信息处理装置、存储介质及信息处理方法制造方法及图纸

技术编号:35125051 阅读:10 留言:0更新日期:2022-10-05 09:55
一种信息处理装置,其具备处理器,所述处理器进行如下处理:将表示成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的关系对象显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置。应的位置。应的位置。

【技术实现步骤摘要】
信息处理装置、存储介质及信息处理方法


[0001]本专利技术涉及一种信息处理装置、存储介质及信息处理方法。

技术介绍

[0002]专利文献1中公开有成型模具的修正方法,其特征在于,具有:产品设计工序,在预先设定的三维坐标系即产品坐标系上设计具有产品的三维形状及设计值的信息的设计产品模型(50);成型模具制作工序,根据所述设计产品模型(50),制作成型所述产品的成型模具;试制成型工序,使用所述成型模具试制成型产品;测量工序,在预先设定的三维坐标系即测量坐标系上测量已试制成型的所述产品中的复数个测量点的位置;偏差信息计算工序,计算在所述测量工序中测量的所述测量点的测量值和与所述测量点对应的所述设计产品模型(50)上的点的设计值的偏差的大小;显示工序,将表示所述设计产品模型(50)的所述产品的形状的图面及所述偏差的大小显示于显示部(26);基准调整工序,以使所述测量点上的所述偏差的大小变小的方式,调整所述产品坐标系的位置;偏差信息再计算工序,计算所述偏差相对于调整后的所述产品坐标系中的设计值的大小;及成型模具修正工序,以将所述产品上的所述产品坐标系的位置设为在所述基准调整工序中调整后的所述产品坐标系的位置的方式,修正所述成型模具,在所述基准调整工序中,以使所述测量点上的所述偏差的大小之和变小的方式,调整所述产品坐标系,在所述基准调整工序中,具有以使所选择的所述测量点上的所述偏差的大小之和变小的方式计算所述产品坐标系的移动量的部分最佳适应算法及以使所有所述测量点上的所述偏差的大小之和变小的方式计算所述产品坐标系的移动量的整体最佳适应算法,在通过所述部分最佳适应算法计算的所述移动量的值、通过所述整体最佳适应算法计算的所述移动量的值、通过所述部分最佳适应算法计算的所述移动量与通过所述整体最佳适应算法计算的所述移动量的中间值以及通过所述部分最佳适应算法计算的所述移动量与通过所述整体最佳适应算法计算的所述移动量之间的范围内,同时进行复数次改变了各所述移动量的权重的值的计算,从该计算结果组中,工作人员考虑成型模具的修正方法而选择一个计算结果,根据基于所选择的计算结果的值,调整所述产品坐标系。
[0003]专利文献1:日本专利第6735367号公报
[0004]在制造成型品时,分别比较设计图、记录于检查表中的各种检查结果及三维模型,并且在头脑中掌握成型品的成品效果状态是繁杂的。尤其在以成型品内的复数个测量部位彼此的关系为基础判定一个规格的合格与否时及复数个规格彼此互相影响时,一眼掌握成型品内的复数个测量部位彼此的关系非常困难。

技术实现思路

[0005]本专利技术目的在于提供一种能够视觉辨认成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的信息处理装置、存储介质及信息处理方法。
[0006]第1方式所涉及的信息处理装置具有处理器,所述处理器进行如下处理:将表示成
型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的关系对象显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置。
[0007]第2方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:作为所述关系对象,将表示所述成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的第1关系对象及表示所述第1关系对象与所述成型品内的至少一个以上的测量部位之间的位置上的关系的第2关系对象,显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置。
[0008]第3方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:作为所述关系对象,表示所述成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的第3关系对象、与所述第3关系对象另行表示所述成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的第4关系对象及表示所述第3关系对象与所述第4关系对象之间的位置上的关系的第5关系对象,显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置。
[0009]第4方式所涉及的信息处理装置中,所述关系对象通过形成包含两个以上的所述测量部位的线或面,显示所述位置上的关系。
[0010]第5方式所涉及的信息处理装置中,通过基于模拟方法的测量获取所述位置上的关系。
[0011]第6方式所涉及的信息处理装置中,从测量所述成型品内的两个以上的所述测量部位而获得的坐标位置获取所述位置上的关系。
[0012]第7方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:获取与所述成型品的设计相关的设计信息;获取比较了所述设计信息与所述位置上的关系的比较信息。
[0013]第8方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:将比较了所述位置上的关系与所述设计信息的结果的差的量或差的方向中的至少一个用色彩或箭头来显示所述关系对象。
[0014]第9方式所涉及的信息处理装置中,从所述成型品内的检查对象的形状要素的重心位置获取所述测量部位。
[0015]第10方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:当在所述成型品内的第1检查对象及第2检查对象中分别存在复数个所述测量部位时,按所述第1检查对象及所述第2检查对象的所对应的复数个所述测量部位的每一个将复数个所述关系对象分别独立显示于所述第1检查对象上。
[0016]第11方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器在存在复数个与所述第1检查对象对应的所述第2检查对象的情况下,比较所述第1检查对象与所述第2检查对象,并根据小的所述检查对象的重心位置确定所述关系对象的显示位置。
[0017]第12方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:当所述关系对象被选择时,显示所述关系对象所具有的所述设计信息及所述比较信息中的至少一个。
[0018]第13方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:还同时显示和已对所述检查对象实施且与所述比较信息也相关联的其他检查相关的其他关系对象。
[0019]第14方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:以能够彼此区分的方式显示复数个所述关系对象。
[0020]第15方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:在与所述成型品相关的所有所述关系对象中,筛选显示于所述三维模型上的所述关系对象并进行显示。
[0021]第16方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:以组合复数个平面而简化的模型来显示所述三维模型;在所述简化的模型的所对应的位置上用箭头显示所述关系对象。
[0022]第17方式所涉及的信息处理装置中,所述处理器进行如下处理:与基于用户的选择或所述用户所具有的属性信息对应地确定根据所述设计信息计算的所述成型品的合格与否判定中所使用的基准值。
[0023]第18方式所涉及的存储介质,其存储有用于使计算机进行如下处理的程序:将表示成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的关系对象显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置。
[0024]第19方式所涉及的信息处理方法,其包括如下步骤:将表示成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的关系对象显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信息处理装置,其具备处理器,所述处理器进行如下处理:将表示成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的关系对象显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置。2.根据权利要求1所述的信息处理装置,其中,所述处理器进行如下处理:作为所述关系对象,将表示所述成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的第1关系对象及表示所述第1关系对象与所述成型品内的至少一个以上的测量部位之间的位置上的关系的第2关系对象,显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置。3.根据权利要求1所述的信息处理装置,其中,所述处理器进行如下处理:作为所述关系对象,将表示所述成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的第3关系对象、与所述第3关系对象另行表示所述成型品内的至少两个以上的测量部位的位置上的关系的第4关系对象及表示所述第3关系对象与所述第4关系对象之间的位置上的关系的第5关系对象,显示于所述成型品的三维模型上的与所述关系对应的位置。4.根据权利要求1至3中任一项所述的信息处理装置,其中,所述关系对象通过形成包含两个以上的所述测量部位的线或面,显示所述位置上的关系。5.根据权利要求1至4中任一项所述的信息处理装置,其中,通过基于模拟方法的测量获取所述位置上的关系。6.根据权利要求1至5中任一项所述的信息处理装置,其中,从测量所述成型品内的两个以上的所述测量部位而获得的坐标位置获取所述位置上的关系。7.根据权利要求1至6中任一项所述的信息处理装置,其中,所述处理器进行如下处理:获取与所述成型品的设计相关的设计信息;获取比较了所述设计信息与所述位置上的关系的比较信息。8.根据权利要求7所述的信息处理装置,其中,所述处理器进行如下处理:将比较了所述位置上的关系与所述设计信息的结果的差的量或差的方向中的至少一个用色彩或箭头来显示所述关系对象。9.根据权利要求1至8中任一项所述的信息处理装置,其中,从所述成型品内的检查对象的形状要素的重心位置获取所述测量部位。10.根据权利要求1至9中任一项所述的信息处理装置,其中,所述处理器进行如下处理:当在...

【专利技术属性】
技术研发人员:高桥智也横山优树东方良介田中靖幸荻原敦氷治直树上村恭
申请(专利权)人:富士胶片商业创新有限公司
类型:发明
国别省市:

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