一种裂缝测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供的一种裂缝测量装置包括角度刻度盘、显微镜及激光测距仪，角度刻度盘开设有通孔，角度刻度盘用于设置于待测物表面，且通孔位于待测物表面的裂缝处，显微镜设置于角度刻度盘的通孔处，且显微镜的轴线垂直于角度刻度盘，显微镜用于检测裂缝宽度，激光测距仪套设于显微镜靠近角度刻度盘的一端，且激光测距仪能够绕显微镜转动，激光测距仪用于检测裂缝距第一参考位置的距离，并用于检测裂缝距第二参考位置的距离，本申请设置有角度刻度盘，从而能够保证激光测距仪位于竖直状态、水平状态或其他能够从角度刻度盘获得的预设角度状态，从而保证裂缝位置测量准确，且由于本申请能够准确测量裂缝位置，从而不需要画线做标记。做标记。做标记。

【技术实现步骤摘要】
一种裂缝测量装置


[0001]本技术涉及建筑质量
，特别涉及一种裂缝测量装置。

技术介绍

[0002]在工程测量领域，为了解墙体、梁、柱表面裂缝宽度情况及裂缝发展趋势，需对裂缝进行长期观测。而通常裂缝宽度较小且检测精度要求较高，因此需要精确定位裂缝测点的位置，否则不是同一测点处的检测数据无法对比。目前通常做法是在裂缝上通过画线的方式做标记，然后通过钢卷尺或激光测距仪测量测点距地面距离(纵坐标)和墙边的距离(横坐标)。
[0003]但是测量时无法严格保证激光测距仪或钢卷尺处于水平或者垂直状态，则从而导致测点的纵横坐标测量不准确，且使用钢卷尺时需要2人配合，浪费人力，此外，画线所做的测点标记可能被水冲刷掉或因其他原因消失，从而导致无法找到原测点。

技术实现思路

[0004]基于此，本技术的主要目的是提供一种能够准确找到原测点，且测量准确的裂缝测量装置。
[0005]为实现上述目的，本技术提供一种裂缝测量装置，包括：
[0006]角度刻度盘，所述角度刻度盘上至少设置有0
°
刻度、90
°
刻度及270
°
刻度，所述角度刻度盘开设有通孔，所述角度刻度盘用于设置于待测物表面，且所述通孔位于所述待测物表面的裂缝处；及
[0007]显微镜，设置于所述角度刻度盘的所述通孔处，且所述显微镜的轴线垂直于所述角度刻度盘，所述显微镜用于检测所述裂缝宽度；
[0008]激光测距仪，套设于所述显微镜靠近所述角度刻度盘的一端，且所述激光测距仪能够绕所述显微镜转动，所述激光测距仪用于检测所述裂缝距第一参考位置的距离，并用于检测所述裂缝距第二参考位置的距离，所述激光测距仪与第一参考位置的连线及所述激光测距仪与第二参考位置的连线形成的夹角为预设角度，所述预设角度的范围为(0
°
，180
°
)。
[0009]优选地，所述角度刻度盘为360
°
刻度盘。
[0010]优选地，所述360
°
刻度盘在90
°
和/或270
°
的刻度处设置有凸起，所述激光测距仪朝向所述360
°
刻度盘的一侧设置有凹槽，所述凹槽和所述凸起相适配。
[0011]优选地，所述凸起为半球形凸点，所述凹槽为与所述半球形凸点相适配的半球形凹槽。
[0012]优选地，所述角度刻度盘为圆盘。
[0013]优选地，所述显微镜包括相对设置的观测端和近物端，所述近物端设置于所述角度刻度盘的所述通孔处，所述激光测距仪套设于所述近物端，且所述激光测距仪能够绕所述近物端转动。
[0014]优选地，所述显微镜的侧壁开设有开口。
[0015]优选地，所述显微镜包括补光灯，所述补光灯的出光口对准所述开口，所述补光灯发射的光线能够经所述开口照射于所述裂缝处。
[0016]优选地，所述激光测距仪能够向所述第一参考位置或所述第二参考位置发射脉冲激光束，并接收所述第一参考位置或所述第二参考位置反射的激光束，所述激光测距仪记录发射激光束到接收激光束的时间差，进而计算出所述裂缝距距所述第一参考位置或所述第二参考位置的距离。
[0017]优选地，所述激光测距仪形状包括相连接的激光发射部和套环部，所述套环部套设于所述显微镜靠近所述角度刻度盘的一端，所述激光发射部能够向所述第一参考位置或所述第二参考位置发射脉冲激光束，并接收所述第一参考位置或所述第二参考位置反射的激光束，所述激光发射部记录发射激光束到接收激光束的时间差，进而计算出所述裂缝距距所述第一参考位置或所述第二参考位置的距离。
[0018]本技术技术方案的优点：将角度刻度盘贴放在待测物表面，并使通孔位于待测物表面的裂缝处，然后让激光测距仪自然下垂，转动角度刻度盘使得0
°
刻度线与激光测距仪轴线重合，此时0
°
刻度线所在方向即为竖直方向，然后通过显微镜测得裂缝宽度(由于角度刻度盘具有通孔，从而避免角度刻度盘遮挡住裂缝，而使得显微镜无法观测到裂缝)，再通过激光测距仪测得裂缝距第一参考位置的距离，随后绕显微镜转动激光测距仪，转动预设角度后，通过激光测距仪测得裂缝距第二参考位置的距离，本申请得到裂缝距第一参考位置和第二参考位置的距离，即相当于得到了裂缝的坐标，从而下次对裂缝进行测量时，可以直接找到当前裂缝的位置，以保证每次测量的是同一裂缝处，此外，由于本申请设置有角度刻度盘，从而能够保证激光测距仪位于竖直状态、水平状态或其他能够从角度刻度盘获得的预设角度状态，从而保证裂缝位置测量准确，且由于本申请能够准确测量裂缝位置，从而不需要画线做标记。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的装置获得其他的附图。
[0020]图1为一实施例的裂缝测量装置的爆炸图；
[0021]图2为一实施例的裂缝测量装置的结构示意图；
[0022]图3为一实施例的激光测距仪的结构示意图；
[0023]图4为一实施例的显微镜的结构示意图。
[0024]其中，100.显微镜；110.观测端；120.近物端；130.开口；140.补光灯；200.激光测距仪；210.激光发射部；211.凹槽；220.套环部；300.角度刻度盘；310.通孔；320.凸起。
[0025]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行
清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中的“和/或”包括三个方案，以A和/或B为例，包括A技术方案、B技术方案，以及A和B同时满足的技术方案；另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种裂缝测量装置，其特征在于，包括：角度刻度盘，所述角度刻度盘上至少设置有0
°
刻度、90
°
刻度及270
°
刻度，所述角度刻度盘开设有通孔，所述角度刻度盘用于设置于待测物表面，且所述通孔位于所述待测物表面的裂缝处；及显微镜，设置于所述角度刻度盘的所述通孔处，且所述显微镜的轴线垂直于所述角度刻度盘，所述显微镜用于检测所述裂缝宽度；激光测距仪，套设于所述显微镜靠近所述角度刻度盘的一端，且所述激光测距仪能够绕所述显微镜转动，所述激光测距仪用于检测所述裂缝距第一参考位置的距离，并用于检测所述裂缝距第二参考位置的距离，所述激光测距仪与第一参考位置的连线及所述激光测距仪与第二参考位置的连线形成的夹角为预设角度，所述预设角度大于0
°
，且所述预设角度小于180
°
。2.如权利要求1所述的裂缝测量装置，其特征在于，所述角度刻度盘为360
°
刻度盘。3.如权利要求2所述的裂缝测量装置，其特征在于，所述360
°
刻度盘在90
°
和/或270
°
的刻度处设置有凸起，所述激光测距仪朝向所述360
°
刻度盘的一侧设置有凹槽，所述凹槽和所述凸起相适配。4.如权利要求3所述的裂缝测量装置，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张飞，张百乐，林晓康，邱发强，张八芳，李贞，
申请(专利权)人：健研检测集团重庆有限公司，
类型：新型
国别省市：