自动化测试装置及系统制造方法及图纸

本申请提供一种自动化测试装置及系统，涉及计算机技术领域。该自动化测试装置包括：微控制单元、第一开关单元、边缘指片和连接接口，微控制单元与第一开关单元的控制端连接，边缘指片与第一开关单元的输入端连接，第一开关单元的输出端与连接接口连接；其中，边缘指片用于连接测试主板，连接接口用于连接待测试PCIe设备，微控制单元用于连接外部控制设备，以获取外部控制设备提供的热插拔指令，并根据热插拔指令向第一开关单元输出控制信号；第一开关单元，用于根据微控制单元的控制信号改变开关状态，以实现待测试PCIe设备在测试主板上的热插拔测试。本申请可以提高PCIe设备的测试效率和测试可靠性。和测试可靠性。和测试可靠性。

【技术实现步骤摘要】
自动化测试装置及系统


[0001]本技术涉及计算机
，具体而言，涉及一种自动化测试装置及系统。

技术介绍

[0002]PCI
‑
Express(peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准，属于高速串行点对点双通道高带宽传输，所连接的设备分配独享通道带宽，不共享总线带宽，主要支持主动电源管理，错误报告，端对端的可靠性传输，热插拔以及服务质量(QOS，Quality of Service)等功能。其中，热插拔功能是指可以在不关闭系统和电源的情况下更换PCIe插槽上连接的PCIe设备和各种硬件设备。
[0003]在对PCIe设备进行测试时，如果PCIe根控制器(PCIe Root Complex)和PCIe端点设备(PCIe Endpoint Device)支持热插拔功能，为了验证PCIe设备功能的正确性和可靠性，需要对PCIe设备进行大量的热插拔测试。
[0004]现有的热插拔测试是依照操作要求，人为将PCIe设备插入、拔出PCIe插槽本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动化测试装置，其特征在于，所述自动化测试装置包括：微控制单元、第一开关单元、边缘指片、连接接口；所述微控制单元与所述第一开关单元的控制端连接，所述边缘指片与所述第一开关单元的输入端连接，所述第一开关单元的输出端与所述连接接口连接；其中，所述边缘指片，用于连接测试主板；所述连接接口，用于连接待测试PCIe设备；所述微控制单元，用于连接外部控制设备，以获取所述外部控制设备提供的热插拔指令，并根据所述热插拔指令向所述第一开关单元输出控制信号；所述第一开关单元，用于根据所述微控制单元的所述控制信号改变开关状态，以实现所述待测试PCIe设备在所述测试主板上的热插拔测试。2.如权利要求1所述的自动化测试装置，其特征在于，所述边缘指片与所述微控制单元连接；所述微控制单元还用于发送热插拔状态信号；所述边缘指片，用于根据所述微控制单元的所述热插拔状态信号，通过所述测试主板获取测试信号，并在所述第一开关单元打开后，通过所述连接接口向所述待测试PCIe设备发送所述测试信号。3.如权利要求1所述的自动化测试装置，其特征在于，还包括：供电单元；所述供电单元的一端用于连接电源，所述供电单元的另一端用于连接所述待测试PCIe设备的第一辅助电源接口。4.如权利要求3所述的自动化测试装置，其特征在于，所述供电单元的一端包括第二辅助电源接口；所述供电单元的另一端包括电源连接接口；所述第二辅助电源接口和所述电源连接接口连接；所述第二辅助电源接口用于连接电源；所述电源连接接口用于连接所述待测试PCIe设备的第一辅助电源接口。5.如权利要求4所述的自动化测试装置，其特征在于，所述供电单元还包括：第二开关单元；所述第二辅助电源接口和所述电源连接接口之间通过所述第二开关单元连接；所述微控制单元与所述第二开关单元的控制端连接，用于根据所述热插拔指令向所述第二开关单元输出控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵热闹，
申请(专利权)人：成都登临科技有限公司，
类型：新型
国别省市：