一种防止采集电路软失效的方法和系统技术方案

本申请涉及一种防止采集电路软失效的方法和系统，通过在RAM内存储至少两次数据，对数据进行对比，来判断RAM是否发生失效，以及RAM的失效类型，若为软失效，则可通过数据重写来有效避免，保证RAM正常工作，避免因RAM软失效导致的错误报警，提高系统的可用性。同时，由于采集模块中ADC采样的数据不可能完全一致，利用本发明专利技术提供的对比方法，保证在精度要求内，确保数据对比的准确性，保证系统的高可用性。保证系统的高可用性。保证系统的高可用性。

【技术实现步骤摘要】
一种防止采集电路软失效的方法和系统


[0001]本申请属于工业控制
，具体涉及一种防止采集电路软失效的方法和系统。

技术介绍

[0002]带有随机存储器(Random Access Memory，RAM)的器件在其生命周期中，会由于各种各样的原因导致功能失效，一般而言，硬件本身发生损坏的，我们称之为器件硬失效(Firm Error)，否则，称之为器件软失效(Soft Error)。
[0003]软失效主要是由于带电粒子撞击器件的存储单元RAM引起的，这些高能粒子和半导体存储器的原子相互作用产生电子空穴对，该电子空穴对导致存储单元中存储信息的改变，进而导致器件功能错误。
[0004]在工业控制领域，随机存储器RAM得到广泛应用，在控制系统的采集电路中，从前端的数据采集，数据计算以及计算结果的上报过程，各类数据均是存储在RAM中，在整个过程中，若某个RAM发生软失效，则会导致采集电路上报的数据出错，导致控制系统错误报警，造成系统停车，影响系统连续运行，可用性差。

技术实现思路

[0005]鉴于现有技术的上述缺点、不足，本申请提供一种防止采集电路软失效的方法和系统，能对稳态信号采集电路的各个环节软失效进行验证，确保采集数据的准确性。
[0006]为达到上述目的，本申请采用如下技术方案：一种防止采集电路软失效的方法，用于稳态信号采集电路，包括：S1：采集模块进行至少两次现场数据采集，并将采集数据分别存储在采集模块RAM的至少两个地址中；S2：对比采集模块RAM内的采集数据，若数据一致，则向计算模块发送采集数据，若数据不一致，则执行S3；S3：判断是否连续多次采集数据对比均不一致，若是，则发起采集模块RAM硬失效报警，若不是，则返回S1；S4：计算模块接收采集模块发送的采集数据，并针对至少两个采集数据进行计算，并将计算结果分别存储在计算模块RAM的至少两个地址中；S5：计算模块将至少两个计算结果发送至上报模块，上报模块计算结果添加校验后进行比较，若一致，则对外发送添加校验后的计算结果，若不一致，则执行S6;S6：判断是否连续多次计算结果对比均不一致，若是，则发起计算模块RAM硬失效报警，若不是，则返回S1。
[0007]优选的，S2和S5中的比较方法包括：S201：获取采集电路精度要求x，以及采集电路ADC位数y；S202：根据所述精度要求x以及ADC位数y，计算允许误差值e：
S203：根据允许误差值e，计算允许误差的ADC采样位数n：，其中，n为正整数；S204：对比采集模块RAM内的数据，若数据前y
‑
n位数据一致，则确定采集模块RAM内的数据一致。
[0008]S203中，允许误差的ADC采样位数n取最大整数。
[0009]优选的，S3和S6中，连续两次判断均不一致，则触发RAM硬失效报警。
[0010]优选的，所述上报模块对计算结果加校验后，生成的数据包括数据头、计算结果以及CRC校验码。
[0011]本专利技术还公开了一种防止采集电路软失效的系统，用于采集稳态信号，包括：采集模块：用于采集至少两次现场数据，并将采集数据存储在采集模块RAM至少两个的地址中；对比至少两次采集数据，若一致，则将采集数据发送至计算模块，若连续多次均不一致，则发起采集模块RAM硬失效报警；计算模块：接收采集模块发送的至少两次采集数据，并分别进行计算，并计算结果存储在计算模块RAM至少两个的地址后，向上报模块发送计算结果；上报模块：接收计算模块发送的至少两个计算结果并添加校验，对比添加校验后的计算结果，若一致，则对外报送；若连续多次对比均不一致，则发起采集模块RAM硬失效报警。
[0012]优选的，所述采集模块和所述上报模块对比数据的方法包括：获取采集电路精度要求x，以及采集电路ADC位数y；根据所述精度要求x以及ADC位数y，计算允许误差值e：根据允许误差值e，计算允许误差的ADC采样位数n：，其中，n为正整数；对比采集模块RAM内的数据，若数据前y
‑
n位数据一致，则确定采集模块RAM内的数据一致。
[0013]优选的，允许误差的ADC采样位数n取最大整数。
[0014]优选的，所述计算模块和所述上报模块连续两次判断均不一致，则触发RAM硬失效报警。
[0015]优选的，所述上报模块对计算结果加校验后，生成的数据包括数据头、计算结果以及CRC校验码。
[0016]本申请的有益效果是：本申请涉及一种防止采集电路软失效的方法和系统，通过在RAM内存储至少两次数据，对数据进行对比，来判断RAM是否发生失效，以及RAM的失效类型，若为软失效，则可通过数据重写来有效避免，保证RAM正常工作，避免因RAM软失效导致的错误报警，提高系统的可用性。同时，由于采集模块中ADC采样的数据不可能完全一致，利用本专利技术提供的对比方法，保证在精度要求内，确保数据对比的准确性，保证系统的高可用
性。
附图说明
[0017]本申请借助于以下附图进行描述：图1示出了本申请一种实施例的流程图；图2示出了本申请RAM数据比对方法流程图；图3示出了本申请实施例的示意图；图4示出了本申请另一种实施例的示意图。
具体实施方式
[0018]为了更好的解释本专利技术，以便于理解，下面结合附图，通过具体实施方式，对本专利技术作详细描述。可以理解的是，以下所描述的具体的实施例仅仅用于解释相关专利技术，而非对该专利技术的限定。另外还需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合；为了便于描述，附图中仅示出了与专利技术相关的部分。
[0019]如图1所示，本专利技术实施例公开了一种防止采集电路软失效的方法，用于稳态信号采集电路，包括：S1：采集模块进行至少两次现场数据采集，并将采集数据分别存储在采集模块RAM的至少两个地址中。
[0020]本实施例中，以进行两次现场数据采集为例进行说明，采集模块对现场的稳态信号进行采集，每次采集的数据为稳态信号周期的整数倍，例如2个周期的数据，当采集两个信号周期的数据后，将数据存储在采集模块RAM的地址中，重复进行两次。即采集模块RAM中的两个存储地址内，均存储了两个周期的稳态信号采集数据。
[0021]S2：对比采集模块RAM内的采集数据，若数据一致，则向计算模块发送采集数据，若数据不一致，则执行S3；本实施例以采集电路精度要求1%，16bit的ADC为例进行说明，则具体的数据比较方法为：S201：获取采集电路精度要求x=1%，采集电路ADC位数y=16。
[0022]S202：根据所述精度要求x以及ADC位数y，计算允许误差值e，16位的采集电路ADC采样，所才采集的数据最大值为，结合精度要求，确认采集模块采集的信号允许的误差值。
[0023]S203：根据允许误差值e，计算允许误差的ADC采样位数n。
[0024]在误差范围内允许的ADC采样位号采集数据偏差的位数n，ADC后n位的采集数据的值要小于等于允许误差值e，即，求解的n≤本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种防止采集电路软失效的方法，用于稳态信号采集电路，其特征在于：S1：采集模块进行至少两次现场数据采集，并将采集数据分别存储在采集模块RAM的至少两个地址中；S2：对比采集模块RAM内的采集数据，若数据一致，则向计算模块发送采集数据，若数据不一致，则执行S3；S3：判断是否连续多次采集数据对比均不一致，若是，则发起采集模块RAM硬失效报警，若不是，则返回S1；S4：计算模块接收采集模块发送的采集数据，并针对至少两个采集数据进行计算，并将计算结果分别存储在计算模块RAM的至少两个地址中；S5：计算模块将至少两个计算结果发送至上报模块，上报模块计算结果添加校验后进行比较，若一致，则对外发送添加校验后的计算结果，若不一致，则执行S6;S6：判断是否连续多次计算结果对比均不一致，若是，则发起计算模块RAM硬失效报警，若不是，则返回S1。2.根据权利要求1所述的一种防止采集电路软失效的方法，其特征在于：S2和S5中的比较方法包括：S201：获取采集电路精度要求x，以及采集电路ADC位数y；S202：根据所述精度要求x以及ADC位数y，计算允许误差值e：S203：根据允许误差值e，计算允许误差的ADC采样位数n：，其中，n为正整数；S204：对比采集模块RAM内的数据，若数据前y
‑
n位数据一致，则确定采集模块RAM内的数据一致。3.根据权利要求2所述的一种防止采集电路软失效的方法，其特征在于：S203中，允许误差的ADC采样位数n取最大整数。4.根据权利要求1所述的一种防止采集电路软失效的方法，其特征在于：S3和S6中，连续两次判断均不一致，则触发RAM硬失效报警。5.根据权利要求1所述的一种防止采集电路软失效的方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖一宁，金福坤，柏立悦，
申请(专利权)人：浙江中控技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：