一种紧缩场测试系统技术方案

一种紧缩场测试系统，涉及无线测试领域，包括屏蔽腔体、测试天线和反射面部件，屏蔽腔体用于提供紧缩场测试环境；测试天线设置于屏蔽腔体内，用于发射信号和/或接收信号；反射面部件用于将测试天线所发射的测试信号转换成均匀信号并反射至无线设备来接收；和/或用于将被测无线设备所发射的测试信号反射并聚焦至测试天线来接收；反射面部件以第一方式设置于屏蔽腔体的第一位置，以使得均匀信号以第一倾斜角度反射，第一倾斜角度与竖直面的角度大于0度且小于90度。本申请在被限制空间距离的紧缩场测试系统中，保证了被测无线设备尽可能大的测试距离，提高了被测无线设备的无线性能的测试精度。的测试精度。的测试精度。

【技术实现步骤摘要】
一种紧缩场测试系统


[0001]本专利技术涉及无线测试领域，具体涉及一种紧缩场测试系统。

技术介绍

[0002]无线通信设备在进入市场之前，其无线性能必须经过严格的研发和生产测试，其中测试速度和测试精度是无线测试过程中必须要考虑的重要指标。
[0003]在测试无线通信设备的无线性能时，无线设备需要放置在吸波暗室中，以模拟无反射的电磁环境。在现有的测试系统中，根据电磁波的传播特征及探头数目的多少可以分为多种不同的测试方式：远场及近场系统、单探头及多探头测试系统、无反射暗室及混响室测试系统和紧缩场测试系统等，针对不同的被测设备及测试频段可适当采用不同大小、不同方法的测试系统。
[0004]紧缩场测试系统是基于物理空间电磁波形变换原理，通过反射面或介质凸透镜将测试天线发射的球面波在低于远场距离的空间内变换为平面波，从而满足远场测试对于相位及幅度平整度的要求。但是在紧凑的紧缩场测试系统中，测试系统的测试距离是受限的，从而会导致被测无线设备的无线性能的测试精度降低。

技术实现思路

[0005]本专利技术主要解决的技术问题是：在紧凑的紧缩场测试系统中，由于测试距离受限造成被测无线设备的无线性能的测试精度不高。
[0006]根据第一方面，一种实施例中提供一种紧缩场测试系统，包括：
[0007]屏蔽腔体，用于提供紧缩场测试环境；
[0008]测试天线，设置于所述屏蔽腔体内，用于发射信号，和/或，接收信号；
[0009]反射面部件，用于将所述测试天线所发射的测试信号转换成均匀信号并反射至无线设备来接收；和/或，用于将所述被测无线设备所发射的测试信号反射并聚焦至所述测试天线来接收；所述反射面部件以第一方式设置于所述屏蔽腔体的第一位置，以使得所述均匀信号以第一倾斜角度反射，所述第一倾斜角度与竖直面的角度大于0度且小于90度。
[0010]一实施例中，所述第一方式为：所述反射面部件在其反射面以呈现预设的倾斜角度的方式被设置。
[0011]一实施例中，所述屏蔽腔体包括顶部和侧部，所述第一位置为所述屏蔽腔体的顶部和侧部的交汇处。
[0012]一实施例中，所述屏蔽腔体为立方体，所述第一位置为所述屏蔽腔体的一个顶角处。
[0013]一实施例中，所述预设的倾斜角度使得所述反射面部件的反射面正对着所述屏蔽腔体的所述一个顶角处相对应的底角。
[0014]一实施例中，还包括所述承载台，所述承载台包括承载部，所述承载部用于承载所述被测无线设备，所述承载部以一预设角度设置。
[0015]一实施例中，所述屏蔽腔体为立方体，所述第一位置为所述屏蔽腔体的一个顶角处，所述承载台设置于所述屏蔽腔体的一个顶角处相对应的一个底角处。
[0016]一实施例中，所述承载台还包括移动机构，所述移动机构能够移动所述承载部，以带动位于所述承载部的被测无线设备移动。
[0017]一实施例中，所述承载台还包括转动机构，所述转动机构能够转动所述承载部，以调整所述承载部的角度从而调整位于所述承载部的被测无线设备的测试角度；所述转动机构包括第一转动机构和/或第二转动机构，所述第一转动机构用于在第一方向上转动所述承载部，所述第二转动机构用于在第二方向上转动所述承载部。
[0018]一实施例中，所述测试天线设置于所述屏蔽腔体内一预设位置，使得所述测试天线避开所述反射面部件与所述承载台之间的信号传输路径。
[0019]根据上述实施例的一种紧缩场测试系统，将反射面按照第一方式设置在屏蔽腔体的第一位置，以保证被反射面转换的均匀信号的传输路径为倾斜的，从而在被限制空间距离的紧缩场测试系统中，实现尽可能大的测试距离，进而提高了被测无线设备的无线性能的测试精度。
附图说明
[0020]图1为现有技术的紧缩场测试系统示意图；
[0021]图2为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图一；
[0022]图3为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图二；
[0023]图4为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图三；
[0024]图5为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图四；
[0025]图6为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图五；
[0026]图7为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图六；
[0027]图8为一种实施例中承载台示意图；
[0028]图9为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图七；
[0029]图10为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图八；
[0030]图11为一种实施例中的坐标系示意图；
[0031]图12为一种实施例中的紧缩场测试系统示意图九；
[0032]图13为现有技术的紧缩场测试系统信号传输方向示意图；
[0033]图14为一种实施例中的紧缩场测试系统信号传输方向示意图。
具体实施方式
[0034]下面通过具体实施方式结合附图对本专利技术作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。
[0035]另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。
[0036]本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。
[0037]在无线测试中，基于测试精度和远场条件的要求等考虑，通常追求较大的测试距离，较大的测试距离可以得到更高的测试精度或者可以测量更大的无线通信设备。但是，基于成本考虑通常会追求较为紧凑的测试系统，更小的测试系统造价更低，同时能够在更小的场地空间中安装使用。
[0038]紧缩场测试系统通过反射面部件将测试天线发出的球面波转化成平面波，以达到等效远场环境的效果。本专利技术至少部分基于以下发现：
[0039]紧缩场测试系统的静区质量和测试距离有着很大的相关性：首先测试天线不能距离反射面太近，即反射面部件中的反射面的焦距不能太小，否则反射面倾斜严重，不对称性较大，可能导致静区性能下降；其次，静区位置不能距离反射面太近，一方面，如果距离过近，反射面边缘的无规则散射信号容易进入静区，形成干扰；另一方面，如果距离过近，由于测试天线的散射或测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种紧缩场测试系统,其特征在于，包括：屏蔽腔体，用于提供紧缩场测试环境；测试天线，设置于所述屏蔽腔体内，用于发射信号，和/或，接收信号；反射面部件，用于将所述测试天线所发射的测试信号转换成均匀信号并反射至被测无线设备来接收；和/或，用于将所述被测无线设备所发射的测试信号反射并聚焦至所述测试天线来接收；所述反射面部件以第一方式设置于所述屏蔽腔体的第一位置，以使得所述均匀信号以第一倾斜角度反射，所述第一倾斜角度与竖直面的角度大于0度且小于90度。2.如权利要求1所述的紧缩场测试系统，其特征在于，所述第一方式为：所述反射面部件在其反射面以呈现预设的倾斜角度的方式被设置。3.如权利要求1或2所述的紧缩场测试系统，其特征在于，所述屏蔽腔体包括顶部和侧部，所述第一位置为所述屏蔽腔体的顶部和侧部的交汇处。4.如权利要求1或2所述的紧缩场测试系统，其特征在于，所述屏蔽腔体为立方体，所述第一位置为所述屏蔽腔体的一个顶角处。5.如权利要求4所述的紧缩场测试系统，其特征在于，所述预设的倾斜角度使得所述反射面部件的反射面正对着所述屏蔽腔体的所述一个顶角处相对应的底角。6....

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊，董晓鹏，刘列，于伟，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：发明
国别省市：