统计光模块工作时间的方法、系统、电子设备及存储介质技术方案

本申请提供了统计光模块工作时间的方法、系统、电子设备和存储介质，包括：根据预设的统计频率通过数字诊断监控DDM获取待统计光模块的工作温度以及所述工作温度的持续时间；将所述工作温度和持续时间记录到0x88H区域。以光模块实际使用的情况为模型记录光模块的工作时间，使得光模块工作时间的统计更加准确。使得光模块工作时间的统计更加准确。使得光模块工作时间的统计更加准确。

【技术实现步骤摘要】
统计光模块工作时间的方法、系统、电子设备及存储介质


[0001]本申请属于光模块领域，尤其涉及统计光模块工作时间的方法、系统、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]光模块是现有通信技术中一个重要零部件，是现有光通信中不可或缺的一个环节，如果能准确的了解光模块的工作时间，可以对光模块进行及时的更换，而不会出现因使用寿命而使光模块无法使用的问题。
[0003]现有技术通过恒定高温加速老化工作寿命模型来估计光模块的使用寿命，但在实际使用中，光模块通常的工作温度是在实时变化的，基于恒温的模型显然不能准确的估计光模块的使用寿命。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的主要目的在于提供统计光模块工作时间的方法、系统、电子设备和存储介质，以光模块实际使用的情况为模型记录光模块的工作时间，使得光模块工作时间的统计更加准确。
[0005]第一方面，提供了统计光模块工作时间的方法，所述方法包括：
[0006]根据预设的统计频率通过数字诊断监控DDM获取待统计光模块的工作温度以及所述工作温度的持续时间；
[0007]将所述工作温度和持续时间记录到0x88H区域。
[0008]在一个可能的实现方式中，所述统计频率为10分钟一次。
[0009]在另一个可能的实现方式中，所述将所述工作温度和持续时间统计到0x88H区域，包括：
[0010]根据所述工作温度获取对应的记录区间，并按照16进制将所述持续时间统计到所述记录区间。
[0011]第二方面，提供了一种统计光模块工作时间的系统，所述系统包括：
[0012]数据统计模块，用于根据预设的统计频率通过数字诊断监控DDM获取待统计光模块的工作温度以及所述工作温度的持续时间；
[0013]记录模块，用于将所述工作温度和持续时间记录到0x88H区域。
[0014]在一个可能的实现方式中，所述统计频率为10分钟一次。
[0015]在另一个可能的实现方式中，所述将所述工作温度和持续时间统计到0x88H区域，包括：
[0016]根据所述工作温度获取对应的记录区间，并按照16进制将所述持续时间统计到所述记录区间。
[0017]第三方面，提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时实现如第一方面提供的统计光模块工作时间
的方法。
[0018]第四方面，提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如第一方面提供的统计光模块工作时间的方法。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对本申请实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0020]图1为本专利技术一个实施例提供的统计光模块工作时间的方法的流程图；
[0021]图2为本专利技术一个实施例提供的统计光模块工作时间的系统的结构图；
[0022]图3为本专利技术一种电子设备的实体结构示意图。
[0023]具体实现方式
[0024]下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的模块或具有相同或类似功能的模块。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本专利技术的限制。
[0025]本
技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、模块和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、模块、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称模块被“连接”或“耦接”到另一模块时，它可以直接连接或耦接到其他模块，或者也可以存在中间模块。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一模块和全部组合。
[0026]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实现方式作进一步地详细描述。
[0027]下面以具体地实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如和解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。
[0028]如图1所示为本专利技术一个实施例提供的统计光模块工作时间的方法的流程图，所述方法包括：
[0029]步骤101，根据预设的统计频率通过数字诊断监控DDM获取待统计光模块的工作温度以及所述工作温度的持续时间；
[0030]步骤102，将所述工作温度和持续时间记录到0x88H区域。
[0031]在本专利技术实施例中，DDM(Digital Diagnostic Monitoring，数字诊断监控)是应用于光模块中的一种技术，通过该技术光模块的使用者可以获取光模块的实时参数，包括但不限于：工作温度、工作电压、工作电流、发射功率、接收功率等。当光模块启动时，DDM会根据预设的统计频率定期获取该光模块的工作温度，并记录不同工作温度的持续时间，该持续时间即为光模块在该工作温度下的工作时间。记录的工作温度和持续时间被存储到使用该光模块的设备的0x88H区域。
[0032]其中，统计频率可以根据实际使用的需要进行设置，本申请对此不作限定。优选的，所述统计频率为10分钟一次。
[0033]其中，将所述工作温度和持续时间统计到0x88H区域，包括：
[0034]根据所述工作温度获取对应的记录区间，并按照16进制将所述持续时间统计到所述记录区间。
[0035]在本专利技术实施例中，为了便于记录，统计时可以根据一定的间隔设置记录区间，将不同温度的持续时间记录到该记录区间中，如：光模块在
‑
38℃工作了10分钟，则在
‑
40℃～
‑
35℃的记录区间通过16进制记录为0x000001h。需要指出的是记录区间可以根据实际使用的需要进行设置，本申请对此不作限定。优选的，记录区间的温度间隔为5℃。
[0036]本专利技术实施例，根据预设的统计频率通过数字诊断监控DDM获取待统计光模块的工作温度以及所述工作温度的持续时间；将所述工作温度和持续时间记录到0x88H区域。以光模块实际使用的情况为模型记录光模块的工作时间，使得光模块工作时间的统计更加准确。
[0037]如图2所示为本专利技术一个实施例提供的统计光模块工作时间的系统的结构图，所述系统包括：
[0038]数据统计模块201，用于根据预设的统计频率通过数字诊断监控DDM获取待统计光模块的工作温度以及所述工作温度的持续时间；
[0039]记录模块202，用于将所述工作温度和持续时间记录到0x88H区域。
[0040]在本专利技术实施例中，DDM(D本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种统计光模块工作时间的方法，其特征在于，所述方法包括：根据预设的统计频率通过数字诊断监控DDM获取待统计光模块的工作温度以及所述工作温度的持续时间；将所述工作温度和持续时间记录到0x88H区域。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述统计频率为10分钟一次。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述工作温度和持续时间统计到0x88H区域，包括：根据所述工作温度获取对应的记录区间，并按照16进制将所述持续时间统计到所述记录区间。4.一种统计光模块工作时间的系统，其特征在于，所述系统包括：数据统计模块，用于根据预设的统计频率通过数字诊断监控DDM获取待统计光模块的工作温度以及所述工作温度的持续时间；记录模块，用于将所述工作温度和持续时间记录到...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈梦磊，李林科，吴天书，杨现文，张健，
申请(专利权)人：武汉联特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：