本申请公开了一种烹饪装置的测温装置及烹饪装置。测温装置包括烹饪器具温度检测电路、面板温度检测电路、发射率检测电路以及信号处理电路；烹饪器具温度检测电路用于检测烹饪器具的第一温度信号；面板温度检测电路，用于检测面板的第二温度信号；发射率检测电路用于检测烹饪器具的发射率；信号处理电路分别与烹饪器具温度检测电路、面板温度检测电路以及发射率检测电路连接，并基于第一温度信号、第二温度信号以及发射率，获取烹饪器具的温度信号。本申请提出的烹饪装置的测温装置及烹饪装置，能够提高烹饪装置的温度测量精度。能够提高烹饪装置的温度测量精度。能够提高烹饪装置的温度测量精度。
【技术实现步骤摘要】
烹饪装置的测温装置及烹饪装置
[0001]本申请涉及家电
，特别是涉及一种烹饪装置的测温装置及烹饪装置。
技术介绍
[0002]电磁炉在烹饪(煎炸，炒菜)过程中，灶面板温度超过400℃，所以一般采用耐高温的微晶玻璃作为灶面板。而常规的红外(波长>5μm)不能穿透微晶面板，因此不能用常规的红外来进行测温。
[0003]例如，可以通过特殊波长(0.7μm～2.7μm)的红外进行锅具温度测量。但是，在实际应用中，由于环境干扰比较大，造成温度测量不准确。
技术实现思路
[0004]本申请主要解决的技术问题是提供一种烹饪装置的测温装置及烹饪装置，能够提高烹饪装置的温度测量精度。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是，提供一种烹饪装置的测温装置，测温装置包括烹饪器具温度检测电路、面板温度检测电路、发射率检测电路以及信号处理电路；烹饪器具温度检测电路用于检测烹饪器具的第一温度信号；面板温度检测电路，用于检测面板的第二温度信号；发射率检测电路用于检测烹饪器具的发射率；信号处理电路分别与烹饪器具温度检测电路、面板温度检测电路以及发射率检测电路连接，并基于第一温度信号、第二温度信号以及发射率，获取烹饪器具的温度信号。
[0006]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是，提供一种烹饪装置，包括上述测温装置。
[0007]有益技术效果：本申请的测温装置通过设置烹饪器具温度检测电路以及面板温度检测电路，分别获取烹饪器具的第一温度信号以及面板的第二温度信号，从而能够检测烹饪器具的温度以及面板的温度；进一步地，通过设置发射率检测电路，获取烹饪器具的发射率，并通过设置信号处理电路，基于第一温度信号、第二温度信号以及发射率获取烹饪器具的温度信号，即通过减少面板的第二温度信号及烹饪器具的发射率对烹饪器具第一温度信号的影响，从而能够提高烹饪装置的温度测量精度。
附图说明
[0008]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
[0009]图1是本申请烹饪装置的测温装置一实施例的结构示意图；
[0010]图2是本申请发射率检测电路一实施例的结构示意图；
[0011]图3是本申请发射率检测电路另一实施例的结构示意图；
[0012]图4是本申请面板和烹饪器具一实施例的结构示意图；
[0013]图5是微晶面板不同波长红外的穿透特性示意图；
[0014]图6是本申请面板温度检测电路一实施例的结构示意图；
[0015]图7是本申请面板温度检测电路另一实施例的结构示意图；
[0016]图8是本申请第一放大电路以及第二放大电路一实施例的结构示意图；
[0017]图9是本申请烹饪装置测温装置一实施例的结构示意图；
[0018]图10是本申请烹饪装置一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0019]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。根据本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0020]在本申请实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。
[0021]在本申请实施例中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0022]参阅图1，图1是本申请烹饪装置的测温装置一实施例的结构示意图。如图1所示，测温装置10包括烹饪器具温度检测电路100、面板温度检测电路200、发射率检测电路400以及信号处理电路300；烹饪器具温度检测电路100用于检测烹饪器具的第一温度信号；面板温度检测电路200，用于检测面板的第二温度信号；发射率检测电路400用于检测烹饪器具的发射率；信号处理电路300分别与烹饪器具温度检测电路100、面板温度检测电路200以及发射率检测电路400连接，并基于第一温度信号、第二温度信号以及发射率，获取烹饪器具的温度信号。
[0023]测温装置10包括烹饪器具温度检测电路100、面板温度检测电路200、发射率检测电路400以及信号处理电路300。其中，烹饪器具温度检测电路100主要用于对烹饪器具进行温度检测。烹饪装置进行煲汤、煎炸等不同烹饪功能时，对烹饪器具的加热程度可能不一致，烹饪器具的底部、侧壁等部位温度并不一致。烹饪器具温度检测电路100可以用于测量烹饪器具任意部位的第一温度信号。在检测到的烹饪器具的第一温度信号中，不仅包含有烹饪器具本身的温度信号，还可能包含有面板的第二温度信号。
[0024]面板温度检测电路200可以用于检测面板的第二温度信号。其中，第二温度信号可以是具有加热功能的面板对烹饪器具进行加热时，面板温度检测电路200检测到的面板的温度；第二温度信号还可以是面板不具备加热功能时，当烹饪装置中的加热机构对烹饪器
具加热时，面板在加热机构的作用下升高的温度。
[0025]发射率检测电路400可以用于检测烹饪器具的发射率。不同颜色的烹饪器具，或者不同材质制成的烹饪器具的发射率不同，可以通过发射率检测电路400检测其对应的发射率。
[0026]其中，信号处理电路300分别与烹饪器具温度检测电路100、面板温度检测电路200以及发射率检测电路400连接。信号处理电路300可以包括处理器(图未标注)，处理器在获取到烹饪器具的第一温度信号、面板的第二温度信号以及烹饪器具的发射率后，信号处理电路300可以基于第一温度信号、第二温度信号以及发射率，获取烹饪器具的温度信号。即信号处理电路300可以利用第二温度信号以及发射率，对第一温度信号进行补偿，从而获取到烹饪器具的温度信号。
[0027]测温装置通过设置烹饪器具温度检测电路100以及面板温度检测电路200，分别获取烹饪器具的第一温度信号以及面板的第二温度信号，从而能够检测烹饪器具的温度以及面板的温度；进一步地，通过设置发射率检测电路400，获取烹饪器具的发射率，并通过设置信号处理电路300，基于第一本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种烹饪装置的测温装置，其特征在于，包括：烹饪器具温度检测电路，用于检测所述烹饪器具的第一温度信号；面板温度检测电路，用于检测所述面板的第二温度信号；发射率检测电路，用于检测所述烹饪器具的发射率；信号处理电路，分别与所述烹饪器具温度检测电路、所述面板温度检测电路以及所述发射率检测电路连接，并基于所述第一温度信号、所述第二温度信号以及所述发射率，获取所述烹饪器具的温度信号。2.根据权利要求1所述的测温装置，其特征在于，所述发射率检测电路包括：发射管，其阳极与电源连接，其阴极与所述信号处理电路连接；第一分压电阻，其第一端与所述电源连接，其第二端与所述信号处理电路连接；接收管，其负极与所述第一分压电阻第二端连接，其正极接地。3.根据权利要求2所述的测温装置，其特征在于，所述发射率检测电路进一步包括：开关管，其第一端与所述发射管阴极连接，其控制端与所述信号处理电路连接，其第二端接地。4.根据权利要求2所述的测温装置，其特征在于，所述发射管的波长包括0
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1μm。5.根据权利要求1所述的测温装置，其特征在于，所述烹...
【专利技术属性】
技术研发人员：江德勇，郑量，江太阳，王云峰，任祥喜，
申请(专利权)人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司，
类型：新型
国别省市：
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