一种用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路及方法技术

本发明专利技术公开了一种用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路及方法，包括工频耐压装置、保护电阻、开关试品、串联电容、第一电阻分压器及第二电阻分压器；工频耐压装置的一端与保护电阻的一端相连接，保护电阻的另一端与开关试品的一端及第一电阻分压器的一端相连接，开关试品的另一端与串联电容的一端及第二电阻分压器的一端相连接，工频耐压装置的另一端、第一电阻分压器的另一端、第二电阻分压器的另一端及串联电容的另一端均接地，该回路及方法能够实现开关工频耐压动态绝缘测试。实现开关工频耐压动态绝缘测试。实现开关工频耐压动态绝缘测试。

【技术实现步骤摘要】
一种用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路及方法


[0001]本专利技术涉及一种测试回路及方法，具体涉及一种用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路及方法。

技术介绍

[0002]工频耐压试验是考核开关绝缘性能的关键试验，在开关的出厂、现场交接等都需要进行工频耐压试验的考核，目前，工频耐压仅能进行静态的绝缘考核，即开关处于分闸状态或者合闸状态，当开关处于分闸或者合闸状态这种静止状况时，其内部如果存在自由颗粒等异常状况，包括开关在动作过程中的绝缘状况，静态的绝缘考核是不完善的，尤其是经过多次分合后的开关设备，其内部状况更为复杂，因此需要开展开关工频耐压动态绝缘测试，保证开关设备的安全运行。
[0003]参考图1，当开关处于合闸位置时，由于接地保护的原因对于常规的耐压测试回路是不能施加电压的(相当于工频耐压装置对地短路)，因此常规的耐压试验回路无法进行开关工频耐压动态绝缘测试。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供了一种用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路及方法，该回路及方法能够实现开关工频耐压动态绝缘测试。
[0005]为达到上述目的，本专利技术所述的用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路包括工频耐压装置、保护电阻、开关试品、串联电容、第一电阻分压器及第二电阻分压器；
[0006]工频耐压装置的一端与保护电阻的一端相连接，保护电阻的另一端与开关试品的一端及第一电阻分压器的一端相连接，开关试品的另一端与串联电容的一端及第二电阻分压器的一端相连接，工频耐压装置的另一端、第一电阻分压器的另一端、第二电阻分压器的另一端及串联电容的另一端均接地。
[0007]串联电容的电容值大于开关试品在分闸位置时的断口等效电容。
[0008]本专利技术所述的用于开关工频耐压动态绝缘测试的方法包括以下步骤：
[0009]1)在试验开始时，使开关试品处于合闸位置，提高工频耐压装置的电压，使电压升至开关试品需要的试验电压，由于开关试品处于合闸位置，此时开关试品的断口等效电容为零，因此试验电压全部施加在串联电容上；
[0010]2)向开关试品发出分闸指令，开关试品接到分闸指令后开始分闸，当开关试品分闸时，此时开关试品的断口等效电容小于串联电容的电容值，工频电压主要施加在开关试品上，因此此时开关试品的电压为第一电阻分压器上的电压U1减去第二电阻分压器上的电压U2，以实现开关工频耐压动态绝缘试验。
[0011]本专利技术具有以下有益效果：
[0012]本专利技术所述的用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路及方法在具体操作时，根据开关试品的电压等级要求，预先升至所需电压，并实现动态分闸过程中的工频耐压试验；同
时由于开关试品分闸过程的断口等效电容随开距的增加而减小，因此，在开关样品分闸过程中，施加于开关试品开关断口的测试电压随开距的增加而提高，这与开关试品分断过程所承受的系统暂态恢复电压特性相一致，即，开关试品的电压为第一电阻分压器上的电压U1减去第二电阻分压器上的电压U2，以实现开关工频耐压动态绝缘试验，结构简单，操作方便，实用性极强。
附图说明
[0013]图1为现有技术结构示意图；
[0014]图2为本专利技术的结构示意图；
[0015]图3为U1、U2及U1
‑
U2的电压波形图；
[0016]图4为U1及(U1
‑
U2)上的电压局部放大图；
[0017]图5为U2上的电压波形图。
[0018]其中，1为工频耐压装置、2为保护电阻、3为开关试品、4为串联电容、5为第一电阻分压器、6为第二电阻分压器。
具体实施方式
[0019]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，不是全部的实施例，而并非要限制本专利技术公开的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要的混淆本专利技术公开的概念。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0020]在附图中示出了根据本专利技术公开实施例的结构示意图。这些图并非是按比例绘制的，其中为了清楚表达的目的，放大了某些细节，并且可能省略了某些细节。图中所示出的各种区域、层的形状及它们之间的相对大小、位置关系仅是示例性的，实际中可能由于制造公差或技术限制而有所偏差，并且本领域技术人员根据实际所需可以另外设计具有不同形状、大小、相对位置的区域/层。
[0021]参考图2，本专利技术所述的用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路包括工频耐压装置1、保护电阻2、开关试品3、串联电容4、第一电阻分压器5及第二电阻分压器6；
[0022]工频耐压装置1的一端与保护电阻2的一端相连接，保护电阻2的另一端与开关试品3的一端及第一电阻分压器5的一端相连接，开关试品3的另一端与串联电容4的一端及第二电阻分压器6的一端相连接，工频耐压装置1的另一端、第一电阻分压器5的另一端、第二电阻分压器6的另一端及串联电容4的另一端均接地。
[0023]根据一般工频耐压设备的允许容量，串联电容4的电容值取3000pF，远大于开关试品3在分闸位置时的断口等效电容。
[0024]本专利技术所述的用于开关工频耐压动态绝缘测试的方法包括以下步骤：
[0025]1)在试验开始时，使开关试品3处于合闸位置，提高工频耐压装置11的电压，使电压升至开关试品3需要的试验电压；
[0026]2)由于开关试品3处于合闸位置，此时开关试品3的断口等效电容为零，因此试验
电压全部施加在串联电容4上；
[0027]3)向开关试品3发出分闸指令，开关试品3接到分闸指令后开始分闸，当开关试品3分开时，开关试品3的断口等效电容的电容值在几pF至几十pF，由于此时开关试品3的断口电容远小于串联电容4的电容值，工频电压主要施加在开关试品3上，因此此时开关试品3的电压为第一电阻分压器5上的电压U1减去第二电阻分压器6上的电压U2，参考图3、图4及图5，以实现开关工频耐压动态绝缘试验；
[0028]4)为减小串联电容4对开关试品3分压带来的影响，本专利技术采用第二电阻分压器6进行电压的测量；
[0029]5)根据开关试品3的耐压大小，调整工频耐压装置1上的电压大小，重复上述步骤1)至步骤3)，实现不同开关试品3、不同电压下的工频耐压动态绝缘试验。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路，其特征在于，包括工频耐压装置(1)、保护电阻(2)、开关试品(3)、串联电容(4)、第一电阻分压器(5)及第二电阻分压器(6)；工频耐压装置(1)的一端与保护电阻(2)的一端相连接，保护电阻(2)的另一端与开关试品(3)的一端及第一电阻分压器(5)的一端相连接，开关试品(3)的另一端与串联电容(4)的一端及第二电阻分压器(6)的一端相连接，工频耐压装置(1)的另一端、第一电阻分压器(5)的另一端、第二电阻分压器(6)的另一端及串联电容(4)的另一端均接地。2.根据权利要求1所述的用于开关工频耐压动态绝缘测试的回路，其特征在于，串联电容(4)的电容值大于开关试品(3)在分闸位置时的断口等效电...

【专利技术属性】
技术研发人员：张高潮，翟小社，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：