本发明专利技术公开了一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置，包括第一输送装置、设置于第一输送装置一侧的压紧装置、设置于第一输送装置上的多个第一气密封测试装置、设置于第一输送装置端部一侧的转运装置、设置于转运装置一侧的第二输送装置、设置于第二输送装置上的第二气密封测试装置、设置于第二输送装置上的夹紧固定装置。本发明专利技术的有益效果是，能够很好地完成对射频绝缘子的气密封测试，使用效果佳，并且本技术方案中设置有第一气密封测试装置、第二气密封测试装置能够二次实现对射频绝缘子的气密封测试，避免了一些意外情况的发生，能够二次对射频绝缘子的气密性性能进行测试，保障了其使用性能，效率高，人工参与度少，便于人们进行使用。便于人们进行使用。便于人们进行使用。
【技术实现步骤摘要】
一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置
[0001]本专利技术涉及高频连接器
，特别是一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置。
技术介绍
[0002]为满足高频密封连接器的电气及机械性能，通常采用玻璃烧结工艺制作的射频绝缘子作为高频连接器的一部分，既保证了高频连接器的气密封性能，又满足了高频连接器的高频性能；射频绝缘子包括同轴设置的的外壳体、内导体和绝缘子，外壳体和内导体采用耐高温的合金材料，绝缘子采用介电常数稳定的玻璃管，制造时将玻璃管和内导体、外壳体通过石墨模具固定用以保证产品尺寸、结构及性能，再将组装好的射频绝缘子通过高温封接而成；所述射频绝缘子用于毫米波频段，截止频率较高，其气密封性能可实现漏率不超过1
×ꢀ
10
‑
9Pa
·
m3/s；漏率测试采用氦质谱检漏仪，需要先将微型射频绝缘子直接放置在相应的测试胶垫上，原因之一在于微型射频绝缘子重量较轻，无法保证与测试胶垫的密封性，原因之二在于测试过程中仪器抽真空时，微型射频绝缘子容易吸入仪器，引发设备故障，因而无法对微型射频绝缘子的气密封性能进行测试；
[0003]鉴于上述情况，有必要对现有的射频绝缘子气密封测试装置加以改进，使其能够适应现在对射频绝缘子使用的需要。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是为了解决上述问题，设计了一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置。
[0005]实现上述目的本专利技术的技术方案为，一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置，包括第一输送装置、设置于第一输送装置一侧的压紧装置、设置于第一输送装置上的多个第一气密封测试装置、设置于第一输送装置端部一侧的转运装置、设置于转运装置一侧的第二输送装置、设置于第二输送装置上的第二气密封测试装置、设置于第二输送装置上的夹紧固定装置。
[0006]对本技术方案的进一步补充，所述第一输送装置、第二输送装置呈垂直设置且分别位于转运装置的两侧，所述第一输送装置、第二输送装置为链式输送机。
[0007]对本技术方案的进一步补充，所述压紧装置包括设置于第一输送装置一侧的置物架、设置于置物架上的电机、与电机连接的丝杆、与丝杆连接的丝杠螺母、与丝杠螺母连接的滑块、与滑块连接的竖杆、设置于竖杆下方两侧的压块，所述置物架设置于第一输送装置一侧，所述电机固定安装于置物架上，所述滑块滑动安装于丝杆上，所述竖杆与滑块固定连接，两侧的压块与竖杆通过第一连接架连接。
[0008]对本技术方案的进一步补充，所述第一输送装置、第二输送装置上两侧设有第一限位杆。
[0009]对本技术方案的进一步补充，所述第一气密封测试装置成对设置且对称设置于第
一输送装置的左右两侧，其包括固定架、设置于固定架上方的固定轴、与固定轴连接的活动轴、与活动轴连接的推紧块，所述固定架固定安装于第一输送装置上，所述固定轴与固定架螺纹连接，所述活动轴穿过固定轴的左右表面且与其滑动接触，所述固定轴上方设有固定阀门用于固定活动轴，所述固定阀门与活动轴螺纹连接，所述推紧块上设有凹槽用于容纳第一限位杆，一侧的第一气密封测试装置上的活动轴与充气机构连接且其与推紧块内部连通，其上的推紧块上设有通气孔与射频绝缘子内部连通。
[0010]对本技术方案的进一步补充，所述转运装置包括支撑架、设置于支撑架上一侧的转动电机、与转动电机连接的转轴、与转轴通过皮带连接的转动块、与转动块连接的连接轴、与连接轴固定连接的转盘、设置于转盘上的夹持工装，所述转动电机固定安装于支撑架上，所述连接轴贯穿所述支撑架的上下表面且与其滑动接触，所述转盘放置于支撑架的上方。
[0011]对本技术方案的进一步补充，所述连接轴上设有多个转盘，每个转盘上均设有夹持工装。
[0012]对本技术方案的进一步补充，所述第二输送装置的端部设置于支撑架的下方且其安装宽度大于夹持工装的宽度。
[0013]对本技术方案的进一步补充，所述第二气密封测试装置与第一气密封测试装置结构相同。
[0014]对本技术方案的进一步补充，所述夹紧固定装置包括设置于第二输送装置外侧的第二连接架、设置于第二连接架上的X轴移动装置、设置于X轴移动装置上的Y轴移动装置、设置于Y轴移动装置上的Z 轴移动装置、设置于Z轴移动装置上的夹持装置。
[0015]其有益效果在于，能够很好地完成对射频绝缘子的气密封测试，使用效果佳，并且本技术方案中设置有第一气密封测试装置、第二气密封测试装置能够二次实现对射频绝缘子的气密封测试，避免了一些意外情况的发生，能够二次对射频绝缘子的气密性性能进行测试，保障了其使用性能，效率高，人工参与度少，便于人们进行使用。
附图说明
[0016]图1是本专利技术的第一角度整体结构示意图；
[0017]图2是图1中的局部放大图；
[0018]图3是本专利技术的第二角度整体结构示意图；
[0019]图中，1、第一输送装置；2、压紧装置；21、置物架；22、电机； 23、丝杆；24、滑块；25、竖杆；26、第一连接架；27、压块；28、第一限位杆；3、第一气密封测试装置；31、固定架；32、固定轴；33、活动轴；34、推紧块；35、固定阀门；4、转运装置；41、支撑架；42、转动电机；43、转动块；44、连接轴；45、转盘；46、夹持工装；5、第二输送装置；6、第二气密封测试装置；7、夹紧固定装置；71、第二连接架；72、X轴移动装置；73、Y轴移动装置；74、Z轴移动装置； 75、夹持装置。
具体实施方式
[0020]由于现有技术中对于射频绝缘子在进行气密封测试时，使用效果不佳，不能满足我们的使用需求，因此我们在现有技术缺陷的基础上设计了一种减少流程化的射频绝缘子
气密封测试装置，使用效果佳，人工参与度低，便于人们进行使用。
[0021]为了便于本领域技术人员对本技术方案更加清楚，下面将结合附图1
‑
3详细阐述本专利技术的技术方案：
[0022]一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置，包括第一输送装置1、设置于第一输送装置1一侧的压紧装置2、设置于第一输送装置 1上的多个第一气密封测试装置3、设置于第一输送装置1端部一侧的转运装置4、设置于转运装置4一侧的第二输送装置5、设置于第二输送装置5上的第二气密封测试装置6、设置于第二输送装置5上的夹紧固定装置7，工作时，首先将射频绝缘子放置于第一输送装置1，第一输送装置1能够对射频绝缘子输送，移动至第一气密封测试装置3时，此时第一输送装置1停止工作，压紧装置2对射频绝缘子进行压紧，然后第一气密封测试装置3对射频绝缘子进行初步地气密封测试，气密封测试完毕后，第一输送装置1继续工作，能够对射频绝缘子进行输送，待移动至转运装置4时，转运装置4对射频绝缘子进行夹持然后转运至第二输送装置5上，然后第二气密封测试装置6对射频绝缘子进行二次气密封测试，在此过程中夹紧固定装置7能够对射频绝缘子进行夹持固定，便于第二气密封测试装置6对其进行更好地气密封测试。
[0023]其本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置，其特征在于，包括第一输送装置(1)、设置于第一输送装置(1)一侧的压紧装置(2)、设置于第一输送装置(1)上的多个第一气密封测试装置(3)、设置于第一输送装置(1)端部一侧的转运装置(4)、设置于转运装置(4)一侧的第二输送装置(5)、设置于第二输送装置(5)上的第二气密封测试装置(6)、设置于第二输送装置(5)上的夹紧固定装置(7)。2.根据权利要求1所述的一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置，其特征在于，所述第一输送装置(1)、第二输送装置(5)呈垂直设置且分别位于转运装置(4)的两侧，所述第一输送装置(1)、第二输送装置(5)为链式输送机。3.根据权利要求2所述的一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置，其特征在于，所述压紧装置(2)包括设置于第一输送装置(1)一侧的置物架(21)、设置于置物架(21)上的电机(22)、与电机(22)连接的丝杆(23)、与丝杆(23)连接的丝杠螺母、与丝杠螺母连接的滑块(24)、与滑块(24)连接的竖杆(25)、设置于竖杆(25)下方两侧的压块(27)，所述置物架(21)设置于第一输送装置(1)一侧，所述电机(22)固定安装于置物架(21)上，所述滑块(24)滑动安装于丝杆(23)上，所述竖杆(25)与滑块(24)固定连接，两侧的压块(27)与竖杆(25)通过第一连接架26)连接。4.根据权利要求3所述的一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置，其特征在于，所述第一输送装置(1)、第二输送装置(5)上两侧设有第一限位杆(28)。5.根据权利要求4所述的一种减少流程化的射频绝缘子气密封测试装置，其特征在于，所述第一气密封测试装置(3)成对设置且对称设置于第一输送装置(1)的左右两侧，其包括固定架(31)、设置于固定架(31)上方的固定轴(32)、与固定轴(32)连接的活动轴(33)、与活动轴(33)连接的推紧块(34)，所述固定架(31)固定安装于第一输送装置(1)上，所述固定轴(32)与固定架(31)螺纹连接，所述活...
【专利技术属性】
技术研发人员：周东平，刘光宇，苏晓宇，孙兴成，
申请(专利权)人：江东晶鼎电子元器件镇江有限公司，
类型：发明
国别省市：
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