光检测设备制造技术

本发明专利技术涉及一种光检测设备。该光检测设备可包括：第一基板，第一基板包括：多个像素，多个像素包括第一像素，第一像素包括第一转换元件，以及差分放大电路的第一部分，差分放大电路的第一部分经由传输晶体管、浮动扩散部和电容器连接到第一转换元件；和第二基板，第二基板层压到第一基板，第二基板包括：差分放大电路的第二部分，差分放大电路的第一部分连接到差分放大电路的第二部分；其中，差分放大电路的第一部分和差分放大电路的第二部分通过金属接合电连接，电容器串联连接在浮动扩散部和差分放大电路的第一输入之间，并且反馈晶体管连接到差分放大电路的第一部分的第一输入，并且配置为初始化差分放大电路。且配置为初始化差分放大电路。且配置为初始化差分放大电路。

【技术实现步骤摘要】
光检测设备
[0001]本申请是申请日为2018年6月27日、专利技术名称为“摄像装置”的申请号为201880047158.0的专利申请的分案申请。


[0002]本公开涉及摄像装置。

技术介绍

[0003]关于获得高质量图像的摄像元件的技术已经得到开发。当通过光电转换获得的电荷转换为电压信号时，通过适应性地改变转换效率来获得高质量图像的技术的示例包括下面专利文献1中所述的技术。
[0004]引用列表
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：JP 2016
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92661 A

技术实现思路

[0007]技术问题
[0008]例如，在专利文献1所述的摄像元件中，通过光电转换获得的电压信号输入到差分放大电路，并且放大电压信号，放大的电压信号通过针对每个像素设置的模数转换器(AD转换器)转换为数字信号。通过浮动扩散层累积由光电转换获得的电荷并将其转换为电压信号以获得电压信号。
[0009]在现有构造中，其中针对每个像素或针对多个像素设置AD转换器，通过光电转换获得的电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光检测设备，其包括：第一基板，所述第一基板包括：多个像素，所述多个像素包括第一像素，所述第一像素包括第一转换元件，以及差分放大电路的第一部分，所述差分放大电路的第一部分经由传输晶体管、浮动扩散部和电容器连接到所述第一转换元件；和第二基板，所述第二基板层压到所述第一基板，所述第二基板包括：所述差分放大电路的第二部分，所述差分放大电路的所述第一部分连接到所述差分放大电路的所述第二部分；其中，所述差分放大电路的所述第一部分和所述差分放大电路的所述第二部分通过金属接合电连接，所述电容器串联连接在所述浮动扩散部和所述差分放大电路的第一输入之间，并且反馈晶体管连接到所述差分放大电路的所述第一部分的所述第一输入，并且配置为初始化所述差分放大电路。2.根据权利要求1所述的光检测设备，其中，所述第一基板和所述第二基板通过连接焊盘电连接。3.根据权利要求2所述的光检测设备，其中，所述第一转换元件和所述多个像素中的第二像素的第二转换元件共用所述浮动扩散部。4.根据权利要求3所述的光检测设备，其中，所述差分放大电路的所述第一部分包括所...

【专利技术属性】
技术研发人员：山下浩史，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：