一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法和系统，涉及芯片验证、软件测试技术领域，方法包括：构建变量组合时间序列功能覆盖率结构并将其作为随机约束；确定变量组合时间序列功能覆盖率结构中每个变量的每个取值范围的随机种子；按变量组合时间序列功能覆盖率结构的时间序列顺序获取一个时间点作为当前时间点；从变量组合时间序列功能覆盖率结构中获取每个变量当前时间点下的取值段，组成当前时间点下的变量组合结构；针对当前时间点下的变量组合结构，产生每个变量的随机激励以进行当前场景测试。本发明专利技术基于变量组合时间序列功能覆盖率结构以及随机测试算法，高效实现变量组合时间序列功能覆盖率的测试目标。测试目标。测试目标。

【技术实现步骤摘要】
一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法和系统


[0001]本专利技术涉及芯片验证（测试）、软件测试等
，具体涉及一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法和系统。

技术介绍

[0002]在芯片验证中，场景分析会得到大量的测试用例，这些测试用例用于描述芯片会做什么配置、会产生什么样的激励、期望得到什么结果。这里涉及多种不同的因素，以及各个因素的取值范围。重要的是，还需要对这些需要覆盖的场景进行统计，明确哪些配置、激励、期望的结果已测试到或没测试到。这种类型的覆盖叫做组合或交叉覆盖率（cross coverage），后续为便于描述，统称为组合覆盖率。
[0003]另外一种场景是针对某个因素或多个因素，在不同时间里，从一种取值变化到另一种取值，即增加了时间维度，随时间变化的场景，称之为时间序列功能覆盖率。
[0004]现有时间序列功能覆盖率，采用covergroup
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coverpoint
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bins结构进行定义。该技术存在如下缺陷：（1）实现繁琐，为了编译器的需要，需要输入大量的额外信息，有效信息密度低，导致编程工作量大。
[0005]（2）其只能定义单个变量的时间序列，无法支持多个变量的时间序列，然而实际验证需求是：在一个时间序列，即同一时刻，往往需要多个变量的取值进行组合，故现有时间序列功能覆盖率无法满足验证要求。
[0006]（3）没有提供相应的约束语法或手段，实现时间序列功能覆盖率目标的达成。
[0007]（4）无法对仓中某个段设置权重，无法满足验证需求。

技术实现思路

[0008]为了解决现有技术工作量大，且无法满足实际验证需求的问题，本专利技术提供了一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法。本专利技术基于简化的变量组合时间序列功能覆盖率结构以及随机测试算法，高效实现多变量组合时间序列功能覆盖率的测试目标。
[0009]本专利技术通过下述技术方案实现：一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法，包括：根据实际验证需求，构建变量组合时间序列功能覆盖率结构并将其作为随机约束；变量组合时间序列功能覆盖率结构用于表征单个变量随时间变化的关系或至少两个变量组合随时间变化的关系；确定变量组合时间序列功能覆盖率结构中每个变量的每个取值范围的随机种子；按变量组合时间序列功能覆盖率结构的时间序列顺序获取一个时间点作为当前时间点；从变量组合时间序列功能覆盖率结构中获取每个变量当前时间点下的取值段，组成当前时间点下的变量组合结构；
针对当前时间点下的变量组合结构，根据相应的随机种子产生每个变量的随机激励以进行当前场景测试；返回执行按变量组合时间序列功能覆盖率结构的时间序列顺序获取一个时间点作为当前时间点步骤，直到遍历完整个时间序列。
[0010]作为优选实施方式，本专利技术构建的变量组合时间序列功能覆盖率结构为三层结构；其中，第一层采用大括号“{}”，表示包括一个变量的时间序列或至少两个变量的组合时间序列；第二层采用中括号“[ ]”，表示每个变量的所有取值段；第三层采用中括号“[ ]”，表示每个段的取值范围和/或权重；且每个变量的取值段数量相同，均与时间序列长度相等。
[0011]作为优选实施方式，本专利技术的权重用于表示取值范围的重复次数，在取值范围的中括号“[ ]”后增加“*W”进行表征，W表示权重值。
[0012]作为优选实施方式，本专利技术的权重值W小于等于时间序列长度N。
[0013]作为优选实施方式，本专利技术当权重值W等于时间序列长度N时，则缺省。
[0014]作为优选实施方式，本专利技术的取值范围包括首尾数值相等的数值或首尾数值不相等的数值范围。
[0015]作为优选实施方式，本专利技术的随机种子用于保证每次测试产生的随机激励能够复现。
[0016]作为优选实施方式，本专利技术产生的随机激励为：如果变量的取值范围为单个数值，则直接返回该单个数值作为随机激励；如果变量的取值范围为数值范围，则在该数值范围内产生一个随机数作为随机激励。
[0017]作为优选实施方式，本专利技术的方法还包括：输出测试结果。
[0018]另一方面，本专利技术提出了一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试系统，包括：构建模块，根据实际验证需求，构建变量组合时间序列功能覆盖率结构并将其作为随机约束；变量组合时间序列功能覆盖率结构用于表征单个变量随时间变化的关系或至少两个变量组合随时间变化的关系；随机种子选取模块，用于确定变量组合时间序列功能覆盖率结构中的每个变量的每个取值范围的随机种子；组合序列模块，按变量组合时间序列功能覆盖率结构的时间序列顺序获取一个时间点作为当前时间点，从变量组合时间序列功能覆盖率结构中获取每个变量当前时间点下的取值段，组成当前时间点下的变量组合结构；随机测试模块，针对当前时间点下的变量组合结构，根据相应的随机种子产生每个变量的随机激励以进行当前场景测试。
[0019]本专利技术具有如下的优点和有益效果：1、本专利技术通过构建的变量组合时间序列功能覆盖率目标结构，且将其直接作为随
机约束产生随机激励，能够大大降低了编码工作量，提高了编码效率和测试效率，且结合测试算法，能够直接命中目标，能够实现100%功能覆盖率目标，弥补了现有技术没有组合约束和时间序列约束的功能。
[0020]2、相较于现有对coverpoint、cross、coverproup设置整体权重，其只有计算总体覆盖率数据有意义，并不能反映实际验证需求。本专利技术能够对bins设置权重，更能体现实际验证需求的本质，符合实际验证需求。
附图说明
[0021]此处所说明的附图用来提供对本专利技术实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本专利技术实施例的限定。在附图中：图1为本专利技术实施例的方法流程示意图。
[0022]图2为本专利技术实施例的多变量组合时间序列功能覆盖率示例。
[0023]图3为本专利技术实施例的计算机设备原理框图。
[0024]图4为本专利技术实施例的系统原理框图。
具体实施方式
[0025]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。
[0026]实施例1传统的时间序列功能覆盖率，其采用System Verilog语言中的covergroup
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coverpoint
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bins语法结构来定义，其仅能定义单个变量随时间变化的情况，无法描述多个变量的组合关系，从而不满足实际验证需求；同时现有技术进行时间序列功能覆盖率定义，需要配套复杂程序，从而耗费大量的人力物力，导致测试效率低等。针对此，本专利技术实施例提出了一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法，本专利技术实施例通过采用变量组合时间序列功能覆盖率结构以及相应的测试算法，大大减轻了编码负担，提高了编码效率，从而提高了测试效率。
[0027]具体如图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法，其特征在于，包括：根据实际验证需求，构建变量组合时间序列功能覆盖率结构并将其作为随机约束；变量组合时间序列功能覆盖率结构用于表征单个变量随时间变化的关系或至少两个变量组合随时间变化的关系；确定变量组合时间序列功能覆盖率结构中每个变量的每个取值范围的随机种子；按变量组合时间序列功能覆盖率结构的时间序列顺序获取一个时间点作为当前时间点；从变量组合时间序列功能覆盖率结构中获取每个变量当前时间点下的取值段，组成当前时间点下的变量组合结构；针对当前时间点下的变量组合结构，根据相应的随机种子产生每个变量的随机激励以进行当前场景测试；返回执行按变量组合时间序列功能覆盖率结构的时间序列顺序获取一个时间点作为当前时间点步骤，直到遍历完整个时间序列。2.根据权利要求1所述的一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法，其特征在于，构建的变量组合时间序列功能覆盖率结构为三层结构；其中，第一层采用大括号“{}”，表示包括一个变量的时间序列或至少两个变量的组合时间序列；第二层采用中括号“[ ]”，表示每个变量的所有取值段；第三层采用中括号“[ ]”，表示每个取值段的取值范围和/或权重；且每个变量的取值段数量相同，均与时间序列长度相等。3.根据权利要求2所述的一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法，其特征在于，权重用于表示取值范围的重复次数，在取值范围的中括号“[ ]”后增加“*W”进行表征，W表示权重值。4.根据权利要求3所述的一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法，其特征在于，权重值W小于等于时间序列长度N。5.根据权利要求4所述的一种基于变量组合时间序列功能覆盖率的测试方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：易敏，魏明，成民，杨云召，申传强，张挺，易天浩，
申请(专利权)人：济南新语软件科技有限公司，
类型：发明
国别省市：