组合导航板卡的检测方法、装置、系统及相关设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种组合导航板卡的检测方法，方法包括：对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，得到样本降维数据；根据所述样本降维数据，训练得到分类超平面；根据目标组合导航板卡的目标数据与所述分类超平面对所述目标组合导航板卡进行分类检测，其中，所述目标数据与所述样本降维数据具有相同的维数。通过对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，降低了组合导航板卡的合格性判断涉及的检测项目，利用降维后的样本降维数据训练出的分类超平面，只需要用维数较低的目标数据即可对目标组合导航板卡进行检测，降低了组合导航板卡的合格性检测复杂度，提高了组合导航板卡的筛选效率。板卡的筛选效率。板卡的筛选效率。

【技术实现步骤摘要】
组合导航板卡的检测方法、装置、系统及相关设备


[0001]本专利技术涉及组合导航板卡的检测
，尤其涉及一种组合导航板卡的检测方法、装置、系统及相关设备。

技术介绍

[0002]组合导航是指综合各种导航设备，由监视器和计算机进行控制的导航系统。INS/GNSS组合导航系统是指基于GPS卫星导航系统和惯性导航系统的组合导航系统。组合导航板卡主要是指实现组合导航功能的集成电路，其生产工艺复杂，生产过程中易出现有缺陷的组合导航板卡。对于组合导航板卡的合格性判断，往往涉及的要素众多，无法从众多要素中挑选出合适的要素作为组合导航板卡是否合格的判断标准。具体来说，在实际生产过程中，由于制作工艺等因素，组合导航板卡生产会出现一定的不良率，对于组合导航板卡的检测往往通过人工设置若干阈值的方式进行检测，但是所生产组合导航板卡的合格性判断涉及的检测项目非常多，很难定量的进行组合导航板卡筛选。因此，现有的组合导航板卡由于合格性判断涉及的检测项目非常多，导致组合导航板卡的合格性检测复杂，使得组合导航板卡筛选存在效率不高的问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供一种组合导航板卡的检测方法，旨在解决现有的组合导航板卡由于合格性判断涉及的检测项目非常多，导致组合导航板卡的合格性检测复杂，使得组合导航板卡筛选效率不高的问题，通过对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，降低了组合导航板卡的合格性判断涉及的检测项目，利用降维后的样本降维数据训练出的分类超平面，只需要用维数较低的目标数据即可对目标组合导航板卡进行检测，降低了组合导航板卡的合格性检测复杂度，提高了组合导航板卡的筛选效率。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供一种组合导航板卡的检测方法，包括以下步骤：
[0005]对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，得到样本降维数据；
[0006]根据所述样本降维数据，训练得到分类超平面；
[0007]根据目标组合导航板卡的目标数据与所述分类超平面对所述目标组合导航板卡进行分类检测，其中，所述目标数据与所述样本降维数据具有相同的维数。
[0008]可选的，所述对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，得到样本降维数据的步骤包括：
[0009]对第一数量个所述样本组合导航板卡进行性能试验，得到所述样本组合导航板卡的第二数量个性能指标数据；
[0010]通过第一数量个所述样本组合导航板卡对应的第二数量个所述性能指标数据，得到第一数量个所述样本组合导航板卡对应的试验数据；
[0011]对第一数量个所述样本组合导航板卡对应的试验数据进行降维处理，得到所述样本降维数据，所述样本降维数据包括第三数量个所述性能指标数据，所述第三数量小于所
述第二数量。
[0012]可选的，所述对第一数量个所述样本组合导航板卡对应的试验数据进行降维处理，得到所述样本降维数据，所述样本降维数据包括第三数量个所述性能指标数据的步骤包括：
[0013]将第一数量个所述样本组合导航板卡对应的第二数量个所述性能指标数据构建成第一矩阵，所述第一矩阵包括第一数量个所述样本组合导航板卡以及第二数量个所述性能指标数据；
[0014]计算所述第一矩阵的协方差矩阵，并根据所述协方差矩阵进行降维处理，得到第二矩阵；
[0015]基于所述第一矩阵和所述第二矩阵，得到所述样本降维数据。
[0016]可选的，所述计算所述第一矩阵的协方差矩阵，并根据所述协方差矩阵进行降维处理，得到第二矩阵的步骤包括：
[0017]计算所述第一矩阵的协方差矩阵；
[0018]计算所述协方差矩阵的特征值以及所述特征值对应的特征向量；
[0019]根据所述特征值最大的第三数量个所述特征向量得到所述第二矩阵。
[0020]可选的，所述基于所述第一矩阵和所述第二矩阵，得到所述样本降维数据的步骤包括：
[0021]将所述第一矩阵与所述第二矩阵进行相乘，得到第三矩阵；
[0022]根据所述第三矩阵，确定所述样本降维数据。
[0023]可选的，所述根据所述样本降维数据，计算得到分类超平面的步骤包括：
[0024]计算所述样本降维数据到超平面的距离；
[0025]以最大化所述样本降维数据到超平面的距离为目标，训练得到分类超平面。
[0026]可选的，所述根据目标组合导航板卡的目标数据与所述分类超平面对所述目标组合导航板卡进行分类检测的步骤包括：
[0027]计算目标组合导航板卡的目标数据与所述分类超平面的位置关系；
[0028]根据所述位置关系确定所述目标组合导航板卡的类型检测结果，所述类型检测结果包括合格和有缺陷。
[0029]第二方面，本专利技术实施例提供一种组合导航板卡的检测装置，包括：
[0030]数据处理模块，用于对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，得到样本降维数据；
[0031]计算模块，用于根据所述样本降维数据，计算得到分类超平面；
[0032]分类检测模型，用于根据目标组合导航板卡的目标数据与所述分类超平面对所述目标组合导航板卡进行分类检测，其中，所述目标数据与所述样本降维数据具有相同的维数。
[0033]第三方面，本专利技术实施例提供一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现本专利技术实施例提供的组合导航板卡的检测方法中的步骤。
[0034]第四方面，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现专利技术实施例提供的组合导航板卡的检
测方法中的步骤。
[0035]本专利技术实施例中，对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，得到样本降维数据；根据所述样本降维数据，训练得到分类超平面；根据目标组合导航板卡的目标数据与所述分类超平面对所述目标组合导航板卡进行分类检测，其中，所述目标数据与所述样本降维数据具有相同的维数。通过对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，降低了组合导航板卡的合格性判断涉及的检测项目，利用降维后的样本降维数据训练出的分类超平面，只需要用维数较低的目标数据即可对目标组合导航板卡进行检测，降低了组合导航板卡的合格性检测复杂度，提高了组合导航板卡的筛选效率。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1是本专利技术实施例提供的一种组合导航板卡的检测方法的流程图；
[0038]图2是本专利技术实施例提供的一种组合导航板卡的检测装置的结构图；
[0039]图3是本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0040]下面将结合本专利技术实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种组合导航板卡的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，得到样本降维数据；根据所述样本降维数据，训练得到分类超平面；根据目标组合导航板卡的目标数据与所述分类超平面对所述目标组合导航板卡进行分类检测，其中，所述目标数据与所述样本降维数据具有相同的维数。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对样本组合导航板卡的试验数据进行降维处理，得到样本降维数据的步骤包括：对第一数量个所述样本组合导航板卡进行性能试验，得到所述样本组合导航板卡的第二数量个性能指标数据；通过第一数量个所述样本组合导航板卡对应的第二数量个所述性能指标数据，得到第一数量个所述样本组合导航板卡对应的试验数据；对第一数量个所述样本组合导航板卡对应的试验数据进行降维处理，得到所述样本降维数据，所述样本降维数据包括第三数量个所述性能指标数据，所述第三数量小于所述第二数量。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对第一数量个所述样本组合导航板卡对应的试验数据进行降维处理，得到所述样本降维数据，所述样本降维数据包括第三数量个所述性能指标数据的步骤包括：将第一数量个所述样本组合导航板卡对应的第二数量个所述性能指标数据构建成第一矩阵，所述第一矩阵包括第一数量个所述样本组合导航板卡以及第二数量个所述性能指标数据；计算所述第一矩阵的协方差矩阵，并根据所述协方差矩阵进行降维处理，得到第二矩阵；基于所述第一矩阵和所述第二矩阵，得到所述样本降维数据。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述计算所述第一矩阵的协方差矩阵，并根据所述协方差矩阵进行降维处理，得到第二矩阵的步骤包括：计算所述第一矩阵的协方差矩阵；计算所述协方差矩阵的特征值以及所述特征值对应的特征向量；根据所...

【专利技术属性】
技术研发人员：向为，陈济洲，楚翔超，郑彬，王东会，
申请(专利权)人：湖南北云科技有限公司，
类型：发明
国别省市：