找中检测治具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种找中检测治具，包括第一支架、第二支架、中推组件以及检测组件，所述第一支架可用于承载待测产品，所述中推组件安装在所述第一支架与第二支架之间，所述检测组件安装在所述第二支架上，所述第二支架可向靠近或远离所述第一支架的方向运动；所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述中推组件可推动所述第一支架上的待测产品，使所述第一支架上的待测产品的中心推至第一支架的中心；所述检测组件用于对位于所述第一支架的中心的待测产品的孔位进行检测。该找中检测治具通过在第一支架与第二支架之间安装中推组件，通过第一支架对待测产品进行承载，同时在第二支架上安装检测组件，达到实现待测产品的快速找中的目的。快速找中的目的。快速找中的目的。

【技术实现步骤摘要】
找中检测治具


[0001]本技术涉及产品检测
，特别是涉及一种找中检测治具。

技术介绍

[0002]现有加工完成的产品上常存在部分孔结构，在产品出货前，通常需要对产品进行检测，其中包括对孔的位置度进行检测。一般来说，在检测时，客户常要求以中心线为尺寸基准。而现有的检具检测方案一般采用边定位的模式，在测量当中将存在很大的误差隐患(如定位与基准不一致)，导致检测结果不真实。而采用三次元的方式进行检测，则耗时较长。

技术实现思路

[0003]基于此，本技术提供一种找中检测治具，通过在所述第一支架与所述第二支架之间安装中推组件，通过所述第一支架对待测产品进行承载，同时在所述第二支架上安装检测组件，达到实现待测产品的快速找中的目的。
[0004]一种找中检测治具，包括第一支架、第二支架、中推组件以及检测组件，所述第一支架可用于承载待测产品，所述中推组件安装在所述第一支架与所述第二支架之间，所述检测组件安装在所述第二支架上，所述第二支架可向靠近或远离所述第一支架的方向运动；
[0005]所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述中推组件可推动所述第一支架上的待测产品，使所述第一支架上的待测产品的中心推至所述第一支架的中心；所述检测组件用于对位于所述第一支架的中心的待测产品的孔位进行检测。
[0006]在其中一个实施例中，所述中推组件包括中推模块以及中推驱动模块，所述中推模块安装在所述第一支架上，所述中推驱动模块安装在所述第二支架上；
[0007]所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述中推驱动模块可驱动所述中推模块运动，以使所述中推模块可推动所述第一支架上的待测产品的中心至所述第一支架的中心。
[0008]在其中一个实施例中，所述中推模块包括若干第一推块，所述第一推块沿所述第一支架的长度或宽度方向滑动连接在所述第一支架上；
[0009]若干所述第一推块中，至少两个所述第一推块分别设于所述第一支架的相对的两个边缘。
[0010]在其中一个实施例中，所述第一支架的边缘设置有若干滑孔，所述滑孔沿所述第一支架的长度或宽度方向延伸；每一所述滑孔至少滑动连接有一个所述第一推块；
[0011]位于所述第一支架的同一侧边缘的所述第一推块可通过一连接块进行连接，所述连接块与所述第一支架滑动连接。
[0012]在其中一个实施例中，所述中推驱动模块包括设置在所述第二支架的边缘的若干第二推块，若干所述第二推块与若干所述第一推块一一对应设置；
[0013]所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述第二推块位于所述第一推块背向所述第一支架的中心的一侧，所述第二推块可推动与其对应的所述第一推块向靠近所述第一支架的中心的方向滑动。
[0014]在其中一个实施例中，所述第一推块沿其滑动方向且背向所述第一支架的中心的一侧形成有第一斜面；
[0015]所述第二推块朝向所述第一推块的一侧形成有第二斜面；
[0016]所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述第二斜面与所述第一斜面滑动接触。
[0017]在其中一个实施例中，所述第一支架背向待测产品的一侧设置有抵接块以及若干弹性件，若干所述弹性件与若干所述第一推块一一对应设置，各所述弹性件弹性支撑在与其对应的所述第一推块与所述抵接块之间。
[0018]在其中一个实施例中，所述检测组件包括安装在所述第二支架上的测试销；
[0019]所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，若所述测试销可与位于所述第一支架的中心的待测产品的孔位接触，则该待测产品为合格品。
[0020]在其中一个实施例中，所述第一支架上设置有定位销，所述第二支架上设置有定位孔；
[0021]所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述定位销可插接在所述定位孔内。
[0022]在其中一个实施例中，所述第一支架朝向待测产品的一侧设置有限位块，所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时可与所述限位块抵接。
[0023]上述找中检测治具，在所述第一支架与所述第二支架之间安装中推组件，通过所述第一支架对待测产品进行承载，同时在所述第二支架上安装检测组件。当所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述中推组件将使所述第一支架上的待测产品逐渐推至所述第一支架的中心位置，使待测产品的中心与所述第一支架的中心对齐，再由所述检测组件对位于所述第一支架的中心的待测产品的孔位进行检测。若待测产品的孔位合格，则该待测产品为及格品；若待测产品的孔位不合格，则该待测产品为不良品。该找中检测治具可实现待测产品的快速找中，以便在测量中快速的检测出待测产品的真实值，同时可更直观的管理品质，还可使更加工工艺更加完善。
附图说明
[0024]图1为本技术的找中检测治具的结构示意图；
[0025]图2为图1中第二支架、中推驱动模块及检测组件的结构示意图；
[0026]图3为图2的另一角度的结构示意图；
[0027]图4为图1中第一支架及中推模块的结构示意图；
[0028]图5为图4的另一角度的结构示意图。
[0029]附图中各标号的含义为：
[0030]100
‑
找中检测治具；
[0031]1‑
第一支架；11
‑
滑孔；12
‑
定位销；13
‑
限位块；
[0032]2‑
第二支架；21
‑
定位孔；
[0033]3‑
中推组件；31
‑
中推模块；311
‑
第一推块；3111
‑
第一斜面；312
‑
连接块；313
‑
抵接块；314
‑
弹性件；315
‑
滑轨；32
‑
中推驱动模块；321
‑
第二推块；3211
‑
第二斜面；
[0034]4‑
检测组件；41
‑
测试销；
[0035]200
‑
待测产品；201
‑
孔位。
具体实施方式
[0036]为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。
[0037]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
[0038]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种找中检测治具，其特征在于：包括第一支架、第二支架、中推组件以及检测组件，所述第一支架可用于承载待测产品，所述中推组件安装在所述第一支架与所述第二支架之间，所述检测组件安装在所述第二支架上，所述第二支架可向靠近或远离所述第一支架的方向运动；所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述中推组件可推动所述第一支架上的待测产品，使所述第一支架上的待测产品的中心推至所述第一支架的中心；所述检测组件用于对位于所述第一支架的中心的待测产品的孔位进行检测。2.根据权利要求1所述的找中检测治具，其特征在于：所述中推组件包括中推模块以及中推驱动模块，所述中推模块安装在所述第一支架上，所述中推驱动模块安装在所述第二支架上；所述第二支架向靠近所述第一支架的方向运动时，所述中推驱动模块可驱动所述中推模块运动，以使所述中推模块可推动所述第一支架上的待测产品的中心至所述第一支架的中心。3.根据权利要求2所述的找中检测治具，其特征在于：所述中推模块包括若干第一推块，所述第一推块沿所述第一支架的长度或宽度方向滑动连接在所述第一支架上；若干所述第一推块中，至少两个所述第一推块分别设于所述第一支架的相对的两个边缘。4.根据权利要求3所述的找中检测治具，其特征在于：所述第一支架的边缘设置有若干滑孔，所述滑孔沿所述第一支架的长度或宽度方向延伸；每一所述滑孔至少滑动连接有一个所述第一推块；位于所述第一支架的同一侧边缘的所述第一推块可通过一连接块进行连接，所述连接块与所述第一支架滑动连接。5.根据权利要求3所述的找中检测治具，其特征在于：所述中推...

【专利技术属性】
技术研发人员：禹海林，陈飞，
申请(专利权)人：东莞溪河精密技术有限公司，
类型：新型
国别省市：