本实用新型专利技术提供一种微处理器老化检测装置，包括老化检测箱，所述老化检测箱一侧表面开设有检测仓，所述老化检测箱的外壁两侧均开设有通风槽，所述老化检测箱的外壁上方螺纹连接有风扇组，所述检测仓的表面两侧螺纹连接有调节机构，所述检测仓的下方表面固定安装有检测机构，所述检测机构的两侧设置有存放机构。该微处理器老化检测装置，通过纵向直线导轨、横向直线导轨、电动滑台、真空发生器和真空吸盘的设置，在使用时，将需要检测的微处理器放入放置台上，然后通过纵向直线导轨和横向直线导轨控制电动滑台的前后左后的距离，然后通过电动滑台控制真空发生器和真空吸盘的升降，使真空吸盘可以在真空发生器的控制下，完成对微处理器的拿放。处理器的拿放。处理器的拿放。
【技术实现步骤摘要】
一种微处理器老化检测装置
[0001]本技术涉及微处理器相关
，尤其涉及一种微处理器老化检测装置。
技术介绍
[0002]微处理器由一片或少数几片大规模集成电路组成的中央处理器。这些电路执行控制部件和算术逻辑部件的功能，微处理器能完成取指令、执行指令，以及与外界存储器和逻辑部件交换信息等操作，是微型计算机的运算控制部分。它可与存储器和外围电路芯片组成微型计算机，微处理器在使用时都需要进行老化检测，故此，需要一种微处理器老化检测装置。
[0003]但是现有的微处理器老化检测装置，在使用时，大多数检测装置只能对单一的微处理器进行检测，需要人工进行一个个拿放，对于大量微处理器的检测会花费较多时间，检测效率低下，使用不方便。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种微处理器老化检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的现有的微处理器老化检测装置，在使用时，大多数检测装置只能对单一的微处理器进行检测，需要人工进行一个个拿放，对于大量微处理器的检测会花费较多时间，检测效率低下，使用不方便的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种微处理器老化检测装置，包括老化检测箱，所述老化检测箱一侧表面开设有检测仓，所述老化检测箱的外壁两侧均开设有通风槽，所述老化检测箱的外壁上方螺纹连接有风扇组，所述检测仓的表面两侧螺纹连接有调节机构，所述检测仓的下方表面固定安装有检测机构，所述检测机构的两侧设置有存放机构。
[0006]优选的，所述通风槽在老化检测箱外壁两侧呈等间距分布，所述风扇组设置在检测仓上方。
[0007]优选的，所述调节机构包括纵向直线导轨、横向直线导轨、电动滑台、真空发生器和真空吸盘，所述检测仓的表面两侧均螺纹连接有纵向直线导轨，所述纵向直线导轨的一端螺纹连接有横向直线导轨，所述横向直线导轨的一端螺纹连接有电动滑台，所述电动滑台的一端固定安装有真空发生器，所述真空发生器的一端设置有真空吸盘。
[0008]优选的，所述纵向直线导轨以检测仓中轴线对称设置，所述真空吸盘和真空发生器气动连接。
[0009]优选的，所述检测机构包括第一固定板、老化检测座、检测槽和转接头，所述检测仓的表面一侧螺纹连接有第一固定板，所述第一固定板的表面固定安装有老化检测座，所述老化检测座的表面开设有检测槽，所述老化检测座的侧边表面设置有转接头。
[0010]优选的，所述存放机构包括第二固定板、支撑板、滑槽、滑块、连接板和放置台，所述检测仓的表面两侧螺纹连接有第二固定板，所述第二固定板的一端焊接有支撑板，支撑
板的表面两侧开设有滑槽，所述滑槽的一端设置有与之相匹配的滑块，所述滑块的一端焊接有连接板，所述连接板的表面固定安装有放置台。
[0011]优选的，所述放置台以检测仓中轴线对称式设置，所述连接板通过滑块和滑槽构成滑动结构。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该微处理器老化检测装置，通过纵向直线导轨、横向直线导轨、电动滑台、真空发生器和真空吸盘的设置，可以实现对微处理器的自动拿放，便于自动进行检测，在使用时，将需要检测的微处理器放入放置台上，然后通过纵向直线导轨和横向直线导轨控制电动滑台的前后左后的距离，然后通过电动滑台控制真空发生器和真空吸盘的升降，使真空吸盘可以在真空发生器的控制下，完成对微处理器的拿放。
附图说明
[0013]图1为本技术侧视外观结构示意图；
[0014]图2为本技术调节机构结构示意图；
[0015]图3为本技术检测机构结构示意图；
[0016]图4为本技术存放机构结构示意图。
[0017]图中：1、老化检测箱；2、检测仓；3、通风槽；4、风扇组；5、调节机构；501、纵向直线导轨；502、横向直线导轨；503、电动滑台；504、真空发生器；505、真空吸盘；6、检测机构；601、第一固定板；602、老化检测座；603、检测槽；604、转接头；7、存放机构；701、第二固定板；702、支撑板；703、滑槽；704、滑块；705、连接板；706、放置台。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种微处理器老化检测装置，包括老化检测箱1，老化检测箱1一侧表面开设有检测仓2，老化检测箱1的外壁两侧均开设有通风槽3，老化检测箱1的外壁上方螺纹连接有风扇组4，检测仓2的表面两侧螺纹连接有调节机构5，检测仓2的下方表面固定安装有检测机构6，检测机构6的两侧设置有存放机构7。
[0020]进一步的，通风槽3在老化检测箱1外壁两侧呈等间距分布，风扇组4设置在检测仓2上方，通过通风槽3和风扇组4的设置，可以有效的对该老化检测箱1进行散热通风处理。
[0021]进一步的，调节机构5包括纵向直线导轨501、横向直线导轨502、电动滑台503、真空发生器504和真空吸盘505，检测仓2的表面两侧均螺纹连接有纵向直线导轨501，纵向直线导轨501的一端螺纹连接有横向直线导轨502，横向直线导轨502的一端螺纹连接有电动滑台503，电动滑台503的一端固定安装有真空发生器504，真空发生器504的一端设置有真空吸盘505，通过纵向直线导轨501、横向直线导轨502、电动滑台503、真空发生器504和真空吸盘505的设置，可以实现对微处理器的自动拿放，便于自动进行检测，在使用时，将需要检测的微处理器放入放置台706上，然后通过纵向直线导轨501和横向直线导轨502控制电动
滑台503的前后左后的距离，然后通过电动滑台503控制真空发生器504和真空吸盘505的升降，使真空吸盘505可以在真空发生器504的控制下，完成对微处理器的拿放。
[0022]进一步的，纵向直线导轨501以检测仓2中轴线对称设置，真空吸盘505和真空发生器504气动连接，通过真空吸盘505的设置，可以有效的将微处理器吸附移动，并且可以快速松开。
[0023]进一步的，检测机构6包括第一固定板601、老化检测座602、检测槽603和转接头604，检测仓2的表面一侧螺纹连接有第一固定板601，第一固定板601的表面固定安装有老化检测座602，老化检测座602的表面开设有检测槽603，老化检测座602的侧边表面设置有转接头604，通过第一固定板601、老化检测座602、检测槽603和转接头604的设置，将微处理器放入到检测槽603中，然后通过老化检测座602进行检测，检测的数据通过转接头604连接的线路传送到外部的电脑上，转接头604可以有效的进行多种线路的匹配。
[0024]进一步的，存放机构7包括第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种微处理器老化检测装置，包括老化检测箱(1)，其特征在于：所述老化检测箱(1)一侧表面开设有检测仓(2)，所述老化检测箱(1)的外壁两侧均开设有通风槽(3)，所述老化检测箱(1)的外壁上方螺纹连接有风扇组(4)，所述检测仓(2)的表面两侧螺纹连接有调节机构(5)，所述检测仓(2)的下方表面固定安装有检测机构(6)，所述检测机构(6)的两侧设置有存放机构(7)。2.根据权利要求1所述的一种微处理器老化检测装置，其特征在于，所述通风槽(3)在老化检测箱(1)外壁两侧呈等间距分布，所述风扇组(4)设置在检测仓(2)上方。3.根据权利要求1所述的一种微处理器老化检测装置，其特征在于，所述调节机构(5)包括纵向直线导轨(501)、横向直线导轨(502)、电动滑台(503)、真空发生器(504)和真空吸盘(505)，所述检测仓(2)的表面两侧均螺纹连接有纵向直线导轨(501)，所述纵向直线导轨(501)的一端螺纹连接有横向直线导轨(502)，所述横向直线导轨(502)的一端螺纹连接有电动滑台(503)，所述电动滑台(503)的一端固定安装有真空发生器(504)，所述真空发生器(504)的一端设置有真空吸盘(505)。4.根据权利要求3所述的一种微处理器老化检测装置，其特征在于，所述纵向直线导轨(501)以检测仓(2)中轴线对称设置，所述真...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒙文钱，
申请(专利权)人：深圳市凯威达电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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