老化电路与老化设备制造技术

本申请公开了一种老化电路与老化设备，老化电路用于对放电管进行老化测试，老化电路包括升压支路、充放电支路与第一电阻支路。升压支路与输入电源、充放电支路及放电管连接，放电管与第一电阻支路连接，充放电支路分别与第一电阻支路及升压支路连接。升压支路用于对输入电源的电压进行升压，并输出第一电压。充放电支路用于在充放电支路两端的电压小于放电管的开启电压时，基于第一电压充电。充放电支路还用于在充放电支路两端的电压大于或等于放电管的开启电压时放电。第一电阻支路用于消耗充放电支路放电时的电能。通过上述方式，能够降低放电管老化测试的成本。够降低放电管老化测试的成本。够降低放电管老化测试的成本。

【技术实现步骤摘要】
老化电路与老化设备


[0001]本申请涉及电子电路
，特别是涉及一种老化电路与老化设备。

技术介绍

[0002]在放电管的生产过程中，需将放电管进行老化测试，以确保放电管使用的可靠性。
[0003]具体过程为，在所生产的放电管中抽取一批样品，并采用专业老化设备对放电管进行老化，继而，在测试过程中，通过测量放电管特性的变化可以确定放电管的质量是否可靠。
[0004]然而，该种专业老化设备的价格较高，导致放电管老化测试成本较高。

技术实现思路

[0005]本申请旨在提供一种老化电路与老化设备，本申请能够降低放电管老化测试的成本。
[0006]为实现上述目的，第一方面，本申请提供一种老化电路，用于对放电管进行老化测试，所述老化电路包括：
[0007]升压支路、充放电支路与第一电阻支路；
[0008]所述升压支路的第一端与输入电源的第一端连接，所述升压支路的第二端与所述输入电源的第二端连接，所述升压支路的第三端分别与所述充放电支路的第一端及所述放电管的第一端连接，所述放电管的第二端与所述第一电阻支路的第一端连接，所述充放电支路的第二端分别与所述第一电阻支路的第二端及所述升压支路的第四端连接；
[0009]所述升压支路用于对输入电源的电压进行升压，并输出第一电压；
[0010]所述充放电支路用于在所述充放电支路两端的电压小于所述放电管的开启电压时，基于所述第一电压充电；
[0011]所述充放电支路还用于在所述充放电支路两端的电压大于或等于所述放电管的开启电压时放电；
[0012]所述第一电阻支路用于消耗所述充放电支路放电时的电能。
[0013]在一种可选的方式中，所述升压支路包括隔离单元与倍压整流单元；
[0014]所述隔离单元的第一端与所述输入电源的第一端连接，所述隔离单元的第二端与所述输入电源的第二端连接，所述隔离单元的第三端分别与所述倍压整流单元的第一端、所述充放电支路的第二端及所述第一电阻支路的第二端连接，所述隔离单元的第四端与所述倍压整流单元的第二端连接，所述倍压整流单元的第三端分别与所述充放电支路的第一端及所述放电管的第一端连接；
[0015]所述隔离单元用于实现所述输入电源与所述倍压整流单元之间的电气绝缘；
[0016]所述倍压整流单元用于对输入电源的电压进行整流与升压，并输出第一电压，其中，所述第一电压为所述输入电源的电压的N倍，N为≥2的整数。
[0017]在一种可选的方式中，所述隔离单元包括隔离变压器；
[0018]所述隔离变压器的第一端与所述输入电源的第一端连接，所述隔离变压器的第二端与所述输入电源的第二端连接，所述隔离变压器的第三端分别与所述倍压整流单元的第一端、所述充放电支路的第二端及所述第一电阻支路的第二端连接，所述隔离变压器的第四端与所述倍压整流单元的第二端连接。
[0019]在一种可选的方式中，所述倍压整流单元包括第一电容、第二电容、第三电容、第一二极管、第二二极管与第三二极管；
[0020]所述第一电容的第一端分别与所述隔离单元的第三端、所述充放电支路的第二端及所述第一电阻支路的第二端连接，所述第一电容的第二端分别与所述第一二极管的阳极、所述第二二极管的阴极及所述第三电容的第一端连接，所述第一二极管的阴极分别与所述隔离单元的第四端及所述第二电容的第一端连接，所述第二电容的第二端分别与所述第二二极管的阳极、所述第三二极管的阴极、所述充放电支路的第一端及所述放电管的第一端连接，所述第三电容的第二端与所述第三二极管的阳极连接。
[0021]在一种可选的方式中，所述老化电路还包括第二电阻支路；
[0022]所述第二电阻支路的第一端与所述升压支路的第三端连接，所述第二电阻支路的第二端分别与所述充放电支路的第一端及所述放电管的第一端连接；
[0023]所述第二电阻支路用于调整所述充放电支路的充电电流，以调整所述充放电支路的充电时间。
[0024]在一种可选的方式中，所述第二电阻支路包括第一电阻；
[0025]所述第一电阻的第一端与所述升压支路的第三端连接，所述第一电阻的第二端分别与所述充放电支路的第一端及所述放电管的第一端连接。
[0026]在一种可选的方式中，所述充放电支路包括第四电容；
[0027]所述第四电容的第一端分别与所述放电管的第一端及所述升压支路的第三端连接，所述第四电容的第二端分别与所述第一电阻支路的第二端及所述升压支路的第四端连接。
[0028]在一种可选的方式中，所述第一电阻支路包括第二电阻；
[0029]所述第二电阻的第一端与所述放电管的第二端连接，所述第二电阻的第二端分别与所述升压支路的第四端及所述充放电支路的第二端连接。
[0030]第二方面，本申请提供一种老化设备，该老化设备包括如上所述的老化电路。
[0031]本申请的有益效果是：本申请提供的老化电路用于对放电管进行老化测试。老化电路包括升压支路、充放电支路与第一电阻支路。在充放电支路两端的电压小于放电管的开启电压时，升压支路对输入电源的电压进行升压后的第一电压为充放电支路进行充电；当充放电支路被充电至其两端的电压大于或等于放电管的开启电压时，放电管导通，充放电支路、第一电阻支路与放电管形成了放电回路，充放电支路进行放电，并且放电的能量通过第一电阻支路进行消耗，在充放电支路放电至其两端的电压小于放电管的开启电压时，充放电支路又开始被第一电压充电。不断重复上述过程，即实现了放电管的老化测试过程。并且，在上述过程中，通过较为简单的硬件结构即实现的放电管的老化测试过程，相对于相关技术中采用专业老化设备进行老化测试的方案，成本较低。
附图说明
[0032]一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
[0033]图1为本申请实施例提供的老化电路的结构示意图；
[0034]图2为本申请另一实施例提供的老化电路的结构示意图；
[0035]图3为本申请实施例提供的老化电路的电路结构示意图。
具体实施方式
[0036]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0037]请参照图1，图1为本申请实施例提供的老化电路的结构示意图。如图1所示，该老化电路100用于对放电管200进行老化测试。老化电路100包括升压支路10、充放电支路20与第一电阻支路30。
[0038]其中，升压支路10的第一端与输入电源300的第一端连接，升压支路10的第二端与输入电源300的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老化电路，其特征在于，用于对放电管进行老化测试，所述老化电路包括：升压支路、充放电支路与第一电阻支路；所述升压支路的第一端与输入电源的第一端连接，所述升压支路的第二端与所述输入电源的第二端连接，所述升压支路的第三端分别与所述充放电支路的第一端及所述放电管的第一端连接，所述放电管的第二端与所述第一电阻支路的第一端连接，所述充放电支路的第二端分别与所述第一电阻支路的第二端及所述升压支路的第四端连接；所述升压支路用于对输入电源的电压进行升压，并输出第一电压；所述充放电支路用于在所述充放电支路两端的电压小于所述放电管的开启电压时，基于所述第一电压充电；所述充放电支路还用于在所述充放电支路两端的电压大于或等于所述放电管的开启电压时放电；所述第一电阻支路用于消耗所述充放电支路放电时的电能。2.根据权利要求1所述的老化电路，其特征在于，所述升压支路包括隔离单元与倍压整流单元；所述隔离单元的第一端与所述输入电源的第一端连接，所述隔离单元的第二端与所述输入电源的第二端连接，所述隔离单元的第三端分别与所述倍压整流单元的第一端、所述充放电支路的第二端及所述第一电阻支路的第二端连接，所述隔离单元的第四端与所述倍压整流单元的第二端连接，所述倍压整流单元的第三端分别与所述充放电支路的第一端及所述放电管的第一端连接；所述隔离单元用于实现所述输入电源与所述倍压整流单元之间的电气绝缘；所述倍压整流单元用于对输入电源的电压进行整流与升压，并输出第一电压，其中，所述第一电压为所述输入电源的电压的N倍，N为≥2的整数。3.根据权利要求2所述的老化电路，其特征在于，所述隔离单元包括隔离变压器；所述隔离变压器的第一端与所述输入电源的第一端连接，所述隔离变压器的第二端与所述输入电源的第二端连接，所述隔离变压器的第三端分别与所述倍压整流单元的第一端、所述充放电支路的第二端及所述第一电阻支路的第二端连接，所述隔离变压器的第四端与所述倍压整流单元的第二端连接。4.根据权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈天翼，
申请(专利权)人：深圳和而泰智能控制股份有限公司，
类型：新型
国别省市：