测试连接器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试连接器，包括金属上壳、金属下壳、套管、中心针、第一绝缘子、第二绝缘子与弹簧，其中：金属下壳套设在金属上壳的下侧，弹簧套设在金属上壳的外侧且与金属下壳的上侧面抵接；金属下壳的下侧设有爪状结构，套管套设在爪状结构的外侧；中心针贯穿设置于金属上壳与金属下壳内部，中心针通过第一绝缘子与金属上壳绝缘相接，中心针通过第二绝缘子与金属下壳绝缘相接。与现有技术相比，本申请所要求保护的测试连接器具有优异的接触稳定性，且可减少射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高测试结果的准确度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
测试连接器


[0001]本技术涉及电连接器
，特别是涉及一种测试连接器。

技术介绍

[0002]随着通讯信息技术的迅速发展，手机已经成为人们日常生活中不可或缺的一部分。对于手机制造厂商来说，如何大批量准确检测和生产成为其亟需解决的关键技术问题。针对目前用于手机测试中的同轴连接器座，为测试其性能，均有对应的测试连接器与其对配测试。但通常测试连接器的测试头外壳与同轴连接器座的外壳的接触区域直接裸露在外，会造成射频信号流失，在测试过程中容易造成失真，影响测试结果。
[0003]因此，亟需一种测试连接器，可减少射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高测试结果的准确度。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种测试连接器，具有优异的接触稳定性，且可减少射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高测试结果的准确度。
[0005]为了实现上述目的，本技术采取的技术方案是：
[0006]一种测试连接器，包括金属上壳、金属下壳、套管、中心针、第一绝缘子、第二绝缘子与弹簧，其中：
[0007]所述金属下壳套设在所述金属上壳的下侧，所述弹簧套设在所述金属上壳的外侧且与所述金属下壳的上侧面抵接；
[0008]所述金属下壳的下侧设有爪状结构，所述套管套设在所述金属下壳的下侧，且所述爪状结构位于所述套管内；
[0009]所述中心针贯穿设置于所述金属上壳与所述金属下壳内部，所述中心针通过所述第一绝缘子与所述金属上壳绝缘相接，所述中心针通过所述第二绝缘子与所述金属下壳绝缘相接。
[0010]优选地，所述金属下壳包括从上至下依次设置的筒状结构、台阶结构与爪状结构，所述套筒套设在所述台阶结构的外侧，所述爪状结构位于所述套筒内部。
[0011]优选地，所述爪状结构包括竖直段与敞口段，所述竖直段与所述台阶结构相接，所述敞口段的外径随与所述台阶结构的距离增大而增大。
[0012]优选地，所述爪状结构的内侧还设置有凸台，所述凸台设置于所述竖直段与所述敞口段相接处。
[0013]优选地，所述爪状结构中爪的数量为2个、3个、4个、5个或6个。
[0014]优选地，还包括固定法兰，所述固定法兰套设在所述金属上壳的上侧。
[0015]优选地，还包括设置在所述金属上壳与所述固定法兰之间的第三绝缘子，所述第三绝缘子套设在所述金属上壳的外侧，所述绝缘子的下侧面与所述弹簧抵接。
[0016]优选地，所述中心针包括固定探针、内置弹簧与活动探针，所述固定探针的上侧通
过所述第一绝缘子固定在所述金属上壳的内部，所述固定探针的下侧为下端开口的凹槽结构，所述内置弹簧位于所述凹槽结构内，所述内置弹簧的下端与所述活动探针连接。
[0017]本技术的有益效果在于：通过在金属下壳的底部设置爪状结构，可以有效提高测试连接器与待测连接器的接触稳定性，增强接地效果，与此同时，并在金属下壳的底部套设套筒，避免射频信号的泄露，对于信号传输具有优异的屏蔽效果，减少了射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高了测试连接器的测试准确度，同时还具有保护爪状结构的作用，增强测试连接器的可靠性以及提高测试连接器的使用寿命。
附图说明
[0018]图1为本技术实施例中测试连接器的结构示意图；
[0019]图2为本技术实施例中测试连接器的剖面示意图；
[0020]图3为本技术实施例中测试连接器的结构爆炸示意图；
[0021]图4为本技术实施例中金属下壳的结构示意图；
[0022]图5为本技术实施例中金属下壳的剖面示意图。
[0023]附图标记：10、金属上壳；20、金属下壳；21、筒状结构；22、台阶结构；23、爪状结构；231、竖直段；232、敞口段；233、凸台；30、套筒；40、中心针；50、第一绝缘子；60、第二绝缘子；70、弹簧；80、第三绝缘子；90、固定法兰。
具体实施方式
[0024]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施的限制。
[0025]本申请实施例通过提供一种测试连接器，解决现有技术中测试连接器与同轴连接器座的外壳的接触区域直接裸露在外，会造成射频信号流失，在测试过程中容易造成失真的技术问题。需要说明的是，在本申请中，金属上壳相对于金属下壳所在的方向为上、上侧、上部、上端或者顶、顶部，与之相反的方向为下、下侧、下部、下端或者底、底部。
[0026]如图1至图5所示，为本申请实施例：
[0027]一种测试连接器，包括金属上壳10、金属下壳20、套管30、中心针40、第一绝缘子50、第二绝缘子60与弹簧70。其中，金属下壳20套设在金属上壳10的下侧，弹簧70套设在金属上壳10的外侧，且与金属下壳20的上侧面抵接。金属下壳20的下侧设有爪状结构23，套管30套设在爪状结构23的外侧，即套管30套设在金属下壳20的下侧，爪状结构23位于套管30的内部，防止射频信号从爪状结构23处泄露造成信号失真，同时还可以防止爪状结构23过度变形影响测试连接器的使用稳定性能，进而有利于提高测试连接器的使用寿命。一般而言，金属上壳10与金属下壳20为同轴设置的圆筒型结构，中心针40贯穿设置于金属上壳10与金属下壳20的内部。中心针40的上侧通过第一绝缘子50与金属上壳10绝缘相接，其下侧通过第二绝缘子60与金属下壳20绝缘相接，与此同时，通过设置第一绝缘子50与第二绝缘子60可以防止中心针40在测试过程中发生晃动，在提高中心针40结构强度的同时，还有利
于保证测试的准确度。
[0028]为解决现有技术中测试连接器与同轴连接器座的外壳的接触区域直接裸露在外，会造成射频信号流失，在测试过程中容易造成失真的技术问题，本申请通过在金属下壳的底部设置爪状结构，可以有效提高测试连接器与待测连接器的接触稳定性，增强接地效果，与此同时，并在金属下壳的底部套设套筒，避免射频信号的泄露，对于信号传输具有优异的屏蔽效果，减少了射频信号的流失，保证了信号在测试过程中的真实度，提高了测试连接器的测试准确度，同时还具有保护爪状结构的作用，增强测试连接器的可靠性以及提高测试连接器的使用寿命。
[0029]优选地，如图4与图5所示，金属下壳20包括从上至下依次设置的筒状结构21、台阶结构22与爪状结构23。套筒30套设在台阶结构22的外侧，爪状结构23位于套筒30的内部。更为具体地，台阶结构22的最大外径不大于筒状结构21的外径，且台阶结构22的最大外径大于爪状结构23的最大外径，这样可以确保爪状结构23位于套筒30内部具有一定的弹性空间，进而有利于改善测试连接器与待测连接器的接触本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试连接器，其特征在于，包括金属上壳、金属下壳、套筒、中心针、第一绝缘子、第二绝缘子与弹簧，其中：所述金属下壳套设在所述金属上壳的下侧，所述弹簧套设在所述金属上壳的外侧且与所述金属下壳的上侧面抵接；所述金属下壳的下侧设有爪状结构，所述套筒套设在所述金属下壳的下侧，且所述爪状结构位于所述套筒内；所述中心针贯穿设置于所述金属上壳与所述金属下壳内部，所述中心针通过所述第一绝缘子与所述金属上壳绝缘相接，所述中心针通过所述第二绝缘子与所述金属下壳绝缘相接。2.根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于：所述金属下壳包括从上至下依次设置的筒状结构、台阶结构与爪状结构，所述套筒套设在所述台阶结构的外侧，所述爪状结构位于所述套筒内部。3.根据权利要求2所述的测试连接器，其特征在于：所述爪状结构包括竖直段与敞口段，所述竖直段与所述台阶结构相接，所述敞口段的外径随与所述台阶结构的距离增大而...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕银涛，李兴玉，胡宁伟，
申请(专利权)人：电连技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：