一种高速光波长解析装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种高速光波长解析装置，属于电子设备技术领域。本发明专利技术包括第一光分路器、第二光分路器、第一功率测量模块、第二功率测量模块、MCU处理模块、显示单元和信号输出接口，第一光分路器的输入端接高速光波长信号源，输出端与第二光分路器、信号输出接口相连，第二光分路器的输出端与第一功率测量模块、第二功率测量模块相连，第一功率测量模块的输出端、第二功率测量模块的输出端均与MCU处理模块的输入端相连，MCU处理模块与显示单元相连，第一功率测量模块内设有第一高速光探测器，第二功率测量模块内设有第二高速光探测器和F

【技术实现步骤摘要】
一种高速光波长解析装置


[0001]本专利技术涉及电子设备
，具体涉及一种高速光波长解析装置。

技术介绍

[0002]光系统和密集波分复用是大容量传输网络的基础，近年来随着第五代移动通信(5G)的应用和国家节能减排战略的全面推进，光交换因其极低的能耗、更小的时延、更大的交换带宽而逐渐兴起。密集波分复用相关器件对于波长、带宽等相关指标的测试精度要求较高，同时光交换器件的端口数逐渐加大，这些对于下一代光通信网络产业的光器件测试带来较大挑战，要求更快速度、更多端口的精准测试。目前，光波长扫描系统因其测试波长精度高(可达pm级)、测试端口多、测量速度快等成为无源器件生产测试的首选方案。
[0003]当前光波长扫描测试系统的扫描速率已达40nm/s～100nm/s，并在向400nm/s演进。扫描速率的提高将导致每个时间切片对应的波长离散度的加大，最终影响到波长等指标测试的精度。因此，提高高速光波长扫描系统的波长精度成为最迫切的任务。传统方法存在以下弊端，(1)传统波长标定的方法无法在如此高的波长扫描速率下达到pm级精度；(2)因不同扫描光源的性能存在差异，传统波长标定的方式无法适配不同光源的特性，从而导致波长标定失效；(3)传统的波长标定方式，都是基于某些离散的波长点实现，而无法全面覆盖扫描光源的完整波长切片，波长标定的可信度存在问题；(4)传统波长标定方式需要较多的分光能量，从而造成扫描光源主路光功率损失较大，从而降低系统测量的动态范围。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术中的问题，本专利技术提供一种高速光波长解析装置，通过在解析装置内设置相互配合的2个光分路器、第一高速光探测器、第二高速光探测器、F
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P干涉仪和MCU处理模块，能够实现在扫描光源速在40nm/s
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400nm/s的高速扫描状态下，波长解析结果仅有数微秒的时延，达到pm级的解析精度，大幅度提高了解析装置的准确性；同时可以针对不同性能的扫描光源，采用不同规格的F
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P干涉仪处理，大幅度提高了解析装置的稳定性和测量范围；解析装置仅需要将主路光的2％的能量，即可实现高精度、高速扫描光源的波长校准，大幅度降低了光功率的损失；解决了传统方法无法达到pm级精度、波长标定无法适配不同光源、准确性低、光功率损失较大的问题。
[0005]本专利技术提供的一种高速光波长解析装置，包括第一光分路器、第二光分路器、第一功率测量模块、第二功率测量模块、MCU处理模块、显示单元和信号输出接口，所述第一光分路器的输入端接高速光波长信号源，所述第一光分路器的输出端与所述第二光分路器的输入端、所述信号输出接口相连，所述第二光分路器的输出端分别与所述第一功率测量模块的输入端、所述第二功率测量模块的输入端相连，所述第一功率测量模块的输出端、所述第二功率测量模块的输出端均与所述MCU处理模块的输入端相连，所述MCU处理模块的输出端与所述显示单元的输入端相连，所述第一功率测量模块内设有第一高速光探测器，所述第二功率测量模块内设有第二高速光探测器和F
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P干涉仪，所述第一功率测量模块能够完成
一路信号的功率测量和针对不同规格的扫描光源的滤波处理，所述第二功率测量模块能够完成另一路信号的功率测量和针对不同规格的F
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P干涉仪的滤波处理，所述MCU处理模块能够完成两路信号时间方向和光功率方向的二维同步并处理得到真实的高速光波长信息。
[0006]本专利技术作进一步改进，所述第一功率测量模块还包括第一信号放大单元和第一信号同步采集单元，所述第一高速光探测器的输入端与所述第二光分路器的输出端相连，所述第一高速光探测器的输出端与所述第一信号放大单元的输入端相连，所述第一信号放大单元的输出端与所述第一信号同步采集单元的输入端相连，所述第一信号同步采集单元的输出端与所述MCU处理模块的输入端相连。
[0007]本专利技术作进一步改进，所述第二功率测量模块还包括第二信号放大单元和第二信号同步采集单元，所述F
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P干涉仪的输入端与所述第二光分路器的输出端相连，所述F
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P干涉仪的输出端与所述第二高速光探测器的输入端相连，所述第二高速光探测器的输出端与所述第二信号放大单元的输入端相连，所述第二信号放大单元的输出端与所述第二信号同步采集单元的输入端相连，所述第二信号同步采集单元的输出端与所述MCU处理模块的输入端相连。
[0008]本专利技术作进一步改进，所述MCU处理模块包括二维同步单元、波长矫正单元和波长连续性处理单元，所述二维同步单元的输入端与所述第一信号同步采集单元的输出端、所述第二信号同步采集单元的输出端相连，所述二维同步单元的输出端与所述波长矫正单元的输入端相连，所述波长矫正单元的输出端与所述波长连续性处理单元的输入端相连，所述波长连续性处理单元的输出端接所述显示单元。
[0009]本专利技术作进一步改进，所述第一光分路器为98:2光分路器，2％的分路接所述第二光分路器的输入端，98％的分路接所述信号输出接口。
[0010]本专利技术作进一步改进，所述第二光分路器为50:50光分路器。
[0011]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术提供一种高速光波长解析装置，通过在解析装置内设置相互配合的2个光分路器、第一高速光探测器、第二高速光探测器、F
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P干涉仪和MCU处理模块，能够实现在扫描光源速在40nm/s
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400nm/s的高速扫描状态下，波长解析结果仅有数微秒的时延，达到pm级的解析精度，大幅度提高了解析装置的准确性；同时可以针对不同性能的扫描光源，采用不同规格的F
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P干涉仪处理，大幅度提高了解析装置的稳定性和测量范围；解析装置仅需要将主路光的2％的能量，即可实现高精度、高速扫描光源的波长校准，大幅度降低了光功率的损失；解决了传统方法无法达到pm级精度、波长标定无法适配不同光源、准确性低、光功率损失较大的问题。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本申请或现有技术中的方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一个简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本专利技术高速光波长解析装置的原理图；
[0014]图2为本专利技术高速光波长解析装置的F
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P干涉仪实时波长的矫正图。
[0015]图中，1
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1第一光分路器、1
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2第二光分路器、1
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3第一高速光探测器、1
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4第一信号
放大单元、1
‑5‑
第一信号同步采集单元、1
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6F
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P干涉仪、1
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7第二高速光探测器、1
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8第二信号放大单元、1
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9第二信号同步采集本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高速光波长解析装置，其特征在于：包括第一光分路器、第二光分路器、第一功率测量模块、第二功率测量模块、MCU处理模块、显示单元和信号输出接口，所述第一光分路器的输入端接高速光波长信号源，所述第一光分路器的输出端与所述第二光分路器的输入端、所述信号输出接口相连，所述第二光分路器的输出端分别与所述第一功率测量模块的输入端、所述第二功率测量模块的输入端相连，所述第一功率测量模块的输出端、所述第二功率测量模块的输出端均与所述MCU处理模块的输入端相连，所述MCU处理模块的输出端与所述显示单元的输入端相连，所述第一功率测量模块内设有第一高速光探测器，所述第二功率测量模块内设有第二高速光探测器和F
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P干涉仪，所述第一功率测量模块能够完成一路信号的功率测量和针对不同规格的扫描光源的滤波处理，所述第二功率测量模块能够完成另一路信号的功率测量和针对不同规格的F
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P干涉仪的滤波处理，所述MCU处理模块能够完成两路信号时间方向和光功率方向的二维同步并处理得到真实的高速光波长信息。2.根据权利要求1所述的高速光波长解析装置，其特征在于：所述第一功率测量模块还包括第一信号放大单元和第一信号同步采集单元，所述第一高速光探测器的输入端与所述第二光分路器的输出端相连，所述第一高速光探测器的输出端与所述第一信号放大单元的输入端相连，所述第一信号放大单元的输出端与所述第一信号同步采集单...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈学章，
申请(专利权)人：深圳市威湃创新科技有限公司，
类型：发明
国别省市：