自电容触摸屏垂直坐标计算方法、电子设备及计算机可读存储介质技术

本发明专利技术提供一种自电容触摸屏垂直坐标计算方法、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括获取自电容触摸屏垂直方向上每一个传感器的电容感应值；并且，计算垂直方向上，端部传感器的电容感应值与非端部传感器的电容感应值之和的比值，如比值小于第一比较系数，则应用第一计算公式计算自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标；如比值大于或等于第一比较系数，则应用第二计算公式计算自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标。本发明专利技术还提供实现上述方法的电子设备及计算机可读存储介质。本发明专利技术能够提高触摸点垂直坐标计算的准确性，还可以减少后续调整算法的计算量。后续调整算法的计算量。后续调整算法的计算量。

【技术实现步骤摘要】
自电容触摸屏垂直坐标计算方法、电子设备及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及电子设备触摸屏的触摸位置计算的
，具体地，是一种应用于自电容触摸屏垂直坐标计算方法以及实现这种方法的电子设备、计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]现在的电子设备大多设置触摸式屏幕，其中，自电容触摸屏是常见的触摸式屏幕。用户将手指点击自电容触摸屏后，自电容触摸屏通过自身的传感器获取电容感应值的变化，并以此计算用户触摸的位置。现有的自电容触摸屏大多直接利用三角形传感器的基本公式来计算手指触摸区域的水平坐标和垂直坐标，然后再通过调整算法对坐标进行调整。这种方式没有考虑基本公式的固有偏差，对后续调整算法带来一些挑战。
[0003]参见图1，现有的自电容触摸屏包括多个传感器，多个传感器沿垂直方向(从上往下的方向)排列成k行，每一行包括两个呈三角形布置的子传感器。例如，第一行的传感器包括位于左侧的子传感器S1L和位于右侧的子传感器S1R，第二行的传感器包括位于左侧的子传感器S2L和位于右侧的子传感器S2R，以此类推。
[0004]图1所示的结构，计算自电容触摸屏触摸点的计算公式如下：
[0005][0006][0007]其中，X是触摸点的横坐标，即左右方向上的坐标，Y是触摸点11的纵坐标，即上下方向上的坐标，也就是垂直方向上的坐标。Dsl和Dsr分别表示有手指触摸时左侧的子传感器和右侧的子传感器所获得的电容感应值。L是整个自电容触摸屏的宽度，D是每行传感器的高度，由于每一行传感器的高度都是相等的，因此每行传感器的高度D就是整个自电容触摸屏总高度的1/k，n是变量，取值范围是1到k之间的正整数。
[0008]如果仅仅考虑垂直方向上的坐标，即仅仅计算触摸点11在垂直方向上坐标，则可以将上面的公式简化成下面的公式：
[0009][0010]其中，Ds(n)表示当用户手指触摸到自电容触摸屏时，第n个传感器的电容感应值。
[0011]根据自电容测量的线性特点，假设触摸点11完全覆盖某一个传感器，该传感器所检测到的电容感应值应该是100％，以下假设100％对应的数值为100。则如果触摸点11半覆盖某一个传感器，该传感器所检测到的电容感应值为50。假设整个自电容触摸屏总高度为60，一共有6行传感器，则每一行传感器的高度为10，则可以应用上面的公式3计算在不同情
况下触摸点的位置。
[0012]如图2至图4所示，图2中，触摸点12位于自电容触摸屏非端部的位置，例如位于第二行的传感器S2处；图3中，触摸点13位于自电容触摸屏的端部，例如位于顶端，即第一行的传感器S1处；图4中，触摸点14位于自电容触摸屏的端部，例如位于底端，即第六行的传感器S6处。
[0013]如果使用上面的公式3计算出图2至图4中，各触摸点12、13、14的垂直方向的计算坐标与各触摸点12、13、14的垂直方向的实际坐标如下表1所示。
[0014]表1
[0015]触摸点121314触摸点在垂直方向上的计算坐标值2013.356.7触摸点在垂直方向上的实际坐标值15555
[0016]从表1可以看出，各触摸点12、13、14的垂直方向的计算坐标与各触摸点12、13、14的垂直方向的实际坐标存在一定的偏差，尤其是触摸点位于顶端或者底端的情况下，计算坐标值与实际坐标值之间存在较大的偏差，这就给后续调整算法增加了额外的调整需求，因此有必要对上述基础公式进行优化以减小所计算的垂直方向上的计算偏差。

技术实现思路

[0017]本专利技术的第一目的是提供一种能够有效减少计算偏差的自电容触摸屏垂直坐标计算方法。
[0018]本专利技术的第二目的是提供一种实现上述自电容触摸屏垂直坐标计算方法的电子设备。
[0019]本专利技术的第三目的是提供一种实现上述自电容触摸屏垂直坐标计算方法的计算机可读存储介质。
[0020]为实现本专利技术的第一目的，本专利技术提供的自电容触摸屏垂直坐标计算方法包括获取自电容触摸屏垂直方向上每一个传感器的电容感应值；并且，计算垂直方向上，端部传感器的电容感应值与非端部传感器的电容感应值之和的比值，如比值小于第一比较系数，则应用第一计算公式计算自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标；如比值大于或等于第一比较系数，则应用第二计算公式计算自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标。
[0021]由上述方案可见，针对触摸点位于顶端或者底端的情况，使用不同于触摸点位于非端部传感器上的计算公式对垂直坐标进行计算，能够提高垂直坐标计算的准确性，减少计算偏差，后续的调整计算量较少，一方面能够提高检测的准确性，另一方面能够提高检测的效率。
[0022]一个优选的方案是，第一比较系数的计算步骤如下：识别多个传感器中电容感应值最大的目标传感器，并获取目标传感器的目标电容感应值，使用目标电容感应值与其他传感器的电容感应值之和的比值作为第一比较系数。
[0023]由此可见，通过识别个传感器中电容感应值最大的目标传感器，应该目标传感器的目标电容感应值计算第一比较系数，能够获得更加精确第一比较系数，从而提高检测的准确性。
[0024]进一步的方案是，应用第二计算公式计算自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标包
括：应用端部传感器的电容感应值、与端部传感器相邻的相邻传感器的电容感应值、多个传感器的电容感应值、每一传感器在垂直方向的高度、第二比较系数作为第二计算公式的参数计算自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标。
[0025]由此可见，使用多个参数计算触摸点的垂直坐标，可以精确的计算出触摸点在端部位置时触摸点的垂直坐标。
[0026]更进一步的方案是，第二比较系数的计算步骤如下：识别多个传感器中电容感应值最大的目标传感器，并获取目标传感器的目标电容感应值，获取与目标传感器相邻的相邻传感器的电容感应值，使用目标电容感应值与相邻传感器的电容感应值之和的比值作为第二比较系数。
[0027]由此可见，第二比较系数是目标传感器与两侧相邻传感器的电容感应值之间的比值，通过第二比较系数能够体现触摸点与目标传感器的重叠程度，有利于提高触摸点垂直坐标计算的准确性。
[0028]更进一步的方案是，第一比较系数为第一预设值，和/或，第二比较系数为第二预设值。
[0029]将第一比较系数、第二比较系数设置为预设值，可以减少计算量，提高垂直坐标的计算效率。
[0030]更进一步的方案是，第二比较系数与第一比较系数成反比。这样，在确定第一比较系数后，可以通过简单的计算公式计算第二比较系数，从而减少第二比较系数的计算量。
[0031]更进一步的方案是，应用第一计算公式计算自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标包括：应用多个传感器的电容感应值以及每一传感器在垂直方向的高度作为第一计算公式的参数计算自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标。
[0032]可见，相比起第二计算公式，第一计算公式所使用的参数较少，针对触摸点不在端部的情况，使用较为简单的计算公式能够减少垂直坐标的计算量，提高检测效率。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自电容触摸屏垂直坐标计算方法，包括：获取自电容触摸屏垂直方向上每一个传感器的电容感应值；其特征在于：计算垂直方向上，端部传感器的电容感应值与非端部传感器的电容感应值之和的比值，如所述比值小于第一比较系数，则应用第一计算公式计算所述自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标；如所述比值大于或等于所述第一比较系数，则应用第二计算公式计算所述自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标。2.根据权利要求1所述的自电容触摸屏垂直坐标计算方法，其特征在于：所述第一比较系数的计算步骤如下：识别多个所述传感器中电容感应值最大的目标传感器，并获取所述目标传感器的目标电容感应值，使用所述目标电容感应值与其他传感器的电容感应值之和的比值作为所述第一比较系数。3.根据权利要求1所述的自电容触摸屏垂直坐标计算方法，其特征在于：应用第二计算公式计算所述自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标包括：应用所述端部传感器的电容感应值、与所述端部传感器相邻的相邻传感器的电容感应值、多个传感器的电容感应值、每一所述传感器在垂直方向的高度、第二比较系数作为所述第二计算公式的参数计算所述自电容触摸屏上的触摸点的垂直坐标。4.根据权利要求3所述的自电容触摸屏垂直坐标计算方法，其特征在于：所述第二比较系数的计算步骤如下：识别多个所述传感器中电容感应值最大的目标传感...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕永健，罗达明，徐正弟，
申请(专利权)人：珠海普林芯驰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：