一种电子产品表面印刷质量检测方法技术

技术编号:35430738 阅读:21 留言:0更新日期:2022-11-03 11:35
本发明专利技术公开了一种电子产品表面印刷质量检测方法,属于图像识别技术领域;包括以下步骤:获取待检测电子产品上的印刷区域图像;获取每个连通域的方向向量;构建树形第一拓扑结构;获取标准电子产品上的印刷区域图像对应的树形第二拓扑结构;获取修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度;根据修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度判断待检测电子产品是否为合格产品。本发明专利技术通过比较待检测的实际图像和标准图像拓扑结构的相似度,来评价电子产品的表面印刷质量,避免了传统检测方法中电子产品的姿态参数的干扰,同时不需要计算图像匹配就可以得到电子产品表面的印刷质量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
一种电子产品表面印刷质量检测方法


[0001]本专利技术涉及图像识别
,具体涉及一种电子产品表面印刷质量检测方法。

技术介绍

[0002]电子、工业产品一般都会根据公司设计需要在产品表面印刷上相应的标识或字符、LOGO等特征,例如:充电器等手机配件上的印刷信息。可充电器等手机配件上的印刷信息往往在印刷过程中会出现字符缺失现象,如字符印刷不全,字符印刷错误,字体歪斜等缺陷,往往是由于制版曲线设计不佳、分色片密度较低、晒版不实印迹过浅、印刷压力不足、印刷机老化等原因导致的,同时,当电子产品表面存在缺陷时,也会影响印刷质量,在印刷阶段,表现为印刷缺陷,这些缺陷的存在会严重影响消费者对此产品的质量担忧及信任度,另外对这些印刷缺陷的质量检测也是电子产品表面印刷质量的一部分,若一旦印刷有缺陷,则不能完整描述电子产品相关参数的展示,影响电子产品的销量,因此电子行业厂商对其要求极为严格。
[0003]现有技术通常采用字符识别匹配的方法对标准图像与实际图像进行比较,但由于标准图像与实际图像在检测时,需要计算实际图像与标准图像的匹配程度,通过匹配程度检测电子产品上的印刷质量,由于在采集印刷图像时,电子产品与摄像头的相对姿态信息不同,相对姿态信息是由电子产品的姿态信息和摄像头的姿态信息共同决定的,这样采集的实际图像与标准图像的相对姿态信息就不可能完全一样,另外,字体的大小也会影响匹配程度,这样很难通过匹配程度对印刷质量精准的检测。

技术实现思路

[0004]为了解决传统方法对电子产品表面的印刷标识或图案、字符等的印刷缺陷进行检测时,受到电子产品姿态信息影响匹配精度的技术问题;本专利技术提供一种电子产品表面印刷质量检测方法,该方法通过比较待检测的实际图像和标准图像拓扑结构的相似度,来评价电子产品的表面印刷质量,避免了传统检测方法中电子产品的姿态参数的干扰,同时不需要计算图像匹配就可以得到电子产品表面的印刷质量。
[0005]本专利技术的目的是提供一种电子产品表面印刷质量检测方法,包括以下步骤:获取待检测电子产品上的印刷区域图像;并获取待检测印刷区域图像中的多个连通域以及多个连通域形成的整体连通区域;根据每个连通域内像素点的坐标通过PCA算法获取每个连通域的主方向和次方向;依次类比获取整体连通区域的主方向和次方向;根据每个连通域的主方向和次方向,及整体连通区域的主方向和次方向获取每个连通域的方向向量;在印刷区域图像上设置整体连通区域的拓扑中心点;将距所述拓扑中心点最近的连通域中心点对应的连通域作为拓扑中心连通域;将每个连通域作为节点,并以拓扑中心连通域为初始层节点构建树形第一拓扑结构;所述第一拓扑结构中,相邻下一层节点是与其相邻上一层节点对应连通域距离最近的连通域;
将每个连通域的方向向量作为第一拓扑结构中对应节点的第一节点向量;将任意两个相连节点对应的两个连通域间的距离作为该两个相连节点之间连接边的第一元素值;根据任意两个相连节点对应的两个连通域的中心点连线方向,和/或整体连通区域的主方向获取该两个相连节点之间连接边的第二元素值;依次将每个连接边的第一元素值和第二元素值作为第一拓扑结构中每个连接边的第一边向量;依次类比获取标准电子产品上的印刷区域图像对应的树形第二拓扑结构,并获取第二拓扑结构中每个节点的第二节点向量和每个连接边的第二边向量;根据第二拓扑结构中任一连接边的第二边向量中的第二元素值,对第一拓扑结构中对应的连接边的第一边向量中的第二元素值进行修正,获取修正后的第一拓扑结构;根据修正后的第一拓扑结构中每个节点的第一节点向量和每个连接边的第一边向量,以及第二拓扑结构中对应节点的第二节点向量和对应连接边的第二边向量,获取修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度;根据修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度判断待检测电子产品是否为合格产品。
[0006]在一实施例中,所述第一拓扑结构是按照以下步骤构建:以拓扑中心连通域为初始层节点,并对每个连通域进行遍历,将与拓扑中心连通域距离最近的至少两个第一连通域作为第一拓扑结构中的第二层节点;将与每个第一连通域距离最近的至少两个第二连通域作为第一拓扑结构中的第三层节点;依此类推将与相邻上一层每个连通域距离最近的至少两个连通域作为第一拓扑结构中的相邻下一层节点,直至所有的连通域遍历完成获取树形第一拓扑结构。
[0007]在一实施例中,所述修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度是按照以下步骤获取:根据修正后的第一拓扑结构中每个节点的第一节点向量和第二拓扑结构中对应节点的第二节点向量的获取第一拓扑结构中每个节点的余弦相似度;根据修正后的第一拓扑结构中每个连接边的第一边向量和第二拓扑结构中对应连接边的第二边向量获取第一拓扑结构中每个连接边的余弦相似度;根据第一拓扑结构中每个节点的余弦相似度和第一拓扑结构中每个连接边的余弦相似度获取修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度。
[0008]在一实施例中,所述修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度是通过计算所有节点的余弦相似度及所有连接边的余弦相似度的均值而获取的。
[0009]在一实施例中,所述两个相连节点之间连接边为第一拓扑结构中第二层节点和初始层节点之间的连接边时,其第二层节点和初始层节点之间的连接边的第二元素值是按照以下步骤获取:根据第二层节点与初始层节点对应的两个连通域的中心点连线方向,和整体连通区域的主方向的方向角差值获取第二层节点与初始层节点之间连接边的第二元素值。
[0010]在一实施例中,所述两个相连节点之间连接边为第一拓扑结构中第二层节点及以下层级节点的连接边时,其两个相连节点之间连接边的第二元素值是按照以下步骤获取:根据两个相连节点对应的两个连通域的中心点连线方向,和该两个相连节点中的上一层节点与其父节点对应的两个连通域的中心点连线方向的方向角差值,获取两个相连
节点之间连接边的第二元素值。
[0011]在一实施例中,每个连通域的方向向量是按照以下步骤获取:根据每个连通域的主方向和整体连通区域的主方向获取每个连通域的主方向元素值;根据每个连通域的次方向和整体连通区域的次方向获取每个连通域的次方向元素值;根据每个连通域的主方向元素值和次方向元素值获取每个连通域的方向向量。
[0012]在一实施例中,每个连通域的主方向和次方向是按照以下步骤获取:根据每个连通域内所有像素点的坐标利用PCA算法获取每个连通域内所有像素点坐标的多个主成分方向;根据每个主成分方向获取每个主成分方向的特征值,将特征值最大的主成分方向作为对应连通域的主方向;将特征值最小的主成分方向作为对应连通域的次方向。
[0013]在一实施例中,所述第一拓扑结构对应在印刷区域图像的拓扑中心点与第二拓扑结构中的对应在印刷区域图像的拓扑中心点为同一位置点。
[0014]在一实施例中,所述连通域距离是指沿着两个连通域的中心点连线方向的两个连通域上点的最小欧式距离。
[0015]本专利技术的有益效果是:本专利技术提供的一种电子产品表面印刷质量检测方法,该方法通过对待检测的印刷区域图像中不同连通域之间的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子产品表面印刷质量检测方法,其特征在于,包括以下步骤:获取待检测电子产品上的印刷区域图像;并获取待检测印刷区域图像中的多个连通域以及多个连通域形成的整体连通区域;根据每个连通域内像素点的坐标通过PCA算法获取每个连通域的主方向和次方向;依次类比获取整体连通区域的主方向和次方向;根据每个连通域的主方向和次方向,及整体连通区域的主方向和次方向获取每个连通域的方向向量;在印刷区域图像上设置整体连通区域的拓扑中心点;将距所述拓扑中心点最近的连通域中心点对应的连通域作为拓扑中心连通域;将每个连通域作为节点,并以拓扑中心连通域为初始层节点构建树形第一拓扑结构;所述第一拓扑结构中,相邻下一层节点是与其相邻上一层节点对应连通域距离最近的连通域;将每个连通域的方向向量作为第一拓扑结构中对应节点的第一节点向量;将任意两个相连节点对应的两个连通域间的距离作为该两个相连节点之间连接边的第一元素值;根据任意两个相连节点对应的两个连通域的中心点连线方向,和/或整体连通区域的主方向获取该两个相连节点之间连接边的第二元素值;依次将每个连接边的第一元素值和第二元素值作为第一拓扑结构中每个连接边的第一边向量;依次类比获取标准电子产品上的印刷区域图像对应的树形第二拓扑结构,并获取第二拓扑结构中每个节点的第二节点向量和每个连接边的第二边向量;根据第二拓扑结构中任一连接边的第二边向量中的第二元素值,对第一拓扑结构中对应的连接边的第一边向量中的第二元素值进行修正,获取修正后的第一拓扑结构;根据修正后的第一拓扑结构中每个节点的第一节点向量和每个连接边的第一边向量,以及第二拓扑结构中对应节点的第二节点向量和对应连接边的第二边向量,获取修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度;根据修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度判断待检测电子产品是否为合格产品。2.根据权利要求1所述的一种电子产品表面印刷质量检测方法,其特征在于,所述第一拓扑结构是按照以下步骤构建:以拓扑中心连通域为初始层节点,并对每个连通域进行遍历,将与拓扑中心连通域距离最近的至少两个第一连通域作为第一拓扑结构中的第二层节点;将与每个第一连通域距离最近的至少两个第二连通域作为第一拓扑结构中的第三层节点;依此类推将与相邻上一层每个连通域距离最近的至少两个连通域作为第一拓扑结构中的相邻下一层节点,直至所有的连通域遍历完成获取树形第一拓扑结构。3.根据权利要求1所述的一种电子产品表面印刷质量检测方法,其特征在于,所述修正后的第一拓扑结构与第二拓扑结构的相似度是按照以下步骤获取:根据修正后的第一拓扑结构中每个节点的第一节点向量和第二拓扑结构中对应节点的第二节点向量的获取第一拓扑结构...

【专利技术属性】
技术研发人员:储春琴
申请(专利权)人:江苏昱恒电气有限公司
类型:发明
国别省市:

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