本实用新型专利技术公开了用于小孔径的内孔测量装置，包括：测头，所述测头的一端连接有直径和长度之间等比例设置的圆锥部；顶杆，所述顶杆的一端与所述测头远离所述圆锥部的一端抵接；外壳，所述外壳套设于所述顶杆和所述测头外部，所述外壳具有开设有能使所述圆锥部穿过的通孔；位移数显指示表，所述位移数显指示表的位移测量头与所述顶杆远离所述测头的一端抵接。本实用新型专利技术圆锥部测量伸入内孔中，并将圆锥部的位移量传输至位移测量头，使得所述数显表可以将内孔径进行显示，整个测量装置仅需将圆锥部伸入内孔中，且通过位移量的传递在内孔之外进行读数，从而可以实现测量孔径很小的内径的效果。径的效果。径的效果。
【技术实现步骤摘要】
用于小孔径的内孔测量装置
[0001]本技术涉及了孔径测量领域，具体的是一种用于小孔径的内孔测量装置。
技术介绍
[0002]在实际生产中，常需要对内孔的孔径进行测量。目前孔径的测量方法一般用卡尺内量爪，内径量表，内径千分尺，精密塞规等。这些量具是通过内部结构部件的直线移动，指示位移量。上述结构在进行测量时，均需要一定的空间来进行安装或操作，当内径较小时，上述结构由于无法置入或安装在孔径内，会出现无法测量很小的孔径的问题。
技术实现思路
[0003]为了克服现有技术中的缺陷，本技术实施例提供了一种用于小孔径的内孔测量装置，其用于解决上述会出现无法测量很小的孔径的问题。
[0004]本申请实施例公开了：一种用于小孔径的内孔测量装置，包括：测头，所述测头的一端连接有直径和长度之间等比例设置的圆锥部，所述圆锥部自临近所述测头的位置向着远离所述测头的方向延伸且半径逐渐减小；顶杆，所述顶杆的一端与所述测头远离所述圆锥部的一端抵接；外壳，所述外壳套设于所述顶杆和所述测头外部，所述外壳具有开设有能使所述圆锥部穿过的通孔；位移数显指示表，所述位移数显指示表的位移测量头与所述顶杆远离所述测头的一端抵接，所述位移数显指示表的数显表等比例显示其位移测量头的位移量，所述数显表的示数与位移测量头位移量的比例与所述圆锥部直径和长度之间的比例相同，所述圆锥部均位于所述外壳内部时所述数显表显示初始刻度值。
[0005]进一步地，所述外壳包括固定连接的第一壳体和第二壳体；所述第一壳体套设在所述测头外部，所述第二壳体的内径与所述顶测头的外径相同，所述第二壳体的长度大于所述测头的长度，与所述测头抵接的一部分所述顶杆位于所述第一壳体内；所述第二壳体套设于所述顶杆外部，所述第二壳体的内径与所述顶杆的外径相同。
[0006]进一步地，所述测头临近所述圆锥部的一端具有垂直于所述圆锥部高度方向的第一平面部，所述圆锥部与所述平面部的中心连接；所述第一壳体临近所述测头的一端具有第二平面部，所述第二平面部能与所述第一平面部抵接，所述第二平面部的中心开设有通孔。
[0007]进一步地，所述第一壳体的外部具有向内凹陷的花纹部。
[0008]进一步地，所述第二壳体部分的位于所述第一壳体内，所述第一壳体与所述测头之间设置有弹簧。
[0009]进一步地，所述圆锥部中直径和长度之间的比例为1:10，所述数显表的示数与位移测量头位移量的比例为1:10。
[0010]进一步地，所述圆锥部的长度为24mm，所述圆锥部远离所述测头的一端在所述圆锥部高度方向上的投影为直径为0.1mm圆形。
[0011]进一步地，包括平面校对块，在所述平面校对块将所述测头完全抵入所述外壳内
后，将所述数显表的数值设为0.1mm。
[0012]本技术的有益效果如下：
[0013]1、圆锥部测量伸入内孔中，并将圆锥部的位移量传输至位移测量头，使得所述数显表可以将内孔径进行显示，整个测量装置仅需将圆锥部伸入内孔中，且通过位移量的传递在内孔之外进行读数，从而可以实现测量孔径很小的内径的效果。
[0014]2、所述第一壳体和所述第二壳体的组合可以对所述测头和所述顶杆起到较好的限位和导向作用，提升了测量装置的测量稳定性。
[0015]3、使得在测量完成后，所述弹簧可以使得所述测头远离所述第二壳体，进而使得所述圆锥部可以在弹簧作用下自动位于所述外壳的外部，使得测量装置具有更好的复位效果。
[0016]4、尖端留0.1mm直径的平面，可以避免所述圆锥部尖端由于过尖而出现损坏的情况，使得圆锥部具有更长的使用寿命。
[0017]5、面校对块的存在可以及时对于所述数显表进行校准，使得在长期多次使用后，测量装置仍能保持较高精度。
[0018]为让本技术的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1是本技术实施例中用于小孔径的内孔测量装置的结构示意图；
[0021]图2是本技术实施例中用于小孔径的内孔测量装置对内径进行测量时的示意图；
[0022]图3是本技术实施例中用于小孔径的内孔测量装置进行校对时的示意图；
[0023]图4是本技术实施例中测头和圆锥部的结构示意图；
[0024]以上附图的附图标记：1、测头；11、第一平面部；2、圆锥部；3、顶杆；4、外壳；41、通孔；42、第一壳体；421、花纹部；422、第二平面部；43、第二壳体；5、位移数显指示表；51、位移测量头；52、数显表；6、弹簧；7、平面校对块。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]如图1至图4所示，本实施例的用于小孔径的内孔测量装置，包括：
[0027]测头1，所述测头1的一端可以连接有直径和长度之间等比例设置的圆锥部2，所述圆锥部2自临近所述测头1的位置向着远离所述测头1的方向延伸且半径逐渐减小。
[0028]顶杆3，所述顶杆3的一端可以与所述测头1远离所述圆锥部2的一端抵接，使得所述测头1的移动可以带动所述顶杆3移动，以使得所述测头1的位移量可以与所述顶杆3的位移量保持相同。
[0029]外壳4，所述外壳4套设于所述顶杆3和所述测头1外部，从而使得所述顶杆3和所述测头1可以位于所述外壳4内部，使得外壳4对于所述顶杆3和所述测头1起到限位作用。所述外壳4可以具有开设有能使所述圆锥部2穿过的通孔41，从而使得可以达到仅有所述圆锥部2穿过所述通孔41而位于所述外壳4外部，相应的，达到所述测头1位于所述外壳4内部的效果。
[0030]位移数显指示表5，所述位移数显指示表5的位移测量头51可以与所述顶杆3远离所述测头1的一端抵接，从而使得所述顶杆3可以带动所述位移测量头51移动，以使得所述顶杆3的位移量可以与所述位移测量头51的位移量保持相同。所述位移数显指示表5的数显表52等比例显示其位移测量头51的位移量，所述数显表52的示数与位移测量头51位移量的比例与所述圆锥部2直径和长度之间的比例相同，所述圆锥部2均位于所述外壳4内部时所述数显表52显示初始刻度值，使得所述数显表52的显示数值可以对位于所述外套外部的所述圆锥部2的半径进行测量，从而使得所述数显表52的显示数值可以与位于所述外套本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于小孔径的内孔测量装置，其特征在于，包括：测头，所述测头的一端连接有直径和长度之间等比例设置的圆锥部，所述圆锥部自临近所述测头的位置向着远离所述测头的方向延伸且半径逐渐减小；顶杆，所述顶杆的一端与所述测头远离所述圆锥部的一端抵接；外壳，所述外壳套设于所述顶杆和所述测头外部，所述外壳具有开设有能使所述圆锥部穿过的通孔；位移数显指示表，所述位移数显指示表的位移测量头与所述顶杆远离所述测头的一端抵接，所述位移数显指示表的数显表等比例显示其位移测量头的位移量，所述数显表的示数与位移测量头位移量的比例与所述圆锥部直径和长度之间的比例相同，所述圆锥部均位于所述外壳内部时所述数显表显示初始刻度值。2.根据权利要求1所述的用于小孔径的内孔测量装置，其特征在于，所述外壳包括固定连接的第一壳体和第二壳体；所述第一壳体套设在所述测头外部，所述第二壳体的内径与所述测头的外径相同，所述第二壳体的长度大于所述测头的长度，与所述测头抵接的一部分所述顶杆位于所述第一壳体内；所述第二壳体套设于所述顶杆外部，所述第二壳体的内径与所述顶杆的外径相同。3.根据权利要求2所述的用于小孔径的内孔测量...
【专利技术属性】
技术研发人员：沃林，沃家，尉志超，
申请(专利权)人：苏州英示测量科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。