自动化测试装置及系统制造方法及图纸

本申请提供一种自动化测试装置及系统，涉及计算机技术领域。该自动化测试装置包括：微控制单元、第一开关单元、边缘指片和连接接口，微控制单元与第一开关单元的控制端连接，边缘指片与第一开关单元的输入端连接，第一开关单元的输出端与连接接口连接；其中，边缘指片用于连接测试主板，连接接口用于连接待测试PCIe设备，微控制单元用于连接外部控制设备，以获取外部控制设备提供的热插拔指令，并根据热插拔指令向第一开关单元输出控制信号；第一开关单元，用于根据微控制单元的控制信号改变开关状态，以实现待测试PCIe设备在测试主板上的热插拔测试。本申请可以提高PCIe设备的测试效率和测试可靠性。和测试可靠性。和测试可靠性。

【技术实现步骤摘要】
自动化测试装置及系统


[0001]本技术涉及计算机
，具体而言，涉及一种自动化测试装置及系统。

技术介绍

[0002]PCI
‑
Express(peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准，属于高速串行点对点双通道高带宽传输，所连接的设备分配独享通道带宽，不共享总线带宽，主要支持主动电源管理，错误报告，端对端的可靠性传输，热插拔以及服务质量(QOS，Quality of Service)等功能。其中，热插拔功能是指可以在不关闭系统和电源的情况下更换PCIe插槽上连接的PCIe设备和各种硬件设备。
[0003]在对PCIe设备进行测试时，如果PCIe根控制器(PCIe Root Complex)和PCIe端点设备(PCIe Endpoint Device)支持热插拔功能，为了验证PCIe设备功能的正确性和可靠性，需要对PCIe设备进行大量的热插拔测试。
[0004]现有的热插拔测试是依照操作要求，人为将PCIe设备插入、拔出PCIe插槽，但是这种测试方式的测试效率较低，容易误操作，且由于PCIe插槽有插入、拔出寿命，操作次数过多会引起硬件故障。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种自动化测试装置及系统，以便提高PCIe设备的测试效率和测试可靠性。
[0006]为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：
[0007]第一方面，本申请实施例提供了一种自动化测试装置，所述自动化测试装置包括：微控制单元、第一开关单元、边缘指片、连接接口；
[0008]所述微控制单元与所述第一开关单元的控制端连接，所述边缘指片与所述第一开关单元的输入端连接，所述第一开关单元的输出端与所述连接接口连接；其中，
[0009]所述边缘指片，用于连接测试主板；
[0010]所述连接接口，用于连接待测试PCIe设备；
[0011]所述微控制单元，用于连接外部控制设备，以获取所述外部控制设备提供的热插拔指令，并根据所述热插拔指令向所述第一开关单元输出控制信号；
[0012]所述第一开关单元，用于根据所述微控制单元的所述控制信号改变开关状态，以实现所述待测试PCIe设备在所述测试主板上的热插拔测试。
[0013]可选的，在该自动化测试装置中，所述边缘指片与所述微控制单元连接；
[0014]所述微控制单元还用于发送热插拔状态信号；
[0015]所述边缘指片，用于根据所述微控制单元的所述热插拔状态信号，通过所述测试主板获取测试信号，并在所述第一开关单元打开后，通过所述连接接口向所述待测试PCIe设备发送所述测试信号。
[0016]可选的，上述自动化测试装置还包括：供电单元；所述供电单元的一端用于连接电
源，所述供电单元的另一端用于连接所述待测试PCIe设备的第一辅助电源接口。
[0017]可选的，所述供电单元的一端包括第二辅助电源接口；所述供电单元的另一端包括电源连接接口；所述第二辅助电源接口和所述电源连接接口连接；所述第二辅助电源接口用于连接电源；所述电源连接接口用于连接所述待测试PCIe设备的第一辅助电源接口。
[0018]可选的，所述供电单元还包括：第二开关单元；所述第二辅助电源接口和所述电源连接接口之间通过所述第二开关单元连接；所述微控制单元与所述第二开关单元的控制端连接，用于根据所述热插拔指令向所述第二开关单元输出控制信号；所述第二开关单元用于根据所述微控制单元输出的控制信号改变开关状态，以使得所述待测试PCIe设备的第一辅助电源接口得到供电或失去供电。
[0019]可选的，上述自动化测试装置还包括：设备输入接口；所述微控制单元用于通过所述设备输入接口连接所述外部控制设备，并通过所述设备输入接口接收所述外部控制设备发送的所述热插拔指令。
[0020]可选的，所述边缘指片的信号传输端与所述连接接口的信号传输端连接。
[0021]可选的，上述自动化测试装置还包括：第三开关单元；所述边缘指片的信号传输端与所述连接接口的信号传输端之间通过所述第三开关单元连接；所述微控制单元与所述第三开关单元的控制端连接，用于根据所述热插拔指令向所述第三开关单元输出控制信号；所述第三开关单元用于根据所述微控制单元输出的控制信号改变开关状态，以使所述边缘指片向所述连接接口传输或停止传输复位信号和协议信号。
[0022]第二方面，本申请实施例还提供一种自动化测试系统，所述自动化测试系统包括：外部控制设备、测试主板和上述第一方面任一所述的自动化测试装置；
[0023]所述外部控制设备用于连接所述自动化测试装置，以向所述自动化测试装置发送热插拔指令；
[0024]所述自动化测试装置还用于连接待测试PCIe设备和所述测试主板，以将所述待测试PCIe设备与所述测试主板连接，并根据所述热插拔指令改变所述待测试PCIe设备与所述测试主板之间的连通状态，以使所述待测试PCIe设备完成在所述测试主板上的热插拔测试。
[0025]可选的，所述测试主板还用于连接所述外部控制设备，用以根据所述待测试PCIe设备的热插入状态从所述外部控制设备获取测试信号，并通过所述自动化测试装置向所述待测试PCIe设备发送所述测试信号。
[0026]本申请的有益效果是：
[0027]本申请提供一种自动化测试装置及系统，通过该自动化测试装置中的边缘指片、第一开关单元和连接接口形成的传输路径可以将待测试PCIe设备与测试主板连通，其中，第一开关单元可以根据微控制单元基于热插拔指令输出的控制信号改变开关状态，从而实现将待测试PCIe设备与测试主板之间的传输路径连通或断开，以此模拟待测试PCIe设备在测试主板上的插入和拔出操作，实现自动化热插拔测试。本申请一方面可以提高热插拔测试效率，避免人为热插拔操作失误，另一方面可以避免频繁的插入拔出操作对PCIe插槽寿命的影响，提高PCIe插槽的寿命。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0029]图1为本申请提供的自动化测试装置的第一实施例的结构示意图；
[0030]图2为本申请提供的自动化测试装置的第二实施例的结构示意图；
[0031]图3为本申请提供的自动化测试装置的第三实施例的结构示意图；
[0032]图4为本申请提供的自动化测试装置的第四实施例的结构示意图；
[0033]图5为本申请提供的一种实现自动化测试的流程示意图；
[0034]图6为本申请提供的自动化测试系统的第一实施例的结构示意图；
[0035]图7为本申请提供的自动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动化测试装置，其特征在于，所述自动化测试装置包括：微控制单元、第一开关单元、边缘指片、连接接口；所述微控制单元与所述第一开关单元的控制端连接，所述边缘指片与所述第一开关单元的输入端连接，所述第一开关单元的输出端与所述连接接口连接；其中，所述边缘指片，用于连接测试主板；所述连接接口，用于连接待测试PCIe设备；所述微控制单元，用于连接外部控制设备，以获取所述外部控制设备提供的热插拔指令，并根据所述热插拔指令向所述第一开关单元输出控制信号；所述第一开关单元，用于根据所述微控制单元的所述控制信号改变开关状态，以实现所述待测试PCIe设备在所述测试主板上的热插拔测试。2.如权利要求1所述的自动化测试装置，其特征在于，所述边缘指片与所述微控制单元连接；所述微控制单元还用于发送热插拔状态信号；所述边缘指片，用于根据所述微控制单元的所述热插拔状态信号，通过所述测试主板获取测试信号，并在所述第一开关单元打开后，通过所述连接接口向所述待测试PCIe设备发送所述测试信号。3.如权利要求1所述的自动化测试装置，其特征在于，还包括：供电单元；所述供电单元的一端用于连接电源，所述供电单元的另一端用于连接所述待测试PCIe设备的第一辅助电源接口。4.如权利要求3所述的自动化测试装置，其特征在于，所述供电单元的一端包括第二辅助电源接口；所述供电单元的另一端包括电源连接接口；所述第二辅助电源接口和所述电源连接接口连接；所述第二辅助电源接口用于连接电源；所述电源连接接口用于连接所述待测试PCIe设备的第一辅助电源接口。5.如权利要求4所述的自动化测试装置，其特征在于，所述供电单元还包括：第二开关单元；所述第二辅助电源接口和所述电源连接接口之间通过所述第二开关单元连接；所述微控制单元与所述第二开关单元的控制端连接，用于根据所述热插拔指令向所述第二开关单元输出控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵热闹，
申请(专利权)人：成都登临科技有限公司，
类型：新型
国别省市：