一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置，属于正极涂布检测技术领域。该探测装置包括第二支撑架，所述第二支撑架上方设有传输装置，所述传输装置上方一侧设有降温装置，所述降温装置一侧设有安装板，所述安装板固定安装有第一温度传感器，所述传输装置远离安装板一侧设有第一支撑架，所述第一支撑架上方设有X射线测厚仪。该种探测装置通过多个温度传感器的设置，可以快速的正极极片进行温度检测，通过降温装置可实现对正极极片的降温，有效的避免了温度对X射线测厚仪的影响，有效的保障了X射线测厚仪的影响的测量精度，提高了正极极片的生产质量。提高了正极极片的生产质量。提高了正极极片的生产质量。

【技术实现步骤摘要】
一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置


[0001]本技术涉及正极涂布检测
，特别涉及一种保证正极涂布工序X 射线测厚仪测量精度的探测装置。

技术介绍

[0002]X射线测厚仪测量方式为透射式测量，X射线穿透某种材料时，被材料反射、散射、吸收，导致透过的射线强度相对于入射的射线强度有一定的衰减。衰减量与被穿透材料的面密度呈正相关关系。
[0003]X射线测厚仪便是利用这一原理，根据事先的产品标定拟合出的吸收曲线(吸收系数)，通过X射线探测器测量射线穿透材料(正极极片)前、后的射线强度，即可推算出物质材料的面密度。
[0004]经过涂布和烘烤作业后形成的极片其表面往往具有较高的温度，在其出箱温度超过一定温度阈值时，输送到X射线测厚仪中进行检测会影响面密度测量精度，进而影响实际极片涂布面密度，影响电池容量。

技术实现思路

[0005]本技术实施例提供了一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置，当极片温度超过报警温度，降温装置自动启动、对极片进行降温，使极片温度降低至报警温度以下，保证测厚仪检测极片面密度精度，保证实际涂布面密度精度。
[0006]本技术实施例提供了一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置；
[0007]第二支撑架，所述第二支撑架上方设有传输装置，所述传输装置上方设有降温装置，所述降温装置的进口端设有安装板，所述安装板固定安装有第一温度传感器，所述传输装置远离安装板一侧设有第一支撑架，所述第一支撑架上方设有X射线测厚仪。/>[0008]优选的，所述传输装置包括两个侧板，两个所述侧板平行间隔布置，所述侧板与第二支撑架固定连接，两个所述侧板一端之间设有主动辊轴，两个所述侧板另一端之间设有从动辊轴，所述侧板位于主动辊轴一侧设有电机，所述主动辊轴与所述电机传动连接，所述主动辊轴与从动辊轴通过传输带传动连接。
[0009]优选的，所述第二支撑架靠近电机一端设有电控箱，所述X射线测厚仪和所述电机与所述电控箱电连接。
[0010]优选的，所述降温装置包括壳体，所述壳体与两个所述侧板固定连接，所述壳体上方一侧设有制冷器，所述制冷器输出端通过制冷管延伸至壳体上端，所述壳体内位于制冷管下方设有隔板，所述隔板上开设有多个矩阵排布出气孔。
[0011]优选的，所述壳体远离所述制冷器一侧上端开设有多个进气口，所述进气口内设有风机。
[0012]优选的，所述进气口内上端设有过滤网。
[0013]优选的，所述壳体内下端设有安装架，所述安装架两端固定安装有第二温度传感器。
[0014]优选的，所述的保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置，其特征在于，所述第一温度传感器与第二温度传感器均为非接触式红外温度传感器。
[0015]本技术实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
[0016]本技术专利通过传输装置可对涂布后的正极极片进行传输，降温装置可对涂布后的正极极片进行降温，第一温度传感器可对涂布后的正极极片进行温度检测，在检测到涂布后的正极极片温度高于设定温度时，传输带将正极极片传输至壳体内部，制冷器输出端通过制冷管对壳体内部进行制冷，从而降低壳体内部的温度，同时冷气通过出气孔作用在涂布后的正极极片上，从而达到对涂布后的正极极片降温的目的。该种探测装置结构简单，操作方便，通过多个温度传感器的设置，可以快速的正极极片进行温度检测，通过降温装置可实现对正极极片的降温，有效的避免了温度对X射线测厚仪的影响，有效的保障了X射线测厚仪的影响的测量精度，提高了正极极片的生产质量。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1是本技术实施例提供的一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置的结构示意图；
[0019]图2是本技术实施例提供的一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置的侧视结构剖视图。
[0020]图3是本技术实施例提供的传输装置与第二支撑架结构示意图。
具体实施方式
[0021]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术实施方式作进一步地详细描述。
[0022]X射线测厚仪便是利用这一原理，根据事先的产品标定拟合出的吸收曲线 (吸收系数)，通过X射线探测器测量射线穿透材料(正极极片)前、后的射线强度，即可推算出物质材料的面密度。
[0023]经过涂布和烘烤作业后形成的极片其表面往往具有较高的温度，在其出箱温度超过一定温度阈值时，输送到X射线测厚仪中进行检测会影响面密度测量精度，进而影响实际极片涂布面密度，影响电池容量。
[0024]图1是本技术实施例提供的一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置的结构示意图。图2是本技术实施例提供的剖视图。图3 是本技术实施例提供的传输装置与第二支撑架结构示意图。如图1至3所示，通过实践，本申请人提供了一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置，其特征在于，包括：
[0025]第二支撑架9，第二支撑架9上方设有传输装置1，传输装置1可对涂布后的正极极
片进行传输，传输装置1上方设有降温装置2，降温装置2的进口端和出口端沿传输装置1的传输方向布置，且具有降温的功能，可对涂布后由其中经过的正极极片进行降温，降温装置2一侧设有安装板3，安装板3固定安装有第一温度传感器4，第一温度传感器4可对涂布后待输送进入降温装置2的正极极片进行温度检测，传输装置1远离安装板3一侧设有第一支撑架7，第一支撑架7上方设有X射线测厚仪8，通过传输装置1的传输，使涂布后的正极极片可进入到X射线测厚仪8内部，从而完成对涂布后的正极极片进行厚度测量。
[0026]可选地，传输装置1包括两个侧板11，两个侧板11平行间隔布置，侧板 11与第二支撑架9固定连接，两个侧板一端之间设有主动辊轴13，两个侧板另一端之间设有从动辊轴15，侧板11位于主动辊轴13一侧设有电机14，主动辊轴(13)与电机(14)传动连接，主动辊轴13与从动辊轴15通过传输带16传动连接。示例性地，在本技术实施例中，主动辊轴13与从动辊轴15两端均与侧板11活动连接，电机14在进行工作时，电机14带动主动辊轴13转动，与主动辊轴13通过传输带16传动连接的从动辊轴15也随之转动，从而使得传输带16可涂布后的正极极片进行输送。
[0027]可选的，第二支撑架9靠近电机14一端设有电控箱12，电控箱12可对探测装置的传输带16和X射线测厚仪8分别进行启停控制，方便操作，也可以在检测到极片的温度过高时关闭X射线测厚仪8避免输出无意义的偏差结果数据。
[0028]可选地，降温装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置，其特征在于，包括：第二支撑架(9)，所述第二支撑架(9)上方设有传输装置(1)，所述传输装置(1)上方设有降温装置(2)，所述降温装置(2)的进口端设有安装板(3)，所述安装板(3)固定安装有第一温度传感器(4)，所述传输装置(1)远离安装板(3)一侧设有第一支撑架(7)，所述第一支撑架(7)上方设有X射线测厚仪(8)。2.根据权利要求1所述的保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置，其特征在于，所述传输装置(1)包括两个侧板(11)，两个所述侧板(11)平行间隔布置，所述侧板(11)与第二支撑架(9)固定连接，两个所述侧板(11)一端之间设有主动辊轴(13)，两个所述侧板(11)另一端之间设有从动辊轴(15)，所述侧板(11)位于主动辊轴(13)一侧设有电机(14)，所述主动辊轴(13)与所述电机(14)传动连接，所述主动辊轴(13)与从动辊轴(15)通过传输带(16)传动连接。3.根据权利要求2所述的保证正极涂布工序X射线测厚仪测量精度的探测装置，其特征在于，所述第二支撑架(9)靠近电机(14)一端设有电控箱(12)，所述X射线测厚仪(8)和所述电机(14)与所述电控箱(12)电连...

【专利技术属性】
技术研发人员：矫贺东，付强，张恒，
申请(专利权)人：楚能新能源股份有限公司，
类型：新型
国别省市：