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一种用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针结构制造技术

技术编号:35546252 阅读:28 留言:0更新日期:2022-11-12 15:24
本专利所述的是一种用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针结构,可在免拆卸情况下,利用高压密封失效后的压力介质触发预警探针发生位移动作原理,检测判定多密封圈具体密封失效情况,属于流体高压密封技术领域。具体包括:探针本体、探针密封件、密封结构体上的探针安装孔、探针止挡螺母。当某道密封结构失效后,压力流体介质会进入微流体间隙通道,推动探针本体向外发生位移,原本和探针止挡螺母外端面平齐的探针小端面就会凸起来,从而让检验人员方便的判定各道次密封结构的失效情况。本发明专利技术优势在于:可在免拆卸情况下,利用失效后的压力介质触发预警探针,检测判定多密封圈具体密封失效情况。提高了高压设备运行安全性,避免多次拆卸造成设备损伤风险和检修维护成本。维护成本。维护成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针结构


[0001]本专利技术涉及一种可在免拆卸情况下,利用高压密封失效后的压力介质触发预警探针发生位移动作原理,检测判定多密封圈具体密封失效情况的探针结构,属于流体高压密封


技术介绍

[0002]目前,工程领域常往往都是基于多道次密封结构来提高压力密封的可靠性,利用多道密封圈或密封结构从高压区向低压区依次设置以获得更长久的密封使用时间。当首道密封结构失效后,其后的各道次密封结构仍可以起到可靠的密封功能。
[0003]但这种方案的缺点在于,在非拆卸情况下,维护人员并不能观察到每道次密封圈的实际使用效果,不能提前预知各道次密封结构的密封效果是否已经失效,本专利技术所提出一种可在免拆卸的情况下,检测判定多密封圈具体密封失效情况的探针结构。

技术实现思路

[0004]本专利所述的是一种:可在免拆卸情况下,利用高压密封失效后的压力介质触发预警探针发生位移动作原理,检测判定多密封圈具体密封失效情况的探针结构,属于流体高压密封
具体包括:探针本体、探针密封件、密封结构体上的探针安装孔、探针止挡螺母。
[0005]其中,探针安装孔本身从内到外由微流体间隙通道、微活塞腔室通道、螺纹孔三部分结构特征组成,微流体通道的开孔处位于两道次密封结构之间,和微活塞腔室通道相连,最外侧是螺纹孔。探针本体是一种小台阶轴,由探针和活塞体两部分特征组成,活塞体和密封结构体上的探针安装孔中部的微活塞腔室通道之间形成间隙配合关系,且带有密封圈沟槽,用于安装探针密封件。探针本体上的探针直径较小,和探针止挡螺母中间的开孔形成间隙配合关系。
[0006]使用时,先将探针密封件安装到探针本体活塞轴的密封圈沟槽上,再将带有密封件的探针本体安装进密封结构体上的探针安装孔内部,活塞体向内,探针向外。最后在螺纹孔上拧好探针止挡螺母。让探针小端面和探针止挡螺母外端面平齐。
[0007]当微流体间隙通道某侧的密封结构密封失效后,具有压力的流体介质会在压力作用下流进微流体间隙通道,此时,由于探针本体活塞轴上安装有密封圈,和探针安装孔中部的活塞孔形成径向密封。压力会推动探针本体向外发生位移,原本和探针止挡螺母外端面平齐的探针小端面就会凸起来,从而让检验人员方便的判定各道次密封结构的失效情况。
[0008]多道次压力密封特别是高压密封工况下,为防止密封失效造成突发性的高压泄漏造成安全、生产损伤,设备维护人员往往通过定期检修的方式去拆卸压力密封装置更换密封件。但用拆卸的方式去判断各密封结构的失效性效率极低、且耗时耗力,不但直接影响设备的正常使用,还会大大提高设备的维护成本。并且,每次拆卸安装过程都可能引入不必要
的损伤,降低设备的正常使用寿命,提高磨损风险。
[0009]本专利技术的优势在于:可在免拆卸情况下,利用高压密封失效后的压力介质触发预警探针发生位移动作原理,检测判定多密封圈具体密封失效情况。即提高了高压设备运行中的安全性,又避免了来回拆卸造成的设备损伤风险和检修维护成本。
附图说明:
[0010]图1为本专利技术用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有双密封圈密封结构上正常使用时的等轴测示意图。
[0011]图2为本专利技术用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有双密封圈密封结构上装配后的爆炸图。
[0012]图3为本专利技术用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有双密封圈密封结构上剖切示意图。
[0013]图4为为本专利技术用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在密封失效时触发动作后的示意图。
[0014]图5为本专利技术涉及的用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在在具有双密封圈密封结构上正常使用时的示意图,其中失效探针沿周向阵列分布。
[0015]图6为本专利技术涉及的用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有4 密封圈密封结构上正常使用时的示意图,其中各失效探针沿直线分布。
[0016]图7为本专利技术涉及的用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有4 密封圈密封结构上正常使用时的示意图,其中各失效探针沿轴向间隔分布、沿环向呈角度分布。
具体实施方式:
[0017]下面通过实施例并结合附图对本专利技术做进一步描述。
[0018]应用实施例1:
[0019]图1为本专利技术用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有双密封圈密封结构上正常使用时的等轴测示意图。图2为本专利技术用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有双密封圈密封结构上装配后的爆炸图。图3为本专利技术用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有双密封圈密封结构上剖切示意图。图4为为本专利技术用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在密封失效时触发动作后的示意图。
[0020]其中包括首道密封结构1,密封圈安装活塞2,二道密封结构3,密封结构体上的探针安装孔4,探针本体5,探针密封件6,探针止挡螺母7。使用时,先将6安装到5上,再将5和6一同安装进4的内部,5的活塞体向内,探针向外,最后在螺纹孔上拧好7。让5 的小端面和7外端面平齐。正常工况下,密封结构体腔内充满了高压介质,1首先和高压介质接触并逐步发生老化,当1的密封功能失效时,腔体内的高压介质会流到4内部,并作用在5的尾端和6上,推动5、6向外发生位移,原本和7外端面平齐的5的小端面就会凸出来,从而判定1已经发生密封失效。
[0021]应用实施例2:
[0022]图5为本专利技术涉及的用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在在具有双密封圈密封结构上正常使用时的示意图,其中失效探针沿周向阵列分布。
[0023]本应用实施例中预警探针的具体安装和工作方式和应用实施例1相同,表示可以在多道密封圈之间同时布置多个液压触发预警探针。
[0024]应用实施例3:
[0025]图6为本专利技术涉及的用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有4密封圈密封结构上正常使用时的示意图,其中各失效探针沿直线分布。
[0026]本应用实施例中预警探针的具体安装和工作方式和应用实施例1相同,表示可以在4 道密封圈之间沿着直线同时布置多个液压触发预警探针。
[0027]应用实施例4:
[0028]图7为本专利技术涉及的用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针在具有4密封圈密封结构上正常使用时的示意图,其中各失效探针沿轴向间隔分布、沿环向呈角度分布。
[0029]本应用实施例中预警探针的具体安装和工作方式和应用实施例1相同,表示可以在4 道密封圈之间沿着非直线同时布置多个液压触发预警探针,中各失效探针沿轴向间隔分布、沿环向呈角度分布。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针结构,其特征是:由探针本体、探针密封件、密封结构体上的探针安装孔、探针止挡螺母零件组成,探针安装孔本身从内到外由微流体间隙通道、微活塞腔室通道、螺纹孔三部分结构特征组成,微流体通道的开孔处位于两道次密封结构之间,和具有圆形截面的微活塞腔室通道相连,最外侧是螺纹孔,探针本体是一种小台阶轴,由探针和活塞体两部分特征组成,活塞体和密封结构体上的探针安装孔中部的微活塞腔室通道之间形成间隙配合关系,且带有密封圈沟槽,用于安装探针密封件,探针止挡螺母上开设有小孔,能和探针本体上的探针形成间隙配合。2.根据权利要求1所述的一种用于检测多密封圈高压密封失效的液压触发预警探针结构,其特征是安装在探针本体上的探针密封件可由氯丁橡胶、硅橡胶、聚氨酯橡...

【专利技术属性】
技术研发人员:李向斐杨博李彬
申请(专利权)人:杨博
类型:新型
国别省市:

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