一种膜元件长度测量规制造技术

本实用新型专利技术公开了一种膜元件长度测量规，其包括边板和基座，所述边板对称设置在基座的两端，所述基座和边板之间形成有测量通道，所述基座朝向测量通道的表面设置有具有一侧开口的内槽，所述开口沿内槽的槽底方向贯穿所述表面，所述内槽的槽底到边板的底面的距离大于表面到边板的底面的距离。本实用新型专利技术中膜元件长度测量规通过设置内槽的槽底与表面到边板的底面的间距具有长度差，来测量膜元件的长度，能快速无误的判断膜元件的长度是否在误差范围内，操作简单，方便快捷，大大提高测量效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种膜元件长度测量规


[0001]本技术涉及长度测量
，尤其涉及一种膜元件长度测量规。

技术介绍

[0002]反渗透膜是目前最微细的过滤技术，可以阻挡所有溶解的无机分子、细菌、病毒以及任何相对分子量大于100的有机物，水分子可以通过反渗透膜成为纯水，反渗透膜已经广泛应用于环境、制药、化工、工业等多个行业和领域。反渗透膜作为一个中间产品，最终要卷制成膜元件才能实现水分子和污染物分离。反渗透膜元件一般由反渗透膜与原水流道隔网、产水流道隔网、产水中心管用胶粘剂等组装在一起，实现进水与产水分开。
[0003]膜元件的长度是一项必检项目，原因在于膜元件在后续应用过程中，是要将多个膜元件并列放置于膜壳中，市场上的膜壳为标准件，具有标准长度，如果每个膜元件的长度超标，则膜壳内装上多个膜元件串联后会整体超长，膜壳就无法容纳。因此使每一个膜元件的长度在标准范围之内，显得非常重要。目前通常采用卡尺对膜元件进行测量，具有人为误差，且测量的速度慢、效率低。
[0004]因此，有必要提出一种新的技术方案。

技术实现思路

[0005]为解决现有技术中存在的技术问题，本技术公开了一种膜元件长度测量规，其包括边板和基座，所述边板对称设置在基座的两端，所述基座和边板之间形成有测量通道，所述基座朝向测量通道的表面设置有具有一侧开口的内槽，所述开口沿内槽的槽底方向贯穿所述表面，所述内槽的槽底到边板的底面的距离大于表面到边板的底面的距离。
[0006]进一步的，所述内槽的槽底面、表面和底面相互平行。
[0007]进一步的，所述内槽的槽底与边板的底面的间距为26mm，所述表面与边板的底面的间距为24mm。
[0008]进一步的，沿测量通道的连通方向，所述测量通道的两端具有第一开口和第二开口，所述开口延伸至第一开口处。
[0009]进一步的，所述膜元件长度测量规通过第一开口将中心管朝向第二开口移送，所述中心管轴向方向与测量通道的连通方向垂直，所述中心管能够进入内槽的下方，且受到内槽内壁的阻挡，所述膜元件的长度合格。
[0010]进一步的，所述边板位于第一开口的两侧沿所述测量通道连通方向向外延伸。
[0011]与现有技术相比，本技术的膜元件长度测量规具有如下一个或多个有益效果：
[0012](1)本技术中膜元件长度测量规通过设置内槽的槽底与表面到边板的底面的间距具有长度差，来测量膜元件的长度，能快速无误的判断膜元件的长度是否在误差范围内，操作简单，方便快捷，大大提高测量效率。
附图说明
[0013]图1为本技术实施例中膜元件长度测量规与膜元件配合使用的效果图；
[0014]图2为图1的A部放大示意图；
[0015]图3为本技术实施例中膜元件长度测量规的结构示意图；
[0016]图4为本技术实施例中膜元件长度测量规的另一角度的结构示意图；
[0017]其中，1、左边板；2、右边板；3、基座；4、测量通道；5、内槽；6、表面；7、底面；8、第一开口、9、第二开口；10、膜元件；11、中心管；12、膜元件长度测量规。
具体实施方式
[0018]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0019]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0020]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以使固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以使直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0021]请参阅图3和图4，本技术公开一种膜元件长度测量规12，其包括边板和基座3，所述边板包括左边板1和右边板2，所述左边板1和右边板2之间连接有所述基座3，所述左边板1和右边板2对称位于在基座3的两端，所述基座3，左边板1和右边板2之间形成有测量通道4，所述基座3朝向测量通道4内的表面6设置有具有一侧开口的内槽5，所述开口沿内槽的槽底方向贯穿所述表面6，所述内槽5的槽底到边板的底面7的距离大于表面6到边板的底面7的距离。
[0022]所述内槽5的槽底面、表面6和底面7相互平行。沿测量通道4的连通方向，所述测量通道4的两端具有第一开口8和第二开口9，所述开口延伸至第一开口8处。
[0023]本实施例中，请参阅图1和图2，以四英寸膜元件为例，通过膜壳的标准长度计算出膜元件10的中心管11自膜元件端面凸出的标准长度应该为25mm，其中误差为1mm，通过对中心管11凸出的长度进行测量即可快速得知膜元件的长度是否在标准范围内。通过将所述内槽5的槽底到边板的底面7的长度设置为中心管11凸出长度所能允许的上限，将表面6到边板的底面7的长度设置为中心管11凸出长度所能允许的下限。具体的，所述内槽5的槽底与边板的底面7的间距为26mm，所述表面6与边板的底面7的间距为24mm。
[0024]膜元件长度测量规12检测膜元件10长度时，膜元件长度测量规12通过第一开口8使膜元件的中心管11进入测量通道4内，并朝向第二开口9移动，所述中心管11轴向与所述
测量通道4的连通方向垂直，若中心管能够进入内槽5的下方内，且受到内槽5的内壁的阻挡，不能进入表面6的下方时，膜元件的长度合格。具体实施时，请参阅图1和图2，将膜元件长度测量规12水平放置在膜元件10的端面上，测量规的边板的底面7水平贴紧膜元件10的端面上，通过朝向中心管11来水平移动测量规，若中心管11无法进入测量通道4内，则说明中心管11凸出的长度大于26mm，此时的膜元件10不合格；若测量规能够进入内槽5内下方，且能受到内槽5的内壁的阻挡，不能进入表面6的下方时，说明中心管11凸出的长度符合误差所允许的范围内，为24mm至26mm，此时的膜元件10合格；若测量规能够进入内槽4下方内，且未受到内槽5的内壁的阻挡，可进入至表面6的下方，能够穿过第二开口9，说明中心管11凸出的长度小于24mm，此时的膜元件10为不合格产品。
[0025]在一种实施例中，所述边板位于第一开口8的两侧沿所述测量通道4连通方向向外延伸，使得将膜元件长度测量规12朝向中心管移动时，能够快速判断内槽5所处的方位，方便将膜元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种膜元件长度测量规，其特征在于，包括边板和基座(3)，所述边板对称设置在基座(3)的两端，所述基座(3)和边板之间形成有测量通道(4)，所述基座(3)朝向测量通道(4)的表面(6)设置有具有一侧开口的内槽(5)，所述开口沿内槽的槽底方向贯穿所述表面(6)，所述内槽(5)的槽底到边板的底面(7)的距离大于表面(6)到边板的底面(7)的距离。2.根据权利要求1所述的膜元件长度测量规，其特征在于，所述内槽(5)的槽底面、表面(6)和底面(7)相互平行。3.根据权利要求2所述的膜元件长度测量规，其特征在于，所述内槽(5)的槽底与边板的底面(7)的间距为26mm，所述表面(6)与边板的底面(...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺光辉，成培斌，杨国勇，詹望喜，
申请(专利权)人：苏州苏瑞膜纳米科技有限公司，
类型：新型
国别省市：