基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质技术方案

技术编号:35455546 阅读:14 留言:0更新日期:2022-11-03 12:12
本发明专利技术公开了基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质,该方法包括:基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置;当存在剖切位置时,根据所述剖切位置生成第二基础详图;将所述第一基础详图和第二基础详图,分别进行单个基础详图检查,获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2;对比SP1、SP2,得到基础轮廓之间的差异;对比SC1、SC2,得到垫层轮廓之间的差异。该方法有助于在基础详图设计修改完毕后,基于BIM平台,实现校审,可指出基础详图中垫层、轮廓的变更信息,有效的避免了基础剖断面与相应基础详图的不一致性,提高校审人员的工作效率。提高校审人员的工作效率。提高校审人员的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质


[0001]本专利技术属于BIM应用
,涉及应用于建筑工程结构施工图智能设计,特别涉及一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质。

技术介绍

[0002]BIM(Building Information Modeling)具有三维可视化,协调性,模拟性,优化性和可出图性等特点,BIM中的所有结构构件都是三维实体,提供的信息量完整,且三维显示直观并可实时观察,BIM的全面应用将大大提高建筑工程的信息化程度,对建筑业科技进步产生巨大影响。
[0003]当前基础复杂节点区域的剖面大样配筋图的校审工作仍依赖人工核检,这种校审方法需要校审人员对大样详图和平面上的大样剖断位置仅仅一一比对,工作量大且繁琐,效率比较低,出错率高,因此有必要基于BIM技术,利用BIM模型中完备的信息,对大样图和相应的剖断位置进行自动核查,提升基础大样详图校审的工作效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法、系统及介质,该方法充分利用BIM结构模型信息,自动完成基础大样详图的校审工作,以力图解决或有效缓解上面提到的问题。
[0005]为实现上述目的,本专利技术采取的技术方案为:
[0006]第一方面,本专利技术提供一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法,包括:
[0007]基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1;
[0008]当存在剖切位置P1时,根据所述剖切位置P1生成第二基础详图;
[0009]将所述第一基础详图和第二基础详图,分别进行单个基础详图检查,获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2;
[0010]对比所述基础轮廓点集SP1、SP2,得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异;
[0011]对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2,得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。
[0012]进一步地,所述单个基础详图检查的步骤包括:
[0013]S101、从基础详图中提取所有剖断线图元,构成剖断线图元集合;提取所有多义线图元,构成多义线图元集合;
[0014]S102、遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元,判断其所属类别;所述类别包括:水平剖断线和竖直剖断线;根据所述剖断线图元的所属类别,对所述多义线图元集合进行处理,形成封闭的多义线集合;
[0015]S103、选择所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值,得到垫层的边界点;根据所述垫层的两个边界点,搜索出垫层轮廓线,组合轮廓线的两端点得到有序的垫层轮廓点
集;
[0016]S104、移除所述垫层轮廓线的多义线集合,形成基础轮廓线集合,组合轮廓线的两个端点得到有序的基础轮廓点集。
[0017]进一步地,还包括:
[0018]当不存在所述剖切位置P1时,发出无剖切位置的警告信息。
[0019]进一步地,所述S102步骤中,遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元,判断其所属类别,包括:
[0020]遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元;
[0021]根据所述剖断线图元的两个控制点的连线与水平线夹角进行判断其类别;当夹角为0时,则所述剖断线图元为水平剖断线;当夹角为90
°
时,则所述剖断线图元为竖直剖断线。
[0022]进一步地,所述S102步骤中,根据所述剖断线图元的所属类别,对所述多义线图元集合进行处理,形成封闭的多义线集合;包括:
[0023]根据所述剖断线图元为水平剖断线时,确定其与所述多义线集合的两个交点Pt1、Pt2和交线L1、L2;
[0024]将所述交线L1、L2从所述多义线集合中删除;
[0025]添加L1、L2与其余线共享的端点直接的连线到所述多义线集合中,形成封闭的多义线集合。
[0026]进一步地,所述S102步骤中,根据所述剖断线图元的所属类别,对所述多义线图元集合进行处理,形成封闭的多义线集合;还包括:
[0027]根据所述剖断线图元为竖直剖断线时,确定其与所述多义线集合的所有交点,排序序后依次连线,并添加入所述多义线集合中,形成封闭的多义线集合。
[0028]进一步地,所述S102步骤中,根据所述剖断线图元的所属类别,对所述多义线图元集合进行处理,形成封闭的多义线集合;还包括:
[0029]当所述剖断线图元确定其与所述多义线集合,均不存在交点时,则所述基础详图为非法,并发出所述剖断线图元与基础轮廓不相交的提示信息。
[0030]进一步地,所述S103步骤包括:
[0031]S1031、提取处理完毕的多义线集合中所有线的两个端点,得到所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值;
[0032]S1032、遍历多义线,分别找出端点坐标值为最大或最小的集合Plines;
[0033]S1033、对所述集合Plines进行分析,所述集合Plines的元素均包括3条线段;该3条线段相互平行或者其中两条相互平行、两条相互垂直;
[0034]S1034、对所述3条线段的Y坐标进行排序,取最低的点,且X坐标为最大或最小作为垫层搜寻点;
[0035]S1035、以垫层搜寻点的其中一点为起始位置点、另一点为终止点;从所述多义线集合中搜索包含起始位置点的线L,将该线L的另一个端点作为新的搜索点,重复执行搜索,直到搜寻点与所述终止点重合;所有线L的端点的组合,形成垫层轮廓点集。
[0036]第二方面,本专利技术实施例还提供一种基于BIM的基础大样详图的自动校审系统,包括:
[0037]搜寻模块,基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1;
[0038]生成模块,用于当存在剖切位置P1时,根据所述剖切位置P1生成第二基础详图;
[0039]检查模块,用于将所述第一基础详图和第二基础详图,分别进行单个基础详图检查,获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2;
[0040]对比模块,用于对比所述基础轮廓点集SP1、SP2,得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异;对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2,得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。
[0041]第三方面,本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质,当所述存储介质中的指令由处理器执行时,能够实现如上述实施例中任一项所述的基于BIM的基础大样详图的自动校审方法。
[0042]与现有技术相比,本专利技术具有如下有益效果:
[0043]一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法,包括:基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1;当存在剖切位置P1时,根据所述剖切位置P1生成第二基础详图;将所述第一基础详图和第二基础详图,分别进行单个基础详图检查,获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法,其特征在于,包括:基于BIM平台搜寻待校审第一基础详图的剖切位置P1;当存在剖切位置P1时,根据所述剖切位置P1生成第二基础详图;将所述第一基础详图和第二基础详图,分别进行单个基础详图检查,获得各自对应的基础轮廓点集SP1、SP2和垫层轮廓点集SC1、SC2;对比所述基础轮廓点集SP1、SP2,得到所述第一基础详图和第二基础详图的基础轮廓之间的差异;对比所述垫层轮廓点集SC1、SC2,得到所述第一基础详图和第二基础详图的垫层轮廓之间的差异。2.根据权利要求1所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法,其特征在于,所述单个基础详图检查的步骤包括:S101、从基础详图中提取所有剖断线图元,构成剖断线图元集合;提取所有多义线图元,构成多义线图元集合;S102、遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元,判断其所属类别;所述类别包括:水平剖断线和竖直剖断线;根据所述剖断线图元的所属类别,对所述多义线图元集合进行处理,形成封闭的多义线集合;S103、选择所述多义线集合中X坐标的最大值和最小值,得到垫层的边界点;根据所述垫层的两个边界点,搜索出垫层轮廓线,组合轮廓线的两端点得到有序的垫层轮廓点集;S104、移除所述垫层轮廓线的多义线集合,形成基础轮廓线集合,组合轮廓线的两个端点得到有序的基础轮廓点集。3.根据权利要求1所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法,其特征在于,还包括:当不存在所述剖切位置P1时,发出无剖切位置的警告信息。4.根据权利要求2所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法,其特征在于,所述S102步骤中,遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元,判断其所属类别,包括:遍历所述剖断线图元集合中的所有剖断线图元;根据所述剖断线图元的两个控制点的连线与水平线夹角进行判断其类别;当夹角为0时,则所述剖断线图元为水平剖断线;当夹角为90
°
时,则所述剖断线图元为竖直剖断线。5.根据权利要求4所述的一种基于BIM的基础大样详图的自动校审方法,其特征在于,所述S102步骤中,根据所述剖断线图元的所属类别,对所述多义线图元集合进行处理,形成封闭的多义线集合;包括:根据所述剖断线图元为水平剖断线时,确定其与所述多义线集合的两个交点Pt1、Pt2和交线L1、L2;将所述交线L1、L2从所述多义线集合中删除;添加L1、L2与其余线共享的端点直接的连线到所述多义线集合中,形成封闭的多义线集合。6.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨金旺饶明航方长建谢伟王逸凡赖逸峰白蜀珺周盟黄扬方超
申请(专利权)人:中国建筑西南设计研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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