一种高度测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种高度测量装置及方法。高度测量装置包括支架组、多个测量探头、第一移动单元、第二移动单元、坐标获取单元及控制单元；支架组至少包括第一支架和第二支架；测量探头用于探测彩膜基板上各测量点的高度信息；第一移动单元分别与第一支架和第二支架相连接；第二移动单元设置在第一支架和第二支架上，并与测量探头相连接；坐标获取单元用于获取彩膜基板上各测量点的平面坐标信息；控制单元用于根据平面坐标信息控制第一移动单元驱动第一支架或/和第二支架移动，及控制第二移动单元驱动测量探头在第一支架或/和第二支架上移动。本发明专利技术根据平面坐标信息控制测量探头的移动轨迹，避免出现干涉，提升了测量工作的效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种高度测量装置及方法


[0001]本专利技术涉及测量
，尤其涉及一种高度测量装置及方法。

技术介绍

[0002]彩膜基板是LCD(液晶)显示面板中的重要组成部分，直接影响显示面板的显示效果。在生产过程中，需要对彩膜基板上RGB(红绿蓝)像素层的段差和隔垫物高度等重要参数进行测量。为了提升测量效率，一般采用多个高度测量探头来同时进行测量工作，当测量探头数量过多时，测量探头工作时彼此之间容易出现干涉的情况，影响测量效率。

技术实现思路

[0003]基于上述现有技术中的不足，本专利技术的目的是提供一种高度测量装置及方法，可以提高测量效率。
[0004]为实现上述目的，本专利技术首先提供一种高度测量装置，包括：
[0005]支架组，至少包括第一支架和第二支架；
[0006]多个测量探头，用于探测彩膜基板上各测量点的高度信息；
[0007]第一移动单元，分别与第一支架和第二支架相连接；
[0008]第二移动单元，设置在第一支架和第二支架上，并与测量探头相连接；
[0009]坐标获取单元，用于获取彩膜基板上各测量点的平面坐标信息；
[0010]控制单元，用于根据平面坐标信息控制第一移动单元驱动第一支架或/和第二支架移动，及控制第二移动单元驱动测量探头在第一支架或/和第二支架上移动，以使测量探头扫描各测量点。
[0011]可选地，控制单元还包括：
[0012]排序单元，用于根据平面坐标信息对测量点进行排序，得到排序信息；
[0013]分布单元，用于根据排序信息确定各测量点在彩膜基板上的分布位置图；
[0014]轨迹单元，用于根据所分布位置图，确定各测量探头的移动轨迹；
[0015]指令单元，用于根据移动轨迹，向第一移动单元和第二移动单元发送移动控制指令。
[0016]可选地，控制单元还包括划分单元，划分单元用于根据分布位置图划分各测量探头的移动区域，轨迹单元用于根据各测量探头的移动区域，确定各测量探头的移动轨迹。
[0017]可选地，移动轨迹包括“弓”字形图案或“之”字形图案。
[0018]可选地，测量探头的移动方向与第一支架和第二支架的移动方向互相垂直。
[0019]可选地，第一支架上的测量探头的数量与第二支架上的测量探头的数量相同。
[0020]可选地，第一支架上相邻两个测量探头的间距大于350毫米，第二支架上相邻两个测量探头的间距大于350毫米。
[0021]可选地，第一支架与第二支架为长条形且互相平行，第一支架与第二支架的间距大于1100毫米。
[0022]本专利技术同时提供一种高度测量方法，用于高度测量装置，高度测量装置包括支架组、多个用于测量彩膜基板上各测量点高度的测量探头、第一移动单元和第二移动单元，支架组至少包括第一支架和第二支架，第一移动单元分别与第一支架和第二支架相连接，第二移动单元设置在第一支架和第二支架上，并与测量探头相连接；方法包括：
[0023]获取彩膜基板上各测量点的平面坐标信息；
[0024]根据平面坐标信息控制第一移动单元驱动第一支架或/和第二支架移动，及控制第二移动单元驱动测量探头在第一支架或/和第二支架上移动，以使测量探头扫描各测量点。
[0025]可选地，根据平面坐标信息控制第一移动单元驱动第一支架或/和第二支架移动，及控制第二移动单元驱动测量探头在第一支架或/和第二支架上移动的步骤，还包括：
[0026]根据平面坐标信息对测量点进行排序，得到排序信息；
[0027]根据排序信息确定各测量点在彩膜基板上的分布位置图；
[0028]根据所分布位置图，确定各测量探头的移动轨迹；
[0029]根据移动轨迹，向第一移动单元和第二移动单元发送移动控制指令。
[0030]与现有技术相比，本专利技术的有益效果包括：本专利技术的高度测量装置包括支架组、多个测量探头、第一移动单元、第二移动单元、坐标获取单元及控制单元；支架组至少包括第一支架和第二支架；测量探头用于探测彩膜基板上各测量点的高度信息；第一移动单元分别与第一支架和第二支架相连接；第二移动单元设置在第一支架和第二支架上，并与测量探头相连接；坐标获取单元用于获取彩膜基板上各测量点的平面坐标信息；控制单元用于根据平面坐标信息控制第一移动单元驱动第一支架或/和第二支架移动，及控制第二移动单元驱动测量探头在第一支架或/和第二支架上移动，以使测量探头扫描各测量点。由此，本专利技术可以根据测量探头的平面坐标信息，控制测量探头的移动轨迹，避免测量探头之间出现干涉的情况，节省了人工规划测量探头移动轨迹的人力资源，避免人工规划容易出错的问题，提升了测量工作的效率。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1是本专利技术实施例高度测量装置的结构示意图；
[0033]图2是本专利技术实施例控制单元的架构图；
[0034]图3是本专利技术实施例测量探头的移动轨迹图；
[0035]图4是本专利技术实施例高度测量方法的流程图一；
[0036]图5是本专利技术实施例高度测量方法的流程图二。
具体实施方式
[0037]以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本专利技术可用以实施的特定实施例。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚
度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的模组或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0038]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0039]本专利技术实施例提供一种高度测量装置，如图1所示，包括支架组、多个测量探头3、第一移动单元(未图示)、第二移动单元(未图示)、坐标获取单元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高度测量装置，其特征在于，包括：支架组，至少包括第一支架和第二支架；多个测量探头，用于探测彩膜基板上各测量点的高度信息；第一移动单元，分别与所述第一支架和所述第二支架相连接；第二移动单元，设置在所述第一支架和所述第二支架上，并与所述测量探头相连接；坐标获取单元，用于获取所述彩膜基板上各测量点的平面坐标信息；控制单元，用于根据所述平面坐标信息控制所述第一移动单元驱动所述第一支架或/和所述第二支架移动，及控制所述第二移动单元驱动所述测量探头在所述第一支架或/和所述第二支架上移动，以使所述测量探头扫描各所述测量点。2.根据权利要求1所述的高度测量装置，其特征在于，所述控制单元还包括：排序单元，用于根据所述平面坐标信息对所述测量点进行排序，得到排序信息；分布单元，用于根据所述排序信息确定各所述测量点在所述彩膜基板上的分布位置图；轨迹单元，用于根据所分布位置图，确定各所述测量探头的移动轨迹；指令单元，用于根据所述移动轨迹，向所述第一移动单元和所述第二移动单元发送移动控制指令。3.根据权利要求2所述的高度测量装置，其特征在于，所述控制单元还包括划分单元，所述划分单元用于根据所述分布位置图划分各所述测量探头的移动区域，所述轨迹单元用于根据各所述测量探头的移动区域，确定各所述测量探头的移动轨迹。4.根据权利要求2所述的高度测量装置，其特征在于，所述移动轨迹包括“弓”字形图案或“之”字形图案。5.根据权利要求1所述的高度测量装置，其特征在于，所述测量探头的移动方向与所述第一支架和所述第二支架的移动方向互相垂直。6.根据权利要求1所述的高度测量装置，其特征在于，所述第一支架上的所述测量探头的数量与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏仕霞，
申请(专利权)人：苏州华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：