一种用于无损观察硅钢片磁畴的装置制造方法及图纸

本申请具体涉及一种用于无损观察硅钢片磁畴的装置，属于磁畴观察领域，包括显微镜和测试台，所述显微镜包括物镜和载物台；所述测试台设于所述物镜与所述载物台之间，所述测试台包括载物板、中间部件和底板，所述中间部件包括第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨设于所述第二滑轨的顶部，所述第一滑轨与所述第二滑轨不平行，所述载物板沿所述第一滑轨滑动设置，所述底板沿所述第二滑轨滑动设置。载物板可以沿第一滑轨滑动，中间部件可以在底板的顶面沿第二滑轨进行滑动，在调整硅钢片的位置时，无需触碰并移动硅钢片，而是移动载物板以及中间部件来调整硅钢片在物镜下的位置，使得调整硅钢片位置时硅钢片的磁性粒子分布不会发生变化。发生变化。发生变化。

【技术实现步骤摘要】
一种用于无损观察硅钢片磁畴的装置


[0001]本申请涉及磁畴观察领域，尤其涉及一种用于无损观察硅钢片磁畴的装置。

技术介绍

[0002]磁畴是一个铁性物体中微小的磁性区域。目前，观察磁畴的方式包括粉纹法、克尔显微镜观察法、电子显微镜和原子力显微镜等方法。除粉纹法外，其他方式都需要制备样品，对材料进行切割、磨样和抛光，做成磁畴观察所需要的样品，但加工会破坏材料的固有磁畴结构。另一方面，除粉纹法外，其他方法观察的范围通常在微米级以下。再者，目前硅钢片产品有绝缘膜和刻痕，去掉绝缘膜和刻痕会使其固有磁畴会发生变化，不能真实反映固有磁畴状态。
[0003]传统的粉纹法通过将胶体中的铁磁性颗粒放在待测材料表面，然后用光学显微镜观察到磁性粒子不均匀分布，描绘出磁畴的形状，可以直接观察磁畴，不用破坏材料的原始状态。但显微镜观察范围有限，需要观察硅钢片其他位置时，移动硅钢片会导致磁性粒子分布发生变化，使得观察到的磁畴不准确。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种用于无损观察硅钢片磁畴的装置，以解决现有技术的粉纹法中移动硅钢片会使磁性粒子分布发生变化的技术问题。
[0005]本申请实施例提供一种用于无损观察硅钢片磁畴的装置，包括：
[0006]显微镜，所述显微镜包括物镜和载物台，所述物镜设于所述载物台上方；
[0007]测试台，所述测试台设于所述物镜与所述载物台之间，所述测试台包括载物板、中间部件和底板，所述中间部件包括第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨设于所述第二滑轨的顶部，所述第一滑轨与所述第二滑轨不平行，所述载物板沿所述第一滑轨滑动设置，所述底板沿所述第二滑轨滑动设置。
[0008]可选的，所述第一滑轨包括两根平行设置的顶梁，所述第二滑轨包括两根平行设置的底梁，所述顶梁垂直地设于所述底梁的顶部。
[0009]可选的，所述测试台还包括调节机构，所述调节机构包括横向调节组件和纵向调节组件，所述横向调节组件和纵向调节组件均设于所述顶梁，所述横向调节组件与所述载物板连接，用以调节所述载物板与所述第一滑轨的相对位置，所述纵向调节组件与所述底板连接，用以调节底板与所述第二滑轨的相对位置。
[0010]可选的，所述横向调节组件包括横向调节旋钮和横向调节齿轮，所述横向调节旋钮和所述横向调节齿轮同轴连接，所述横向调节旋钮设于所述顶梁的顶部，所述载物板的侧面设有与所述横向调节齿轮啮合的横向调节齿条。
[0011]可选的，所述纵向调节组件包括纵向调节旋钮和纵向调节齿轮，所述纵向调节旋钮和所述纵向调节齿轮同轴连接，所述纵向调节旋钮设于所述顶梁的顶部，所述载物板的侧面设有与所述纵向调节齿轮啮合的纵向调节齿条。
[0012]可选的，还包括振动部件，所述振动部件与所述硅钢片可拆卸连接。
[0013]可选的，所述载物板和所述底板的中部沿竖直方向分别开设有第一通孔和第二通孔。
[0014]可选的，还包括磁场发生部件，所述磁场发生部件与所述硅钢片可拆卸连接。
[0015]可选的，还包括固定部件，所述固定部件设于所述载物板的顶面，用以固定所述硅钢片。
[0016]可选的，还包括外置光源，所述外置光源与所述物镜固定连接。
[0017]本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
[0018]本申请实施例通过在所述物镜与所述载物台之间设置所述测试台，包括载物板、中间部件和底板，所述中间部件包括第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨设于所述第二滑轨的顶部，所述第一滑轨与所述第二滑轨不平行，所述载物板沿所述第一滑轨滑动设置，所述底板滑动沿所述第二滑轨滑动设置，使得载物板可以沿第一滑轨滑动，中间部件可以在底板的顶面沿第二滑轨进行滑动，在调整硅钢片的位置时，无需触碰并移动硅钢片，而是移动载物板以及中间部件来调整硅钢片在物镜下的位置，使得调整硅钢片位置时硅钢片的磁性粒子分布不会发生变化。
附图说明
[0019]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。
[0020]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为本申请实施例提供的一种用于无损观察硅钢片磁畴的装置的结构示意图；
[0022]图2为本申请实施例提供的测试台的结构示意图；
[0023]图3为本申请实施例提供的测试台的爆炸结构示意图；
[0024]图4为本申请实施例提供的调节机构的结构示意图；
[0025]图5为本申请实施例1提供的观察方法的示意图；
[0026]图6
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1、图6
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2为本申请实施例1观察到的磁畴形态图；
[0027]图7为本申请实施例2提供的观察方法的示意图；
[0028]图8
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1、图8
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2、图8
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3、图8
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4为本申请实施例2观察到的磁畴形态图；
[0029]图9为本申请实施例3提供的观察方法的示意图；
[0030]图10
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1、图10
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2、图10
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3为本申请实施例3观察到的磁畴形态图；
[0031]图11为本申请实施例4提供的观察方法的示意图；
[0032]图12
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1、图12
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2、图12
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3、图12
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4、图12
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5、图12
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6为本申请实施例4观察到的磁畴结构图；
[0033]图13为本申请实施例5提供的观察方法的示意图；
[0034]图14
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1、图14
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2、图14
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3、图14
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4、图14
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5、图14
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6、图14
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7、图14
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8为本申请实施例5观察到的磁畴形态图；
[0035]图15为本申请实施例6提供的观察方法的示意图；
[0036]图16
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1、图16
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2、图16
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3、图16
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4为本申请实施例6观察到的磁畴图案。
[0037]附图标记：
[0038]1‑
显微镜，11
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物镜，12
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载物台；
[0039]2‑
测试台，21
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载物板，211
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横向调节齿条，212
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第一通孔，22
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中间部件，221<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于无损观察硅钢片磁畴的装置，其特征在于，包括：显微镜(1)，所述显微镜(1)包括物镜(11)和载物台(12)，所述物镜(11)设于所述载物台(12)上方；测试台(2)，所述测试台(2)设于所述物镜(11)与所述载物台(12)之间，所述测试台(2)包括载物板(21)、中间部件(22)和底板(23)，所述中间部件(22)包括第一滑轨(221)和第二滑轨(222)，所述第一滑轨(221)设于所述第二滑轨(222)的顶部，所述第一滑轨(221)与所述第二滑轨(222)不平行，所述载物板(21)沿所述第一滑轨(221)滑动设置，所述底板(23)沿所述第二滑轨(222)滑动设置。2.根据权利要求1所述的用于无损观察硅钢片磁畴的装置，其特征在于，所述第一滑轨(221)包括两根平行设置的顶梁(2211)，所述第二滑轨(222)包括两根平行设置的底梁(2221)，所述顶梁(2211)垂直地设于所述底梁(2221)的顶部。3.根据权利要求2所述的用于无损观察硅钢片磁畴的装置，其特征在于，所述测试台(2)还包括调节机构(24)，所述调节机构(24)包括横向调节组件(241)和纵向调节组件(242)，所述横向调节组件(241)和纵向调节组件(242)均设于所述顶梁(2211)，所述横向调节组件(241)与所述载物板(21)连接，用以调节所述载物板(21)与所述第一滑轨(221)的相对位置，所述纵向调节组件(242)与所述底板(23)连接，用以调节所述底板(23)与所述第二滑轨(222)的相对位置。4.根据权利要求3所述的用于无损观察硅钢片磁畴的装置，其特征在于，所述横向调节组件(241)...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘兆月，徐佳平，龙毅，叶荣昌，黎先浩，赵松山，于海彬，陈继冬，
申请(专利权)人：首钢智新迁安电磁材料有限公司，
类型：新型
国别省市：