一种能带中含狄拉克点的无对称性光子晶体及其构造方法技术

本发明专利技术公开一种在光子晶体的能带中构造狄拉克点的方法，基于光子晶体的能带调控，通过针对性地在光子晶体结构中插入电介质柱子，控制能带间的相对距离，进而实现在光子晶体固定位置上构造狄拉克点。这种能带中含有狄拉克点的光子晶体几乎没有空间对称性，大大拓展了光子晶体狄拉克点的适用场景和应用范围。光子晶体狄拉克点的适用场景和应用范围。光子晶体狄拉克点的适用场景和应用范围。

【技术实现步骤摘要】
一种能带中含狄拉克点的无对称性光子晶体及其构造方法


[0001]本专利技术属于光子晶体
，具体涉及能带中含狄拉克点的无对称性光子晶体及其构造方法。

技术介绍

[0002]光子晶体狄拉克点由于其拥有的线性色散关系而备受关注，这种线性的色散关系会带来许多奇异的特性，从基本的固定一个角度透射，其他角度全反射的特性，到赝扩散传输和震颤，以及狄拉克点的拓扑和边界态等传输特性。
[0003]现有的光子晶体狄拉克点多与光子晶体结构的空间对称性紧密相关，狄拉克点的产生是光子晶体空间反演对称性和时间反演对称性共同作用的结果，通过对称性保护实现狄拉克点就意味着对应的光子晶体结构需要有严密的空间对称性，这在很大程度上限制了光子晶体狄拉克点的应用范围和发展。同时，由于这些狄拉克点多是出现在光子晶体布里渊区的高对称线位置，如三角晶格光子晶体的K点和正方晶格光子晶体的对称线位置，这些由对称性确定的狄拉克点的位置也限制了狄拉克点应用的条件，例如在基本的固定角度透射，其他角度全部反射这个应用功能中，狄拉克点的位置就决定了可以选择的透射角度,狄拉克点与对称性高度关本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在光子晶体的能带中构造狄拉克点的方法，其特征在于，包括：S1、提供一种光子晶体；S2、在所述光子晶体中选择相邻的上下两支能带和预构造狄拉克点的位置；S3、比较两支能带在预构造狄拉克点位置处的本征态电场强度空间分布图，确定两张图中电场强度模值相差最大的光子晶体几何位置；S4、在所述光子晶体几何位置处插入电介质柱子，使能带整体向上或向下移动，且在移动的过程中上下两支能带相互靠近；S5、重复步骤S3～S4，使上下两支能带在预构造狄拉克点的位置处不断靠近，直至在该位置处简并，从而在所述光子晶体的能带中构造出狄拉克点。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光子晶体的结构不要求具有空间对称性。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S2中，选择相邻的上下两支能带在预构造狄拉克点的位置处为线性。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤S2中，选择相邻的上下两支能带在预构造狄拉克点的位置处的距离不超过预设值。5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤S2中，选择的相邻的上下两支能带在预构造狄拉克点的位置处的距离最短。6.如权利要求1所述的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：张阳，赖耘，褚宏晨，
申请(专利权)人：南京大学，
类型：发明
国别省市：