显示装置的检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术的目的在于提供一种显示装置的检查方法，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。该显示装置的检查方法包括使显示部的整个面以一定的周期交替地显示第1测试图案图像和第2测试图案图像，来检查有无缺陷像素的步骤，其中，该第1测试图案图像周期性地配置有以第1灰阶值显示的第1单位区域、和与第1单位区域相邻且以与第1灰阶值不同的第2灰阶值显示的第2单位区域，该第2测试图案图像以第2灰阶值显示第1单位区域且以第1灰阶值显示第2单位区域，第1单位区域和第2单位区域分别为1个像素。和第2单位区域分别为1个像素。和第2单位区域分别为1个像素。

【技术实现步骤摘要】
显示装置的检查方法


[0001]本专利技术的一个实施方式涉及显示装置的检查方法。具体而言，涉及包含检查缺陷像素的步骤的显示装置的检查方法。

技术介绍

[0002]作为显示装置的检查方法，公开了通过目视来判定伽马特性的方法(参照专利文献1)。该检查通过如下方式进行：在显示部中，将在一个方向上具有检查色的渐变图案的渐变区域和具有检查色和黑色的区域的抖动(检查图案)区域以相邻的方式配置，在一个方向的同一位置通过目视来比较渐变区域的亮度和抖动区域的亮度。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2016
‑
161612号公报。

技术实现思路

[0006]专利技术要解决的问题
[0007]缺陷像素包括坏点(黑点)缺陷和亮点缺陷。具体而言，坏点缺陷包括与影像信号无关地不点亮、或者灰阶相对于影像信号的灰阶显著变低的缺陷，亮点缺陷包括与影像信号无关地点亮、或者灰阶相对于影像信号的灰阶显著变高的缺陷。目视点亮检查是使显示部进行整面点亮，检查员通过目视来判定有无上述那样的缺陷像素而进行的。但是，如果像素的尺寸因高精细化而变小，则缺陷的尺寸也变小，所以难以判别缺陷像素。例如，坏点缺陷被包围坏点缺陷的周边像素的光掩埋，难以通过视觉来检测坏点缺陷。由于这样的理由，仅显示测试图案并通过目视来判别缺陷像素的有无的检查伴随着像素的高精细化而变得困难，识别缺陷像素的精度的降低、偏差成为问题。
[0008]鉴于这样的问题，本专利技术的一个实施方式的目的在于提供一种检查方法，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。
[0009]用于解决问题的技术手段
[0010]本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法包括使显示部的整个面以一定的周期交替地显示第1测试图案图像和第2测试图案图像，来检查有无缺陷像素的步骤，其中，所述第1测试图案图像周期性地配置有以第1灰阶值显示的第1单位区域、和与所述第1单位区域相邻且以与所述第1灰阶值不同的第2灰阶值显示的第2单位区域，所述第2测试图案图像以所述第2灰阶值显示所述第1单位区域且以所述第1灰阶值显示所述第2单位区域，所述第1单位区域和所述第2单位区域分别为1个像素。
[0011]根据本专利技术，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。
附图说明
[0012]图1是表示本专利技术的一个实施方式的显示装置的概略结构的图。
[0013]图2是表示显示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法中使用的第1测试图案图像时的像素的状态的图。
[0014]图3是表示显示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法中使用的第2测试图案图像时的像素的状态的图。
[0015]图4A表示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法的测试图案图像的显示方法。
[0016]图4B表示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法的测试图案图像的显示方法。
[0017]图5是表示本专利技术的一个实施方式的第1测试图案图像中包含缺陷像素时的显示状态的图。
[0018]图6是表示显示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第1测试图案图像时的像素的状态的图。
[0019]图7是表示显示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第2测试图案图像时的像素的状态的图。
[0020]图8是表示显示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第1测试图案图像时的像素的状态的图。
[0021]图9是表示显示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查方法所使用的第2测试图案图像时的像素的状态的图。
[0022]图10表示本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查系统。
[0023]附图标记说明
[0024]100：显示装置，102：显示面板，104：显示部，106：扫描线驱动电路，108：驱动器IC，110：端子部，112：柔性电路板，150：检查系统，152：控制电路，154：测试图案图像产生电路，156：显示装置驱动电路，158：摄像机，160：图像处理电路，162：存储装置，164：输入部，166：输出部，PX：像素，SPX：子像素，201A：第1测试图案图像，202A：第2测试图案图像。
具体实施方式
[0025]以下，参照附图等对本专利技术的实施方式进行说明。但是，本专利技术能够以多种不同的方式实施，并不限定于以下例示的实施方式的记载内容来解释。附图是为了使说明更明确，所以与实际的方式相比，存在示意地表示各部分的宽度厚度、形状等的情况，但这只不过是一个例子，并不是限定本专利技术的解释。另外，在本说明书和各图中，对于与关于已出现的图在前面叙述过的要素相同的要素，标注相同的附图标记(或者在数字之后标注了A、B等的附图标记)，有时适当省略详细的说明。进而，对各要素标注了“第1”、“第2”的文字是为了区别各要素而使用的方便的标识，只要没有特别的说明，则不具有其以上的意思。
[0026][第1实施方式][0027]参照附图详细说明本专利技术的一个实施方式的显示装置的检查缺陷像素的方法的详细情况。
[0028]图1表示显示装置100的概略结构。显示装置100包括显示面板102和向显示面板
102输出视频信号的驱动器IC108。显示面板102包括由多个像素PX构成的显示部104。多个像素PX按照规定的排列图案配置在显示部104中。驱动器IC108安装于柔性电路板112。柔性电路板112与显示面板102的端子部110连接。
[0029]在显示部104配设有未图示的扫描信号线、数据信号线。显示面板102可以包括扫描线驱动电路106。扫描线驱动电路106与扫描信号线连接。扫描信号线驱动电路106输出扫描信号。另外，驱动器IC108与数据信号线连接。驱动器IC108输出影像信号。配置于显示部104的多个像素PX由扫描信号选择，从数据信号线依次输入视频信号。
[0030]显示部104例如也可以是作为显示元件包括液晶显示元件的结构。另外，显示部104例如也可以是作为显示元件包括有机电致发光元件的结构。进而，显示部104例如也可以是作为显示元件包括微型LED或迷你LED的结构。显示部104例如也可以具有静电电容型的触摸传感器被一体化的、所谓的In
‑
cell型的结构。在显示部104内置静电电容型的触摸传感器而一体化例如包括兼用显示元件用的电极和配线等一部分部件以及触摸传感器用的电极和配线等一部分部件。显示部104例如也可以具有安装了静电电容型的触摸传感器的、所谓的On
‑
cell型的结构。
[0031]图1在插入图中表示显示部104中的区域D的放大图。像素PX包含多个子像素SPX。图1的插入图表示像素PX包含子像素SPXR、子像素SPXG和子像素SPXB的例子。这些多个子像素对应于各色，例如，子像素SPXR对应于红色，子像素SPXG对应于绿色，子像素SPXB对应于蓝色。像素P本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示装置的检查方法，其特征在于：包括使显示部的整个面以一定的周期交替地显示第1测试图案图像和第2测试图案图像，来检查有无缺陷像素的步骤，其中，所述第1测试图案图像周期性地配置有以第1灰阶值显示的第1单位区域、和与所述第1单位区域相邻且以与所述第1灰阶值不同的第2灰阶值显示的第2单位区域，所述第2测试图案图像以所述第2灰阶值显示所述第1单位区域且以所述第1灰阶值显示所述第2单位区域，所述第1单位区域和所述第2单位区域分别为1个像素。2.如权利要求1所述的显示装置的检查方法，其特征在于：所述一定的周期在0.2～0.8秒的范围内。3.如权利要求1所述的显示装置的检查方法，其特征在于：所述第1单位区域和所述第2单位区域分别由彼此相邻的多个像素构成。4.如权利要求1所述的显示装置的检查方法，其特征在于：所述第1灰阶值是表示白色的灰阶值，所述第2灰阶值是表示黑色的灰阶值。5.如权利要求1所述的显示装置的检查方法，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：田口求弓，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：