一种基于脉冲波形比较的线圈微伤探测方法技术

本发明专利技术涉及线圈耐压检测技术领域，绝缘的损坏可能引发线圈匝间放电或线圈对地短路，导致电气设备故障停止运行，现有的无损检测和涡流探伤技术对于线圈的微小伤口无法进行有效的检测，本发明专利技术提供一种基于脉冲波形比较的线圈微伤探测方法，待测件置于封闭装置内，在待测件的封闭装置内注入绝缘物质，增大待测件微伤位置的放电，通过对比匝间耐压测试仪的波形对待测件进行探伤，本发明专利技术技术操作简单，检测可靠性强，检测成本低，使用方便，探伤效果更好，能够实现无损检测，更易满足现代电气设备企业的要求，本发明专利技术的线圈探伤精度显著提高。本发明专利技术的线圈探伤精度显著提高。本发明专利技术的线圈探伤精度显著提高。

【技术实现步骤摘要】
一种基于脉冲波形比较的线圈微伤探测方法


[0001]本专利技术涉及线圈耐压检测
，具体为一种基于脉冲波形比较的线圈微伤探测方法。

技术介绍

[0002]电机是工业领域常用的设备，线圈是电机的核心组件。由于线圈在生产过程中工艺的不足或是电机正常运行过程中机械应力的作用，往往会导致线圈匝间出现绝缘破坏。绝缘的损坏可能引发线圈匝间放电或线圈对地短路，导致电气设备故障停止运行。现市场上已有的线圈探伤技术分为两种：
[0003]1.无损检测。在检查机械材料内部不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织的前提下，利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化，以物理或化学方法为手段，借助现代化的技术和设备器材。对试件内部及表面的结构、状态及缺陷的类型、数量、形状、性质、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法。主要有射线检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT)四种。其他无损检测方法有涡流检测(ECT)、声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等，成本较大所以使用不便。
[0004]2.日本eddio涡流探伤仪技术。适用于直通线圈、旋转探头和插值探头，适用于标准尺寸材料和环形材料的自动探伤。配备自动探伤功能(记录仪输出、自动探伤控制、标记延迟等)，通道数：1通道。
[0005](一)钢轨涡流探伤仪，目标材料：铁路(制造阶段)。通过结合旋转圆盘法和固定探头法，可以检测缺陷而不受缺陷方向和类型的影响。搭载与导轨尺寸对应的自动定尺功能，可缩短换模时间。
[0006](二)涡流探伤仪，目标材料：铁轨(实际使用中)。搭载在铁路钢轨养护综合试验车上，对钢轨接头进行检测。与其他检测设备进行综合检测，确保铁路运输安全。
[0007](三)插值涡流探伤仪，目标材料：适用于检测热交换器的管道和管状物体的内表面。插入管状物体中以检测内部缺陷。用于发电厂等热交换器管道的维护和检查。
[0008]由于线圈在长期运行过程中，电机绝缘受到电、热、机械力的作用和不同环境条件的影响，绝缘会逐渐老化，最终丧失其应有的性能，导致绝缘击穿，不能继续安全进行。目前市场上的线圈耐压检测设备可以对比识别部分线圈绝缘破损，现有的线圈探伤技术需要技术、人力和能耗共同完成，且探伤技术存在不稳定和不精准的问题，对于线圈的微小伤口无法进行有效的检测，因此，亟待一种能够实现线圈微小伤口无损检测的方法。

技术实现思路

[0009]本专利技术的目的在于提供一种基于脉冲波形比较的线圈微伤探测方法，采用脉冲波形比较，以高压脉冲对待测件进行等效过电压模拟，通过向封闭装置内喷射固体、液体或固
液混合物，使得固体、液体或固液混合物进入带有线圈的电气设备，使颗粒物与设备线圈发生反应，实现在无损坏的情况检测设备线圈。
[0010]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0011]一种基于脉冲波形比较的线圈微伤探测方法，利用高压脉冲对待测件进行等效过电压模拟，待测件置于封闭装置内，在待测件的封闭装置内注入绝缘物质，增大待测件微伤位置的放电，通过对比匝间耐压测试仪的波形对待测件进行探伤，具体包括以下步骤：
[0012]步骤1.将无损伤的参考件置于封闭装置内进行检测，并获取参考件的电压或电流波形作为参考波形；
[0013]步骤2.将待测件置于封闭装置内进行检测，获取待测件的检测波形；
[0014]步骤3.将步骤2所获取的待测件的检测波形与步骤1所获取的参考波形对比，波形一致或积差在10％以内的定为无伤线圈，积差超过10％或波形不一致的待测件则认定为损伤件。
[0015]进一步，步骤1和步骤2中，参考件与待测件的检测过程相同，具体检测步骤如下：
[0016]步骤i.将检测对象置于封闭装置内，通过抽滤装置将封闭装置抽成真空状态，利用喷射装置将混合物收集器中的绝缘物质喷入封闭装置；
[0017]步骤ii.在步骤1所形成的循环持续状态下，检测对象连接匝间冲击耐压测试仪，设置进行测试的冲击电压的参数；
[0018]步骤iii.待绝缘物质在封闭装置中完全释放后，按下耐压测试仪冲击电压开关进行测试，获取检测对象的电压或电流波形；
[0019]步骤iv.待检测完成后，抽滤装置抽出封闭装置内的绝缘物质，再次推进混合物收集器中，形成循环并持续。
[0020]进一步，参数包括冲击电压数值、脉冲占空比、冲击次数、采样频率、面积比较和积差比较。
[0021]进一步，绝缘物质为固体、液体或固液混合物中任意一种。
[0022]进一步，绝缘物质的粒径范围为10～200um。
[0023]进一步，在步骤ii中，参考件的参数设置完成后，待测件在测试过程中，参数设置与参考件的参数设置保持一致。
[0024]进一步，封闭装置一端连接喷射装置，另一端通过抽滤装置连接混合物收集器，封闭装置内部设置用于固定待测件的测试端子，测试端子穿过封闭装置连接匝间冲击耐压测试仪的信号接入端。
[0025]进一步，封闭装置、喷射装置、抽滤装置和混合物收集器通过连接管连接，封闭装置、喷射装置、抽滤装置和混合物收集器的连接端均设置密封件。
[0026]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0027]本专利技术突破了现有技术中涡流探伤仪耗费能源的缺点，在普通环境气压或负压真空的条件下，通过喷射装置向带有线圈的电气设备喷射绝缘的固体、液体或固液混合物，使之能够进入受损的电气设备，增大绝缘微创伤的放电程度，通过比对匝间耐压测试仪反馈的波形图对线圈绝缘进行有效探伤，实现无损检测，技术操作简单，检测可靠性强，检测成本低，使用方便，探伤效果更好，更易满足现代电气设备企业的要求，本专利技术的线圈探伤精度显著提高。
附图说明
[0028]图1为本专利技术的线圈微伤探测示意图；
[0029]图2为本专利技术的流程图。
[0030]图中：1
‑
待测件，2
‑
封闭装置，3
‑
匝间冲击耐压测试仪，4
‑
混合物收集器，5
‑
喷射装置，图中箭头指示方向为绝缘物质循环方向。
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于脉冲波形比较的线圈微伤探测方法，其特征在于：利用高压脉冲对待测件进行等效过电压模拟，待测件置于封闭装置内，在待测件的封闭装置内注入绝缘物质，增大待测件微伤位置的放电，通过对比匝间耐压测试仪的波形对待测件进行探伤，具体包括以下步骤：步骤1.将无损伤的参考件置于封闭装置内进行检测，并获取参考件的电压或电流波形作为参考波形；步骤2.将待测件置于封闭装置内进行检测，获取待测件的检测波形；步骤3.将步骤2所获取的待测件的检测波形与步骤1所获取的参考波形对比，波形一致或积差在10％以内的定为无伤线圈，积差超过10％或波形不一致的待测件则认定为损伤件。2.根据权利要求1所述的基于脉冲波形比较的线圈微伤探测方法，其特征在于：所述步骤1和步骤2中，参考件与待测件的检测过程相同，具体检测步骤如下：步骤i.将检测对象置于封闭装置内，通过抽滤装置将封闭装置抽成真空状态，利用喷射装置将混合物收集器中的绝缘物质喷入封闭装置；步骤ii.在步骤1所形成的循环持续状态下，检测对象连接匝间冲击耐压测试仪，设置进行测试的冲击电压的参数；步骤iii.待绝缘物质在封闭装置中完全释放后，按下耐压测试仪冲击电压开关进行测试，获取检测对象的电压或电流波形；步骤iv.待检测完成后，抽滤装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：田俊梅，田世伟，李鑫阳，张泽琳，柴梓亭，刘世茂，霍航，
申请(专利权)人：山西大学，
类型：发明
国别省市：