X光断层融合成像的校正方法、装置及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:35514044 阅读:45 留言:0更新日期:2022-11-09 14:30
一种X光断层融合成像的校正方法、装置及可读存储介质,其中获得设置有多个标记物的校正模体的不同第一投影角度的多个第一投影图像,根据各标记物的空间位置以及各标记物在第一投影图像中的投影位置,得到X射线源焦点的轨迹参数方程,获得目标物体的不同第二投影角度的多个第二投影图像,并根据X射线源焦点的轨迹参数方程,得到任意第二投影角度的X射线源焦点的空间位置,根据任意第二投影角度的X射线源焦点的空间位置,得到目标物体的空间位置与目标物体在第二投影图像中的投影位置的映射关系。上述X光断层融合成像的校正方法、装置及可读存储介质可降低校正的局限性以及提高校正精度。高校正精度。高校正精度。

【技术实现步骤摘要】
X光断层融合成像的校正方法、装置及可读存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及图像处理
,尤其涉及一种X光断层融合成像的校正方法、装置及可读存储介质。

技术介绍

[0002]断层融合成像(DTS)技术是一种三维成像技术,X光断层融合成像系统的X射线源对被拍摄物进行曝光,平板探测器接收到投影图像,根据曝光处X射线源焦点和探测器的相对位置,对投影图像进行重建。由于在生产加工、运输、使用等过程中一些不可避免的因素下,X射线源焦点与平板探测器的相对位置的实际值与设计值之间产生一定误差,这种误差会导致重建图像模糊、分辨率下降。
[0003]现有技术方案中,通过在特定位置对校正模体成像、分析,然后获取到当前位置系统投影矩阵P,从而实现X射线源焦点与平板探测器之间的位置几何校正,用于断层重建,但是该方法要求系统对目标物体成像时X射线源焦点相对于平板探测器的位置,与对校正模体成像时X射线源焦点相对于平板探测器的位置重合,因此在对进行校正时具有一定局限性。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种X光断层融合成像的校正方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X光断层融合成像的校正方法,其特征在于,包括:获得设置有多个标记物的校正模体的不同第一投影角度的多个第一投影图像;根据各所述标记物的空间位置以及各所述标记物在所述第一投影图像中的投影位置,得到X射线源焦点的轨迹参数方程;获得目标物体的不同第二投影角度的多个第二投影图像,并根据所述X射线源焦点的轨迹参数方程,得到任意所述第二投影角度的所述X射线源焦点的空间位置;根据任意所述第二投影角度的X射线源焦点的空间位置,得到所述目标物体的空间位置与所述目标物体在所述第二投影图像中的投影位置的映射关系。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各所述标记物的空间位置以及各所述标记物在所述第一投影图像中的投影位置,得到所述X射线源焦点的轨迹参数方程包括:根据各所述标记物的空间位置以及各所述标记物在所述第一投影图像中的投影位置,得到不同所述第一投影角度对应的X射线源焦点的空间位置;根据各所述X射线源焦点的空间位置,得到所述X射线源焦点的轨迹参数方程。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据各所述标记物的空间位置以及各所述标记物在所述第一投影图像中的投影位置,得到不同所述第一投影角度对应的X射线源焦点的空间位置包括:在所述第一投影图像中识别出标记物的投影,并计算所述标记物的投影的中心坐标;根据所述标记物的质心坐标和所述标记物的投影的中心坐标之间的映射关系,得到所述X射线源焦点的空间位置。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述标记物的质心坐标和所述标记物的投影的中心坐标之间的映射关系,得到所述X射线源焦点的空间位置包括:根据多个标记物的质心坐标和所述标记物的投影的中心坐标,计算得到多个所述X射线源焦点的高度,并将所述多个所述X射线源的焦点的高度的平均值作为所述X射线源焦点的z坐标;根据所述z坐标,以及多个所述标记物的质心坐标和多个所述标记物的投影的中心坐标,计算所述X射线源焦点的多个x坐标和y坐标,并将所述多个所述x坐标和y坐标的平均值作为所述X射线源焦点的x坐标和y坐标。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据各所述X射线源焦点的空间位置,得到所述X射线源焦点的...

【专利技术属性】
技术研发人员:李国熊张尤峰胡长平
申请(专利权)人:深圳市安健科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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