磁性元器件产线闭环管理方法、计算机设备及存储介质技术

本发明专利技术公开了一种磁性元器件产线高质量闭环管理方法、计算机设备及存储介质，方法包括：步骤1，读取生产计划；步骤2，获取生产信息；步骤3、检测上料完备性，启动产线设备生产；步骤4、对设备的生产信息进行实时监测，实时处理生产过程中出现的问题；步骤5、成品下线，自动扫描成品编码，关联产品的质量数据、物料数据、设备信息到单个元器件上。形成质量的可追溯信息平台。本发明专利技术是一种能够对上料信息、产量信息、电性能检测质量信息等进行管理的磁性元器件产线闭环管理方法、计算机设备及存储介质。计算机设备及存储介质。计算机设备及存储介质。

【技术实现步骤摘要】
磁性元器件产线闭环管理方法、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及磁性元器件自动化生产
，尤其涉及磁性元器件产线闭环管理方法、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]磁性元器件的产量和质量影响因素，存在于生产设备的调教，例如生产设备的工艺设置、各种部件的保养维修等，生产原材料的质量情况，生产工艺控制，以及焊锡、烘烤环境的温度、湿度等。而产品在形成成品时，要经过一系列的电性能测试，只有全部指标测量通过的单个产品才算合格下线。
[0003]因此，亟需一种能够对上料信息、产量信息、电性能检测质量信息等进行管理的磁性元器件产线闭环管理方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种能够对上料信息、产量信息、电性能检测质量信息等进行管理的磁性元器件产线闭环管理方法、计算机设备及存储介质。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术提供的技术方案为：
[0006]第一方面，本专利技术提供一种磁性元器件产线闭环管理方法，包括：
[0007]步骤1，读取生产计划；
[0008]步骤2，获取生产信息；
[0009]步骤3、检测上料完备性，启动产线设备生产；
[0010]步骤4、对设备的生产信息进行实时监测，实时处理生产过程中出现的问题；
[0011]步骤5、成品下线，自动扫描成品编码，关联产品的质量数据、物料数据、设备信息到单个元器件上。形成质量的可追溯信息平台。所述步骤2中，所述获取物料信息包括：产线设备物料检查，上料时扫描物料编号。
[0012]所述步骤2中，所述获取生产信息包括：获取产线上设备物料检查，上料时扫描物料编号信息。
[0013]所述步骤4中：包括对所述对设备的生产信息进行实时监测，包括对产品的实时产量、质量监测。
[0014]所述步骤4包括对产品实时产量、质量监测，若产品测试质量不符合要求时，则进入步骤4.1:停机整改，在线参数调整，测试达标再恢复生产，再重新进入步骤3。
[0015]所述步骤4包括对产品实时产量、质量监测，若出现设备稼动率低，设备停机时间超出响应时间，则进入步骤4.2：响应设备告警、设备维保，耗材更换，试样恢复生产，重新进入步骤2。
[0016]所述步骤2中，所述获取生产信息，包括：获取生产成本预算，确定单位产量目标，目标质量控制范围。
[0017]所述步骤4包括实时判断产线设备运行状态，若良品率低，则进入步骤4.1：产线设
备自动停机，检测工艺和物料，排除问题，试样通过后，产线恢复生产，并重新进入步骤3；若稼动率低，则进入步骤4.2：实时推送告警给机修人员和产线、车间负责人，在规定时间内解决，或者通知生产计划调整；步骤4.3：稼动率低的根因分析，并将分析结果推送给管理者。
[0018]第二方面，本专利技术提供一种计算机设备，所述计算机设备包括存储介质及与所述存储介质连接的处理器，所述存储介质用于存储计算机程序，所述处理器在运行所述计算机程序时，执行所述的磁性元器件产线闭环管理方法。
[0019]第三方面，本专利技术提供一种存储介质，所述存储介质为可读存储介质并用于存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，执行所述的磁性元器件产线闭环管理方法。
[0020]本专利技术的有益效果：
[0021]1、有效地对产线的运行状态进行优化；
[0022]2、对产品质量进行闭环控制。
[0023]通过以下的描述并结合附图，本专利技术将变得更加清晰，这些附图用于解释本专利技术的实施例。
附图说明
[0024]图1所示为本专利技术磁性元器件产线闭环管理方法的流程框图。
[0025]图2所示为本专利技术磁性元器件产线闭环管理方法的一个实施例的示意图。
[0026]图3所示为本专利技术磁性元器件产线闭环管理方法的另一个实施例的示意图。
[0027]图4产品质量监测步骤流程图。
[0028]图5产品质量测量正常的示意图。
[0029]图6产品质量测量不正常的示意图。
[0030]图7所示为产品质量追溯的流程示意图。
[0031]图8所示为测试站点的示意图。
[0032]图9所示为本专利技术计算机设备的示意图。
具体实施方式
[0033]下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0034]通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0035]在下文中，若在本专利技术的各种实施例中使用的术语“包括”、“具有”及其同源词仅意在表示特定特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合，并且不应被理解为首先排除一个或更多个其它特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的存在或增加一个或更多个特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的可能性。
[0036]此外，若本专利技术涉及到术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0037]除非另有限定，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本专利技术的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关
中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义，除非在本专利技术的各种实施例中被清楚地限定。
[0038]本专利技术采用自动化设备采集各个工站的物料上料信息、产量信息、电性能检测质量信息、外观检测信息，成品元器件扫描关联，将设备稼动率监控和干预、质量控制与干预、产品质量追溯3个主体，在一个系统中集中完成，对照生产计划中的生产成本预算，并可实现流程化的闭环管理。
[0039]电性能测试主要包括：圈数、电感、直流电阻、漏感、脚位短路、平衡值，以及共模参数等。
[0040]外观检测信息主要包括：胶带包装不规范、针脚歪斜、外表面被污染等。
[0041]参考图1，本专利技术提供一种磁性元器件产线闭环管理方法，包括：
[0042]S01，读取生产计划；
[0043]S02，获取生产信息；
[0044]S03、检测上料完备性，启动产线设备生产；
[0045]S04、对设备的生产信息进行实时监测，实时处理生产过程中出现的问题；
[0046]S05、成品下线，自动扫描成品编码，关联产品的质量数据、物料数据、设备信息到单个元器件上。形成质量的可追溯信息平台。
[0047]需要说明的是，所述步骤S03中，所述检测上料完备性，其中上料信息，包括：铜线、胶带、骨架本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁性元器件产线闭环管理方法，其特征在于，包括：步骤1，读取生产计划；步骤2，获取生产信息；步骤3、检测上料完备性，启动产线设备生产；步骤4、对设备的生产信息进行实时监测，实时处理生产过程中出现的问题；步骤5、成品下线，自动扫描成品编码，关联产品的质量数据、物料数据、设备信息到单个元器件上。形成质量的可追溯信息平台。2.如权利要求1所述的磁性元器件产线闭环管理方法，其特征在于，所述步骤2中，所述获取物料信息包括：产线设备物料检查，上料时扫描物料编号。3.如权利要求2所述的磁性元器件产线闭环管理方法，其特征在于，所述步骤2中，所述获取生产信息包括：获取产线上设备物料检查，上料时扫描物料编号信息。4.如权利要求2所述的磁性元器件产线闭环管理方法，其特征在于，所述步骤4中：包括对所述对设备的生产信息进行实时监测，包括对产品的实时产量、质量监测。5.如权利要求2所述的磁性元器件产线闭环管理方法，其特征在于，所述步骤4包括对产品实时产量、质量监测，若产品测试质量不符合要求时，则进入步骤4.1:停机整改，在线参数调整，测试达标再恢复生产，再重新进入步骤3。6.如权利要求2所述的磁性元器件产线闭环管理方法，其特征在于，所述步骤4包括对产品实时产量、质量监测，若出现设备稼动率低，设备停机时...

【专利技术属性】
技术研发人员：张毅，任小华，罗雪松，
申请(专利权)人：东莞市鑫华翼自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：