辐射成像设备和辐射成像系统技术方案

本公开涉及辐射成像设备和辐射成像系统。辐射成像设备执行校正值确定操作和辐射剂量确定操作，该校正值确定操作即在辐射未被发射到设备上的状态下读出来自像素的信号一次或多次并确定基于从像素读出的信号的校正值，该辐射剂量确定操作即在辐射被发射的同时读出来自像素的信号并使用从像素读出的信号的值和校正值确定被发射的辐射剂量。该设备在确定要执行校正值确定操作的情况下执行校正值确定操作并使用校正值执行辐射剂量确定操作，否则在不执行校正值确定操作的情况下执行辐射剂量确定操作。剂量确定操作。剂量确定操作。

【技术实现步骤摘要】
辐射成像设备和辐射成像系统


[0001]本专利技术涉及辐射成像设备和辐射成像系统。

技术介绍

[0002]存在具有自动曝光控制(AEC)功能的已知辐射成像设备。这种辐射成像设备可以测量被发射的辐射剂量并且依据测量结果结束照射。辐射成像设备例如通过在照射期间仅以高速操作用于检测辐射的像素集合来监测辐射剂量。另外，辐射成像设备进行用于依次操作像素的重置操作，以便直到接收到开始照射的请求为止重置累积在像素中的暗电荷。日本专利公开No.2020
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089714描述了一种辐射成像设备，该辐射成像设备在接收到照射开始请求之前获得被发射到用于检测辐射的像素的辐射剂量，并基于该辐射剂量确定用于AEC的校正值。

技术实现思路

[0003]日本专利公开No.2020
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089714中的辐射成像设备紧接在发射辐射之前确定校正值，以改善AEC的准确性。然而，在执行确定校正值的操作时不能接收照射，这影响了可以开始图像捕获的定时。本公开的一个方面提供了一种用于减少确定用于监测被发射的辐射剂量的校正值的操作对图像捕获的定时的影响的技术。
[0004]根据一个方面，辐射成像设备包括：多个像素，包括第一像素；和控制单元，被配置为执行：校正值确定操作，即，在辐射未被发射到辐射成像设备上的状态下读出来自第一像素的信号一次或多次并确定基于从第一像素读出的信号的校正值；和辐射剂量确定操作，即，在辐射被发射到辐射成像设备上时读出来自第一像素的信号并使用从第一像素读出的信号的值和校正值确定被发射的辐射剂量。控制单元确定是否执行校正值确定操作，在确定要执行校正值确定操作的情况下，执行校正值确定操作并使用在校正值确定操作中确定的校正值执行辐射剂量确定操作，并且在确定不执行校正值确定操作的情况下，在不执行校正值确定操作的情况下执行辐射剂量确定操作。
[0005]根据另一个方面，辐射成像设备包括：多个像素；和控制单元，被配置为使用基于在辐射未被发射到辐射成像设备上的状态下从多个像素输出的信号而获得的校正值，对在辐射被发射到辐射成像设备上的状态下从多个像素输出的信号进行校正处理，从而进行获得被发射的辐射剂量的辐射剂量获得操作。控制单元被配置为能够执行更新校正值的校正值更新操作，并基于从获得校正值起已经经过的时间来确定在进行辐射剂量获得操作之前是否执行校正值更新操作。
[0006]根据以下参考附图对示例性实施例的描述，本专利技术的其它特征将变得清楚。
附图说明
[0007]图1是示出根据第一实施例的辐射成像设备的配置的图。
[0008]图2是示出根据第一实施例的放大单元的配置的图。
[0009]图3是示出根据第一实施例的像素的配置的平面图。
[0010]图4A和图4B是示出根据第一实施例的像素的配置的截面图。
[0011]图5是示出包括辐射成像设备的辐射成像系统的配置示例的图。
[0012]图6是示出根据第一实施例的辐射成像设备的操作的流程图。
[0013]图7是示出根据第一实施例的辐射成像设备的操作的时序图。
[0014]图8是示出根据第一实施例的辐射成像设备的操作的时序图。
[0015]图9是图示根据第一实施例的校正值确定操作的定时的图。
[0016]图10是示出根据第二实施例的辐射成像设备的操作的流程图。
[0017]图11是示出根据第三实施例的辐射成像设备的操作的时序图。
[0018]图12是示出根据第六实施例的辐射成像设备的操作的流程图。
[0019]图13是示出辐射成像系统的配置示例的图。
具体实施方式
[0020]在下文中，将参考附图详细描述实施例。注意，以下实施例不旨在限制所要求保护的专利技术的范围。在实施例中描述了多个特征，但是不限制专利技术需要所有这样的特征，并且可以适当地组合多个这样的特征。此外，在附图中，相同的附图标记被赋予相同或类似的配置，并且省略其冗余描述。
[0021]第一实施例
[0022]图1示出了根据本公开的第一实施例的辐射成像设备100的配置示例。辐射成像设备100包括布置在图像捕获区域IR中以形成多个行和多个列的多个像素、多个驱动线110以及多个信号线120。多个驱动线110与多行像素相对应地布置，并且每个驱动线110对应于一个像素行。多个信号线120与多列像素相对应地布置，并且每个信号线120对应于一个像素列。
[0023]多个像素包括用于获得辐射图像的多个图像捕获像素101、用于监测照射剂量的至少一个检测像素104以及用于校正照射剂量的至少一个校正像素107。校正像素107对辐射的灵敏度低于检测像素104对辐射的灵敏度。
[0024]每个图像捕获像素101包括用于将辐射转换为电信号的转换元件102以及用于连接对应的信号线120和转换元件102的开关元件103。检测像素104包括用于将辐射转换为电信号的转换元件105以及用于将对应的信号线120和转换元件105彼此连接的开关元件106。检测像素104被设置为包括在行和列中，并且每行和每列包括多个图像捕获像素101。校正像素107包括用于将辐射转换为电信号的转换元件108以及用于将信号线120和转换元件108彼此连接的开关元件109。校正像素107被设置为包括在行和列中，并且每行和每列包括多个图像捕获像素101。在图1和后续的图中，通过将不同的阴影线应用于转换元件102、转换元件105和转换元件108来将图像捕获像素101、检测像素104和校正像素107彼此区分。
[0025]每个转换元件102、转换元件105和转换元件108可以各自由用于将辐射转换为光的闪烁器以及用于将光转换为电信号的光电转换元件构成。通常，闪烁器以片状形状形成以覆盖图像捕获区域IR，并且由多个像素共享。相反，转换元件102、转换元件105和转换元件108可以由用于将辐射直接转换为电信号的转换元件构成。
[0026]开关元件103、开关元件106和开关元件109可以各自包括薄膜晶体管(TFT)，在TFT
中有源区域由非晶硅、多晶硅等的半导体制成。
[0027]转换元件102的第一电极连接到开关元件103的第一主电极，并且转换元件102的第二电极连接到偏置线130。一个偏置线130在列方向上延伸，并且连接到布置在列方向上的多个转换元件102的第二电极，并且在它们之间共享。偏置线130从电源电路140接收偏置电压Vs。包括在一列中的一个或多个图像捕获像素101的开关元件103的第二主电极连接到一个信号线120。包括在一行中的一个或多个图像捕获像素101的开关元件103的控制电极连接到一个驱动线110。
[0028]检测像素104和校正像素107具有类似于图像捕获像素101的像素配置的像素配置，并且各自连接到对应的驱动线110和对应的信号线120。检测像素104和校正像素107排他性地连接到信号线120。也就是说，校正像素107不连接到检测像素104所连接的信号线120。而且，检测像素104不连接到本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐射成像设备，其特征在于，包括：多个像素，包括第一像素；和控制单元，被配置为执行：校正值确定操作，即，在辐射未被发射到所述辐射成像设备上的状态下读出来自所述第一像素的信号一次或多次并确定基于从所述第一像素读出的信号的校正值，以及辐射剂量确定操作，即，在辐射被发射到所述辐射成像设备上时读出来自所述第一像素的信号并使用从所述第一像素读出的信号的值和所述校正值确定被发射的辐射剂量，其中，所述控制单元确定是否执行所述校正值确定操作，在确定要执行所述校正值确定操作的情况下，执行所述校正值确定操作并使用在所述校正值确定操作中确定的所述校正值来执行所述辐射剂量确定操作，以及在确定不执行所述校正值确定操作的情况下，在不执行所述校正值确定操作的情况下执行所述辐射剂量确定操作。2.根据权利要求1所述的辐射成像设备，其中，所述控制单元在所述辐射成像设备起动之后在首次执行所述辐射剂量确定操作之前，确定是否执行所述校正值确定操作。3.根据权利要求1所述的辐射成像设备，其中，所述控制单元在从外部设备接收到图像捕获信息之后并且在进行使用所述图像捕获信息的图像捕获之前，确定是否执行所述校正值确定操作。4.根据权利要求1所述的辐射成像设备，其中，所述控制单元在所述辐射成像设备转变到省电状态之前执行所述校正值确定操作。5.根据权利要求1所述的辐射成像设备，其中，所述控制单元在从外部设备接收到所述图像捕获信息起经过预定时间仍未开始使用所述图像捕获信息的图像捕获时，执行所述校正值确定操作。6.根据权利要求1所述的辐射成像设备，其中，所述控制单元确定要执行所述校正值确定操作的确定标准包括关于从最后执行所述校正值确定操作起已经经过的时间的标准。7.根据权利要求1所述的辐射成像设备，其中，所述控制单元确定要执行所述校正值确定操作的确定标准包括关于所述辐射成像设备的内部温度的标准。8.根据权利要求1所述的辐射成像设备，其中，所述控制单元确定要执行所述校正值确定操作的确定标准包括关于所述第一像素的偏移输出的标准。9...

【专利技术属性】
技术研发人员：三浦亮介，八木朋之，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：