半导电试片相接触的夹持面(a)。3.根据权利要求1所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置，其特征在于，所述移动夹紧组件(3)包括由下至上依次叠置并通过第二螺杆(35)相连接的移动块(31)、第三夹块(32)、第四夹块(33)和第二压块(34)，所述移动块(31)连接所述驱动组件(4)并与所述第二螺杆(35)的下端固定连接，所述第二螺杆(35)的上端穿出所述第二压块(34)并连接第二螺母(36)，所述第三夹块(32)和所述第四夹块(33)相对的面为与所述半导电试片相接触的夹持面(a)。4.根据权利要求2或3所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置，其特征在于，所述夹持面(a)上设有点状凸起(b1)或短条状凸起(b2)或长条状凸起(b3)。5.根据权利要求1所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置，其特征在于，所述驱动组件(4)包括固设于所述底座(1)上的固定块(41)、沿X向设置的拉杆(42)和设于所述拉杆(42)的一端上的手柄(43)，所述拉杆(42)的外周面上设有外螺纹，所述固定块(41)设有具有内螺纹的穿孔(411)，所述拉杆(42)穿设于所述穿孔(411)并通过所述外螺纹与所述穿孔(411)的内螺纹配合连接，所述拉杆(42)的另一端与所述移动夹紧组件(3)活动连接。...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐晓峰，黄阳，
申请(专利权)人：上海电缆研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：
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