电池保护芯片的测试电路、电池保护芯片测试装置与方法制造方法及图纸

本申请涉及一种电池保护芯片及其测试电路、电池保护芯片测试装置与方法，包括测试分压电路、测试信号产生电路与测试信号输入电路，测试分压电路根据对外供电端子的供电电压进行分压，得到过充测试分压，测试信号产生电路在过充测试分压大于或等于预设参考电压时，输出过充测试信号通过测试信号输入电路传输至过充输出电路，以使过充输出电路根据过充测试信号与过充比较信号输出过充信号，通过芯片现有的对外供电端子对测试分压电路进行供电，进而控制测试信号产生电路输出过充测试信号来代替过充保护动作的延时信号，使芯片的过充输出电路直接根据过充测试信号与过充比较信号输出过充信号，缩短芯片的过充保护动作的触发时间，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
电池保护芯片的测试电路、电池保护芯片测试装置与方法


[0001]本申请涉及电池保护芯片测试
，特别是涉及一种电池保护芯片及其测试电路、电池保护芯片测试装置与方法。

技术介绍

[0002]随着电子技术的发展，锂电池进入了大规模的实用阶段，成为了各种智能设备的必备电源。同时，通常会增加电池保护芯片对锂电池的充放电过程进行监测与保护，当发生充放电异常时及时切断电池与外部设备的连接。其中，电池保护芯片可实现的监测保护功能非常多，例如开短路保护、过充保护、过充恢复、过放保护、过放恢复、过流保护与温度保护等等。对应地，电池保护芯片在出厂时，也需对所具备的各项功能进行反复的测试，以保证芯片质量。
[0003]现有的电池保护芯片为了防止噪声引起的误动作，通常会对保护动作电路输出保护信号进行延时输出。其中，过充保护动作的延时可达到上百毫秒甚至秒级。对于传统正常触发芯片的过充保护动作，等待延时后再观察充电控制端CO的电平状态进行测试的方式，过长的延迟将导致电池保护芯片的测试时间较长，存在测试效率较低的缺点。

技术实现思路
<br/>[0004]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电池保护芯片的测试电路，其特征在于，包括：测试分压电路、测试信号产生电路与测试信号输入电路，所述测试分压电路通过电池保护芯片的过充分压电路连接对外供电端子，所述测试分压电路还连接所述测试信号产生电路，所述测试信号产生电路连接所述测试信号输入电路，所述测试信号输入电路连接所述电池保护芯片的过充输出电路；所述测试分压电路用于根据所述对外供电端子的供电电压进行分压，得到过充测试分压；所述过充测试分压小于过充检测分压，所述过充检测分压由所述过充分压电路输出；所述测试信号产生电路在所述过充测试分压大于或等于预设参考电压时，输出过充测试信号至所述测试信号输入电路；所述测试信号输入电路用于将接收的所述过充测试信号输出至所述过充输出电路，以使所述过充输出电路根据所述过充测试信号与过充比较信号输出过充信号；其中，所述过充比较信号由所述电池保护芯片的过充比较电路根据所述过充检测分压与所述预设参考电压得到。2.根据权利要求1所述的电池保护芯片的测试电路，其特征在于，所述测试信号产生电路包括测试比较电路、噪声抑制电路与脉冲产生电路，所述测试比较电路连接所述测试分压电路与所述噪声抑制电路，所述噪声抑制电路连接所述脉冲产生电路，所述脉冲产生电路连接所述测试信号输入电路。3.根据权利要求2所述的电池保护芯片的测试电路，其特征在于，所述测试比较电路包括比较器，所述比较器连接所述测试分压电路与所述噪声抑制电路。4.根据权利要求3所述的电池保护芯片的测试电路，其特征在于，所述测试分压电路包括分压组件，所述分压组件连接所述过充分压电路和所述测试比较电路。5.根据权利要求4所述的电池保护芯片的测试电路，其特征在于，所述分压组件包括三个依次串联的电阻，且串联后一端连接所述过充分压电路，另一端接地；所述测试比较电路还包括数据选择器，所述数据选择器的第一输入端连接三个电阻串联后的第一公共端，所述数据选择器的第二输入端连接三个电阻串联后的第二公共端，所述数据选择器的输出端连接所述比较器的第一输入端，所述数据选择器的控制端连接所述噪声抑制电路。6.根据权利要求1所述的电池保护芯片的测试电路，其特征在于，所述测试信号输入电路为或非逻辑门，所述或非逻辑门的第一输入端连接所述测试信号产生电路，所述或非逻辑门的第二输入端连接所述电池保护芯片的过充延时电路，所述或非逻辑门的输出端连接所述过充输出电路。7.根据权利要求1至6任意一项所述的电池保护芯片的测试电路，其特征在于，还包括中测测试电路，所述中测测试电路连接所述过充比较电路。8.一种电池...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏丹，秦鹏举，杨敏，孙添平，
申请(专利权)人：深圳市爱协生科技有限公司，
类型：发明
国别省市：