一种长寿命的槽位测试电路制造技术

技术编号:36494160 阅读:14 留言:0更新日期:2023-02-01 15:10
本实用新型专利技术提供一种长寿命的槽位测试电路,属于测试电路技术领域。本实用新型专利技术包括接口集成电路PCBA1、功能集成电路PCBA2、工具板连接器和功能连接器,接口集成电路PCBA1、功能集成电路PCBA2还设有自定义高速总线电路,接口集成电路PCBA1、功能集成电路PCBA2设有以太网管理总线电路。本实用新型专利技术的有益效果为:提供一种长寿命的槽位测试电路,将高速信号链路和低速普通信号链路进行分离设计,针对不同机框或集成电路达到预期使用寿命时,仅需更换对应接口集成电路PCBA1。应接口集成电路PCBA1。应接口集成电路PCBA1。

【技术实现步骤摘要】
一种长寿命的槽位测试电路


[0001]本技术涉及测试电路
,具体涉及一种长寿命的槽位测试电路。

技术介绍

[0002]在机框类产品背板信号出厂检测中,针对机框类产品本身的特点,在机框出厂前每个槽位都需要使用真实的单板或配套开发的工具单板进行功能和性能测试,因此设计一种通用测试工具单板,解决研发重复投入,减少工具单板成本消耗很有必要。
[0003]目前市面上的槽位遍历测试方法,是通过设计一块独立的测试工具单板插入到机框的待测试槽位,在连接器信号定义的发送侧发送特定的数据码流,接收侧根据收到的内容是否符合期望来判决机框槽位连接器本身功能和性能是否正常,而这种测试方法有以下几方面的缺点:
[0004]1.由于测试工具单板上连接器的寿命限制,测试工具单板在测试一定次数后必须报废,影响测试成本。
[0005]2.针对不同功能的被测机框,必须设计与之相对对应的功能工具单板,研发重复投入大。

技术实现思路

[0006]为解决现有技术中的问题,本技术提供一种长寿命的槽位测试电路,将高速信号链路和低速普通信号链路进行分离设计,分成接口集成电路PCBA1和功能集成电路PCBA2,当接口集成电路PCBA1的连接器达到预期的测试寿命时,仅需更换接口集成电路PCBA1,而针对不同的测试机框,仅需针对性开发接口集成电路PCBA1,功能集成电路PCBA2可保持不变,降低了工具单板的开发复杂性,降低了工具单板的开发成本。
[0007]本技术提供的一种长寿命的槽位测试电路,包括接口集成电路PCBA1、功能集成电路PCBA2,其中,功能连接器J2输入端用于接收所述接口集成电路PCBA1输出端发出的电源信号和低速信号,所述功能集成电路PCBA2用于将所述功能连接器输出端输出的信号处理为可被MCU/FPGA模块处理的测试信号,通过所述功能集成电路PCBA2输出端输入所述测试装置。
[0008]本技术作进一步改进,所述接口集成电路PCBA1包括连接器J1A、连接器J1B、连接器J1C、连接器J1D、连接器J1E、连接器J1F、功能连接器J2、电源连接器P1。
[0009]本技术作进一步改进,所述功能连接器J2设有40个引脚,其中,J2的引脚1与引脚2与电源正极相连,所述功能连接器J2的引脚3

引脚40相连且接地,所述功能连接器J2的引脚41、引脚42接地,所述功能连接器J2的引脚4接ANA_TRIG,所述功能连接器J2的引脚6接自定义高速总线接口TRG_INT,所述功能连接器J2的引脚8接自定义高速总线接口SYS_SDI,所述功能连接器J2的引脚10接自定义高速总线接口SYS_SDO,所述功能连接器J2的引脚12接自定义高速总线接口SYS_FB,所述功能连接器J2的引脚14接自定义高速总线接口SYS_CLK,所述功能连接器J2的引脚16接自定义高速总线接口TRG_OPT,所述功能连接器J2
的引脚19接GND_RES1,所述功能连接器J2的引脚20接GND_RES2,所述功能连接器J2的引脚35接以太网管理接口TX0N,所述功能连接器J2的引脚36接以太网管理接口TX0P,所述功能连接器J2的引脚39接以太网管理接口RX0N,所述功能连接器J2的引脚40接以太网管理接口RX0P,所述功能连接器J2的引脚17发送工具板插紧指示信号BD_IN1,所述功能连接器J2的引脚18发送工具板插紧指示信号BD_IN0,所述功能连接器J2的引脚21发送偶校验结果指示信号BP_CHK,所述功能连接器J2的引脚22发送背板的板类型指示信息信号BP_TYPE0,所述功能连接器J2的引脚23发送背板的板类型指示信息信号BP_TYPE1,所述功能连接器J2的引脚24发送背板的板类型指示信息信号BP_TYPE2,所述功能连接器J2的引脚25发送背板的板类型指示信息信号BP_TYPE3,所述功能连接器J2的引脚26发送偶校验结果指示信号SLOT_CHK,所述功能连接器J2的引脚27发送背板送出的槽位号信息信号SLOT_TYPE0,所述功能连接器J2的引脚28发送背板送出的槽位号信息信号SLOT_TYPE1,所述功能连接器J2的引脚29发送背板送出的槽位号信息信号SLOT_TYPE2,所述功能连接器J2的引脚30发送背板送出的槽位号信息信号SLOT_TYPE3,所述功能连接器J2的引脚32发送背板485通信信号RS485_AB,所述功能连接器J2的引脚33发送背板485通信信号RS485_AA。
[0010]本技术作进一步改进,所述功能集成电路PCBA2的信号连接器J3设有40个引脚,其中,J3的引脚1

引脚38相连且接地,所述信号连接器J3的引脚39、引脚40与电源正极相连,所述信号连接器J3的引脚41、引脚42接地,所述功能连接器J3的引脚37接B_ANA_TRIG,所述功能连接器J3的引脚35接自定义高速总线接口B_TRG_INT,所述功能连接器J3的引脚33接自定义高速总线接口B_SYS_SDI,所述功能连接器J3的引脚31接自定义高速总线接口B_SYS_SDO,所述功能连接器J3的引脚29接自定义高速总线接口B_SYS_FB,所述功能连接器J3的引脚27接自定义高速总线接口B_SYS_CLK,所述功能连接器J3的引脚25接自定义高速总线接口B_TRG_OPT,所述功能连接器J3的引脚22接B_GND_RES1,所述功能连接器J3的引脚21接B_GND_RES2,所述功能连接器J3的引脚6接以太网管理接口TX0N,所述功能连接器J3的引脚5接以太网管理接口TX0P,所述功能连接器J3的引脚3接以太网管理接口RX0N,所述功能连接器J3的引脚2接以太网管理接口RX0P,其中,所述功能连接器J3的引脚24发送工具板插紧指示信号B_BD_IN1,所述功能连接器J3的引脚23发送工具板插紧指示信号B_BD_IN0,所述功能连接器J3的引脚20发送偶校验结果指示信号B_BP_CHK,所述功能连接器J3的引脚19发送背板的板类型指示信息信号B_BP_TYPE0,所述功能连接器J3的引脚18发送背板的板类型指示信息信号B_BP_TYPE1,所述功能连接器J3的引脚17发送背板的板类型指示信息信号B_BP_TYPE2,所述功能连接器J3的引脚16发送背板的板类型指示信息信号B_BP_TYPE3,所述功能连接器J3的引脚15发送偶校验结果指示信号B_SLOT_CHK,所述功能连接器J3的引脚14发送背板送出的槽位号信息信号B_SLOT_TYPE0,所述功能连接器J3的引脚13发送背板送出的槽位号信息信号B_SLOT_TYPE1,所述功能连接器J3的引脚12发送背板送出的槽位号信息信号B_SLOT_TYPE2,所述功能连接器J3的引脚11发送背板送出的槽位号信息信号B_SLOT_TYPE3。所述功能连接器J3的引脚30发送背板送出的槽位号信息信号B_SLOT_TYPE3,所述功能连接器J3的引脚9发送背板485通信信号RS485_AB,所述功能连接器J3的引脚8发送背板485通信信本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种长寿命的槽位测试电路,其特征在于:包括接口集成电路PCBA1、功能集成电路PCBA2、工具板连接器和功能连接器,所述接口集成电路PCBA1、所述功能集成电路PCBA2还设有自定义高速总线电路,所述自定义高速总线电路包括多个接口,所述接口集成电路PCBA1、功能集成电路PCBA2设有以太网管理总线电路,所述以太网管理总线电路包括多个接口,所述接口集成电路PCBA1设有GND_ETH接口,所述功能集成电路PCBA2设有GND_EARTH接口,所述接口集成电路PCBA1设有GND_RES总线电路,所述GND_RES总线电路包括多个接口,所述功能集成电路PCBA2设有B_GND_RES总线电路,所述B_GND_RES总线电路包括多个接口,所述接口集成电路PCBA1设有ANA_TRIG接口,所述功能集成电路PCBA2设有B_ANA_TRIG接口,所述工具板连接器的输出端与所述接口集成电路PCBA1的输入端相连,所述接口集成电路PCBA1的输出端与所述功能连接器输入端相连,所述功能连接器的输出端与所述功能集成电路PCBA2输入端相连,所述功能集成电路PCBA2输出端接待测试装置。2.根据权利要求1所述的长寿命的槽位测试电路,其特征在于:所述接口集成电路PCBA1包括连接器J1A、连接器J1B、连接器J1C、连接器J1D、连接器J1E、连接器J1F、功能连接器J2、电源连接器P1,所述连接器J1A的输出端、连接器J1B的输出端、连接器J1C的输出端、连接器J1D的输出端、连接器J1E的输出端、连接器J1F的输出端均与所述功能连接器J2的输入端相连,所述功能连接器J2的输出端与所述功能集成电路PCBA2的输入端相连,所述连接器J1A的输入端、连接器J1B的输入端、连接器J1C的输入端、连接器J1D的输入端、连接器J1E的输入端、连接器J1F的输入端、功能连接器J2的输入端均与所述电源连接器P1的输出端相连。3.根据权利要求2所述的长寿命的槽位测试电路,其特征在于:所述连接器J1A设有25个引脚,其中,所述连接器J1A的引脚A1、引脚A2、引脚A3、引脚A4、引脚A5、引脚A6、引脚A7、引脚A8、引脚A9、引脚A10、引脚A11相连,引脚A15、引脚A16、引脚A17、引脚A18、引脚A19、引脚A20、引脚A21、引脚A22、引脚A23、引脚A24、引脚A25相连且接地,所述连接器J1B设有25个引脚,其中,所述连接器J1B的引脚B15、引脚B16、引脚B17、引脚B18、引脚B19、引脚B20、引脚B21、引脚B22、引脚B23、引脚B24、引脚B25相连且接地,所述连接器J1C设有25个引脚,其中,所述连接器J1C的引脚C1独立连接自定义高速总线接口TRG_INT,所述连接器J1C的引脚C2、引脚C3、引脚C4、引脚C5、引脚C6、引脚C7、引脚C8、引脚C9、引脚C10、引脚C11、引脚C15、引脚C16、引脚C17、引脚C18、引脚C19、引脚C20、引脚C21、引脚C22、引脚C23、引脚C24、引脚C25相连且接地,所述连接器J1C的引脚C3连接自定义高速总线接口SYS_SDI,所述连接器J1C的引脚C5连接自定义高速总线接口SYS_SDO,所述连接器J1C的引脚C7连接自定义高速总线接口SYS_FB,所述连接器J1C的引脚C9连接自定义高速总线接口SYS_CLK,所述连接器J1C的引脚C11连接自定义高速总线接口TRG_OPT,所述连接器J1D设有25个引脚,其中,所述连接器J1D的引脚D3、引脚D7、引脚D9、引脚D11、引脚D15、引脚D16、引脚D17、引脚D18、引脚D19、引脚D20、引脚D21、引脚D22、引脚D23、引脚D24、引脚D25相连且接地,所述连接器J1D的引脚D15与接口GND_RES1相连,所述连接器J1D的引脚D17与接口GND_RES2相连,所述连接器J1E设有25个引脚,其中,所述连接器J1E的引脚E15、...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈学章应冬冬
申请(专利权)人:深圳市威湃创新科技有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1