X射线断层扫描系统和方法技术方案

数字断层合成(DT)是一种有限角度断层扫描，可提供3D成像的优势。与计算机断层扫描(CT)非常相似，DT允许通过一次查看一个切片来更好地检测3D结构。高平面内分辨率、三维度和低辐射剂量使DT在许多医学成像应用中成为CT的有吸引力替代品。与CT相比，DT投影数据集是不完整的，这违反了断层扫描充分性条件，并导致重建图像中的角度伪影有限。尽管DT是一种体积成像技术并提供了有关对象内部结构的信息，但无法重建有关对象的整个3D信息。因此，其中一个重要问题是提高断层合成图像质量。通常希望减小间隔距离(SID或SOD)。如果尝试使用现有的已知方法来做到这一点，则会引入大的失真，从而导致路径长度(以及衰减)的偏移，这可能会带来问题。本发明专利技术提供了一种产生断层照片的方法，其中、沿着X射线探测器面板20上的线来进行重建，其中该线由探测器面板20上最靠近X射线发射器10的点位置上的点来定义，至X射线探测器面板20的周边上的相应像素的位置。通过这种方式，实现伪影的减少，特别实现在较高的锥束角和较低的间隔距离下的伪影的减少。角和较低的间隔距离下的伪影的减少。角和较低的间隔距离下的伪影的减少。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】X射线断层扫描系统和方法
[0001]本专利技术总体上涉及数字断层扫描，并且发现在X射线断层扫描中特别有用，但是这并不是唯一的用途。
[0002]数字断层合成(DT)是一种有限角度断层扫描，可提供3D成像的优势。与计算机断层扫描(CT)非常相似，DT允许通过一次查看一个切片来更好地检测3D结构。高平面分辨率、三维度和低辐射剂量使DT在许多医学成像应用中成为CT的有吸引力替代品。
[0003]与CT相比，DT投影数据集是不完整的，这违反了断层扫描充分性条件，并导致重建图像中的角度伪影有限。尽管DT是一种体积成像技术并提供了有关对象内部结构的信息，但无法重建有关对象的整个3D信息。因此，其中一个重要问题是提高断层合成图像质量。
[0004]根据X射线源在数据采集期间相对于探测器的位置如何移动，存在不同的DT扫描几何结构。这些不同的DT扫描几何结构包括：线性DT，其中源和探测器都在相对相反的方向上平行于焦平面移动；部分等中心扫描DT，其中探测器停留在一个平面上，而源围绕等中心旋转；和圆形DT，其中源围绕穿过对象的固定轴旋转，而探测器旋转或固定。所有这些扫描几何本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种产生X射线断层照片的方法，该方法包括以下步骤：提供包括多个像素的X射线探测器面板；提供与所述X射线探测器面板隔开的X射线发射器；从所述发射器向所述探测器面板发射X射线辐射锥；响应于撞击所述探测器面板的所述X射线辐射锥，在所述探测器面板处产生衰减图像；以及通过针对延伸穿过所述X射线探测器面板的多条直线中的每一条直线应用拉东变换反演公式来重构指示X射线辐射衰减的密度函数，其中所述多条线包括每条唯一的直线，其定义为：所述探测器面板上最靠近所述X射线发射器的点位置的点的原点位置；和所述多个像素的每个相应像素在所述多个像素的周边上的像素位置。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述重建步骤包括对每个像素的衰减图像进行射线追踪。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述重建步骤包括评估所述等式：其中f(r)是表示所述X射线辐射衰减的密度函数。r是所述发射器和所述探测器面板之间的点的位置向量；s是r方向上的单位向量；L是所述X射线发射器的点位置与所述探测器面板上最靠近所述X射线发射器...

【专利技术属性】
技术研发人员：瓦迪姆，
申请(专利权)人：昂达博思有限公司，
类型：发明
国别省市：