内窥镜污垢检测装置、内窥镜再处理器以及内窥镜污垢检测方法制造方法及图纸

内窥镜污垢检测装置(1)包括：观察窗(11d)，其对内窥镜照射特定波长的光，并接收附着于内窥镜的表面的污物所发出的荧光；图像形成部(19a)，其根据接收到的荧光形成第1图像；图像处理部(19b)，其对第1图像进行图像处理，形成对由污物造成的污染部分进行了强调的第2图像；以及输出处理部(19c)，其输出第2图像。其输出第2图像。其输出第2图像。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】内窥镜污垢检测装置、内窥镜再处理器以及内窥镜污垢检测方法


[0001]本专利技术涉及检测内窥镜的污垢的内窥镜污垢检测装置、内窥镜再处理器以及内窥镜污垢检测方法。

技术介绍

[0002]为了防止感染症，在使用后要对内窥镜进行清洗。检查人员不容易通过肉眼来确认或者判定在清洗后的内窥镜的插入部的表面上是否残留有污垢。因此，针对检测清洗后的内窥镜的插入部的表面的状态、换言之是检测清洗状态的清洗装置提出了各种方案。
[0003]例如，在日本特开平10
‑
276977号公报中公开了一种内窥镜的清洗装置，其利用染料液对内窥镜的外表面进行染色，并对染料液在清洗后是否附着于内窥镜的外表面进行检测，由此检测出内窥镜的外表面的清洗程度。
[0004]但是，为了使用日本特开平10
‑
276977号公报中公开的内窥镜的清洗装置，需要进行在内窥镜的外表面涂布染料液的作业。
[0005]因此，本专利技术的目的在于，提供一种无需繁杂的作业的、检测内窥镜的污垢的内窥镜污垢检测装置、内窥镜再处理器以及内窥镜污垢检测方法。

技术实现思路

[0006]用于解决课题的手段
[0007]本专利技术的一个方式的内窥镜污垢检测装置包括：照射部，其对内窥镜照射特定波长的光；受光部，其接收附着于所述内窥镜的表面的污物所发出的荧光；图像形成部，其根据接收到的所述荧光形成第1图像；图像处理部，其对所述第1图像进行图像处理，形成对由所述污物造成的污染部分进行了强调的第2图像；以及输出部，其输出所述第2图像。
[0008]本专利技术的一个方式的内窥镜再处理器具有：本专利技术的一个方式的内窥镜污垢检测装置；再生处理部，其对所述内窥镜进行再生处理；污染度确定部，其根据所述第2图像来确定所述内窥镜的污染度；以及控制部，其对所述再生处理的执行进行控制，所述控制部在所述污染度小于规定值的情况下执行第1程序，在所述污染度为所述规定值以上的情况下执行再生处理等级比所述第1程序高的第2程序。
[0009]本专利技术的一个方式的内窥镜污垢检测方法包括以下步骤：对内窥镜照射特定波长的光的步骤；接收附着于所述内窥镜表面的污物所发出的荧光的步骤；根据接收到的所述荧光形成第1图像的步骤；以及对所述第1图像进行图像处理，形成对由所述污物造成的污染部分进行了强调的第2图像的步骤。
附图说明
[0010]图1是第1实施方式的内窥镜污垢检测装置的立体图。
[0011]图2是示出第1实施方式的从光源到被摄体的光路和接收来自被摄体的荧光的摄
像光学系统的结构的图。
[0012]图3是示出第1实施方式的激励滤光片、分光镜以及吸收滤光片的波长特性的表。
[0013]图4是第1实施方式的包含内窥镜污垢检测装置的处理器的功能块的结构图。
[0014]图5是用于说明第1实施方式的检测内窥镜的插入部的前端部的污垢时的污垢检测装置和前端部的配置的图。
[0015]图6是第1实施方式的变形例的包含内窥镜污垢检测装置的处理器的功能块的结构图。
[0016]图7是示出第1实施方式的变形例的推断部所包含的神经网络的结构例的图。
[0017]图8是示出第1实施方式的变形例的与推断部的变形例相关的另一神经网络的结构例的图。
[0018]图9是用于说明第1实施方式的变形例的神经网络根据所输入的图像数据来输出表示污垢区域的图像数据的图。
[0019]图10是第2实施方式的污垢检测装置的从把持部侧进行观察的立体图。
[0020]图11是第2实施方式的内窥镜污垢检测装置的从罩的底面侧进行观察的立体图。
[0021]图12是用于说明第2实施方式的内窥镜污垢检测装置的使用方法的图。
[0022]图13是第3实施方式的内窥镜污垢检测装置的立体图。
[0023]图14是第3实施方式的内窥镜污垢检测装置的侧视图。
[0024]图15是第4实施方式的污垢检测装置的立体图。
[0025]图16是第5实施方式的具有内窥镜污垢检测功能的内窥镜再处理器的立体图。
[0026]图17是第5实施方式的内窥镜再处理器的处理槽的侧面部的立体图。
[0027]图18是示出第5实施方式的变形例的对物镜光学系统与被摄体间的摄像距离进行调整的距离调整机构的处理槽的侧面部的立体图。
具体实施方式
[0028]以下，使用附图对本专利技术的实施方式进行说明。
[0029](第1实施方式)
[0030]图1是第1实施方式的内窥镜污垢检测装置的立体图。内窥镜污垢检测装置(以下，简称为污垢检测装置)1是对使用后的内窥镜的污垢进行检测的装置，并且是确认内窥镜的污垢的人(以下，称为用户)能够用手把持来使用的手持式的装置。污垢检测装置1在壳体11内具有物镜光学系统12、光源13、光分割器14、摄像元件15以及控制基板16。虽然在图1中壳体11具有圆筒形状，但本专利技术不限于此，只要是用户易于用手把持的形状即可。把持部11a是壳体11的基端侧部分。在壳体11的外表面设有操作按钮17和作为输出部的显示器18。
[0031]对于壳体11的材质没有特别限定，能够使用例如树脂、金属、陶瓷。在壳体11的前端设有延伸部11b，该延伸部11b在壳体11的长度轴上向前端方向突出。延伸部11b从壳体11的前端部延伸出规定的长度。壳体11的前端面11c具有作为开口的观察窗11d。在观察窗11d的后侧配设有摄像元件15。壳体11也可以具有定位部件，该定位部件用于使具有焦点的被摄体像在摄像元件15的摄像面上成像。作为定位部件，能够使用图1、图5所例示的延伸部11b。延伸部11b可以能够拆装，也可以根据观察对象、目的来从多种延伸部11b中更换为适当的形状的结构。此外，污垢检测装置1也可以具备瞄准器、或者具备自动对焦功能来代替
定位部件。
[0032]物镜光学系统12配置于观察窗11d的后侧。如后述的图5所示，例如，在用户将插入部的前端部DE放置于内窥镜再处理器的处理槽的底面S，使延伸部11b的前端抵接到处理槽的底面S，并使观察窗11d朝向插入部的前端部DE时，通过了物镜光学系统12的来自前端部的光照射到前端部DE。通过来自前端部DE的荧光，前端部DE的荧光图像在摄像元件15的摄像面上成像。即，延伸部11b是为了使被摄体像在摄像元件15的摄像面上成像而将被摄体与观察窗11d之间的距离调整为恒定的部件。换言之，延伸部11b是将观察窗11d与内窥镜之间的距离调整为恒定的距离调整部件。
[0033]光源13是水银灯等。光源13的光由光照射光学系统13a提供给光分割器14。
[0034]另外，在此，虽然光源13设置于壳体11内，但也可以将光源13设置于外部的装置内，利用未图示的光纤等将光源13的光引导至壳体11内的光分割器14。
[0035]光分割器14配置于物镜光学系统12的基端侧。如后所述，光分割器14包括多个光学元件，该多个光学元件将光进行分割以对附着于内窥镜本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种内窥镜污垢检测装置，其中，所述内窥镜污垢检测装置包括：照射部，其对内窥镜照射特定波长的光；受光部，其接收附着于所述内窥镜的表面的污物所发出的荧光；图像形成部，其根据接收到的所述荧光形成第1图像；图像处理部，其对所述第1图像进行图像处理，形成对由所述污物造成的污染部分进行了强调的第2图像；以及输出部，其输出所述第2图像。2.根据权利要求1所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述污物包括血液或胆汁，所述特定波长为360nm以上的波长。3.根据权利要求1所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述特定波长为460nm以上的波长。4.根据权利要求1所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述照射部包括激励滤光片，该激励滤光片使波长为460nm以上的光透过，所述受光部包括吸收滤光片，该吸收滤光片使波长为510nm～550nm的光透过。5.根据权利要求4所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述照射部及所述受光部包括分光镜，该分光镜将波长小于505nm的光反射且使波长为505nm以上的光透过。6.根据权利要求1所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述照射部包括激励滤光片，该激励滤光片使波长为530nm以上的光透过，所述受光部包括吸收滤光片，该吸收滤光片使波长为575nm～625nm的光透过。7.根据权利要求6所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述照射部及所述受光部包括分光镜，该分光镜将波长小于570nm的光反射且使波长为570nm以上的光透过。8.根据权利要求1所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述图像处理部通过二值化处理对污染部分进行强调，在所述二值化处理中，以用第1颜色来显示亮度值为规定的阈值以上的像素、用与所述第1颜色不同的第2颜色来显示亮度值小于所述规定的阈值的像素的方式，将所述第1图像转换为所述第2图像。9.根据权利要求1所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述内窥镜污垢检测装置包括推断部，该推断部使用推断模型对由所述污物造成的污垢的有无或污染度进行推断，所述推断模型是使用所述第1图像和所述第2图像制作而成的。10.根据权利要求1所述的内窥镜污垢检测装置，其中，所述图像处理部是使用推断...

【专利技术属性】
技术研发人员：桥本祐一朗，
申请(专利权)人：奥林巴斯株式会社，
类型：发明
国别省市：