曲面信息的描述方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:35174974 阅读:16 留言:0更新日期:2022-10-12 17:41
本发明专利技术涉及计算机辅助设计技术领域,具体公开了曲面信息的描述方法、装置及电子设备,该方法包括获取待分析曲面,所述待分析曲面为被目标软件识别为非简单曲面类型的曲面;对所述待分析曲面进行采样,确定所述待分析曲面的实际曲面类型;当所述实际曲面类型为简单曲面类型时,修正所述目标软件的识别结果并确定所述待分析曲面的曲面描述。通过对目标软件识别为非简单曲面类型的曲面进行重分析,且在重分析时是通过对待分析曲面采样进行的,该方式简单且能够对目标软件的识别结果进行修正,使得最终能够准确地确定出待分析曲面的曲面描述。最终能够准确地确定出待分析曲面的曲面描述。最终能够准确地确定出待分析曲面的曲面描述。

【技术实现步骤摘要】
曲面信息的描述方法、装置及电子设备


[0001]本专利技术涉及计算机辅助设计
,具体涉及曲面信息的描述方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]NX是一个交互式计算机辅助设计与计算机辅助制造(即,CAD/CAM)系统,它功能强大,可以轻松实现各种复杂实体及造型的建构。在建构时需要识别导入的实体模型的曲面类型,包括简单曲面类型以及非简单曲面类型,其中,简单曲面类型包括平面、球面、圆柱面以及圆锥面等等;非简单曲面类型包括B曲面或其他高阶曲面类型。在将实体模型导入NX后,可以通过NX功能查看模型的曲面类型等等。

技术实现思路

[0003]有鉴于此,本专利技术实施例提供了一种曲面信息的描述方法、装置即电子设备,以解决曲面信息的描述问题。
[0004]根据第一方面,本专利技术实施例提供了一种曲面信息的描述方法,包括:获取待分析曲面,所述待分析曲面为被目标软件识别为非简单曲面类型的曲面;对所述待分析曲面进行采样,确定所述待分析曲面的实际曲面类型;当所述实际曲面类型为简单曲面类型时,修正所述目标软件的识别结果并确定所述待分析曲面的曲面描述。
[0005]本专利技术实施例提供的曲面信息的描述方法,通过对目标软件识别为非简单曲面类型的曲面进行重分析,且在重分析时是通过对待分析曲面采样进行的,该方式简单且能够对目标软件的识别结果进行修正,使得最终能够准确地确定出待分析曲面的曲面描述。
[0006]结合第一方面,在第一方面第一实施方式中,所述对所述待分析曲面进行采样,确定所述待分析曲面的实际曲面类型,包括:对所述待分析曲面进行等距采样,确定非边界采样点;基于所述非边界采样点的特征确定所述待分析曲面的实际曲面类型。
[0007]本专利技术实施例提供的曲面信息的描述方法,由于边界点处的曲率和相邻的面的曲率一致,容易导致分析出错,基于此,采用非边界采样点的特征进行待分析曲面的实际曲面类型的确定提高了实际曲面类型的准确性。
[0008]结合第一方面第一实施方式,在第一方面第二实施方式中,所述基于所述非边界采样点的特征确定所述待分析曲面的实际曲面类型,包括:计算各个所述非边界采样点的主曲率;基于各个所述简单曲面类型的主曲率与所述非边界采样点的关系,确定所述待分析曲面的实际曲面类型。
[0009]本专利技术实施例提供的曲面信息的描述方法,各个简单曲面类型的主曲率有各自的特点,因此,通过主曲率匹配的方式能够较快地确定出实际曲面类型,提高了确定实际曲面
类型的效率。
[0010]结合第一方面第二实施方式,在第一方面第三实施方式中,所述基于各个所述简单曲面类型的主曲率与所述非边界采样点的关系,确定所述待分析曲面的实际曲面类型,包括:将所述非边界采样点与各个所述简单曲面类型的主曲率进行匹配,确定匹配结果;当所述匹配结果为所述简单曲面类型时,对所述非边界采样点进行曲面拟合;当得到拟合曲面时,计算所述拟合曲面与所述待分析曲面之间的距离;当所述距离小于预设距离时,确定所述待分析曲面的实际曲面类型为简单曲面类型。
[0011]本专利技术实施例提供的曲面信息的描述方法,在利用主曲率匹配出简单曲面类型之后,再对非边界采样点进行曲面拟合,此处曲面拟合的结果为匹配出的简单曲面类型,利用拟合曲面与待分析曲面之间的距离以及是否能够得到拟合曲面,对采样分析结果的正确性进行验证,进一步保证了实际曲面类型的准确性。
[0012]结合第一方面,在第一方面第四实施方式中,所述修正所述目标软件的识别结果并确定所述待分析曲面的曲面描述,包括:将所述目标软件的识别结果修正为所述简单曲面类型;基于所述待分析曲面的采样点确定所述待分析曲面的曲面描述,或者,基于所述目标软件获取所述待分析曲面的曲面构造参数,以确定所述待分析曲面的曲面描述。
[0013]本专利技术实施例提供的曲面信息的描述方法,在确定出待分析曲面的实际曲面类型为简单曲面类型时,对目标软件的识别结果进行修正,且可以利用目标软件获取到待分析曲面的曲面构造参数,其中,待分析曲面的曲面构造参数是从待分析曲面对应的拟合曲面中提取出的,从而准确地确定出待分析曲面的曲面描述。
[0014]结合第一方面第四实施方式,在第一方面第五实施方式中,所述基于所述目标软件获取所述待分析曲面的曲面构造参数,以确定所述待分析曲面的曲面描述,包括:基于所述目标软件获取所述待分析曲面的曲面构造参数;利用所述曲面构造参数确定所述待分析曲面的数学解析表达式。
[0015]本专利技术实施例提供的曲面信息的描述方法,采用数学解析表达式的方式对待分析曲面进行描述,该描述方式较为直观。
[0016]结合第一方面或第一方面第一实施方式至第五实施方式中任一项,在第一方面第六实施方式中,所述获取待分析曲面,包括:响应于曲面的选择操作,以获取所述目标软件对所选择的曲面的识别结果;基于所述识别结果对所选择的曲面进行筛选,确定所述待分析曲面。
[0017]本专利技术实施例提供的曲面信息的描述方法,利用目标软件对所选择的曲面的识别结果对所选择的曲面进行筛选,使得后续的分析仅针对被识别为非简单曲面类型的待分析曲面进行分析,减少了数据处理量,提高了曲面描述的效率。
[0018]根据第二方面,本专利技术实施例还提供了一种曲面信息的描述装置,包括:获取模块,用于获取待分析曲面,所述待分析曲面为被目标软件识别为非简单曲面类型的曲面;
采样模块,用于对所述待分析曲面进行采样,确定所述待分析曲面的实际曲面类型;修正模块,用于当所述实际曲面类型为简单曲面类型时,修正所述目标软件的识别结果并确定所述待分析曲面的曲面描述。
[0019]根据第三方面,本专利技术实施例提供了一种电子设备,包括:存储器和处理器,所述存储器和所述处理器之间互相通信连接,所述存储器中存储有计算机指令,所述处理器通过执行所述计算机指令,从而执行第一方面或者第一方面的任意一种实施方式中所述的曲面信息的描述方法。
[0020]根据第四方面,本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储计算机指令,所述计算机指令用于使所述计算机执行第一方面或者第一方面的任意一种实施方式中所述的曲面信息的描述方法。
[0021]需要说明的是,本专利技术实施例提供的曲面信息的描述装置、电子设备及计算机可读存储介质的相应有益效果,请参见上文中曲面信息的描述方法的对应有益效果的描述,在此不再赘述。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1是根据本专利技术实施例的曲面信息的描述方法的流程图;图2是根据本专利技术实施例的曲面信息的描述方法的流程图;图3是根据本专利技术实施例的曲面信息的描述方法的流程图;图4是根据本专利技术实施例的曲面信息的描述装置的结构框图;图5是本专利技术实施例提供的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种曲面信息的描述方法,其特征在于,包括:获取待分析曲面,所述待分析曲面为被目标软件识别为非简单曲面类型的曲面;对所述待分析曲面进行采样,确定所述待分析曲面的实际曲面类型;当所述实际曲面类型为简单曲面类型时,修正所述目标软件的识别结果并确定所述待分析曲面的曲面描述;其中,所述对所述待分析曲面进行采样,确定所述待分析曲面的实际曲面类型,包括:对所述待分析曲面进行等距采样,确定非边界采样点;基于所述非边界采样点的特征确定所述待分析曲面的实际曲面类型;所述基于所述非边界采样点的特征确定所述待分析曲面的实际曲面类型,包括:计算各个所述非边界采样点的主曲率;基于各个所述简单曲面类型的主曲率与所述非边界采样点的关系,确定所述待分析曲面的实际曲面类型;所述基于各个所述简单曲面类型的主曲率与所述非边界采样点的关系,确定所述待分析曲面的实际曲面类型,包括:将所述非边界采样点与各个所述简单曲面类型的主曲率进行匹配,确定匹配结果;当所述匹配结果为所述简单曲面类型时,对所述非边界采样点进行曲面拟合;当得到拟合曲面时,计算所述拟合曲面与所述待分析曲面之间的距离;当所述距离小于预设距离时,确定所述待分析曲面的实际曲面类型为简单曲面类型。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述修正所述目标软件的识别结果并确定所述待分析曲面的曲面描述,包括:将所述目标软件的识别结果修正为所述简单曲面类型;基于所述待分析曲面的采样点确定所述待分析曲面的曲面描述,或者,基于所述目标软件获取所述待分析曲面的曲面构造参数,以确定所述待分析曲面的曲面描述。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述目标软件获取所述待分析曲面的曲面构造参数,以确定所述待分析曲面的曲面描述,包括:基于所述目标软件获取所述待分析曲面的曲面构造参数;利用所述曲面构造参数确定所述待分析曲面的数学解析表达式。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴杨严翼飞毛志钢
申请(专利权)人:上海优集工业软件有限公司
类型:发明
国别省市:

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