耐压测试装置制造方法及图纸

本申请涉及一种耐压测试装置。所述装置包括第一控制组件、多个测试端口、开关阵列以及测试组件，其中多个测试端口与第一电连接器的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，第一电连接器与待测试的第二电连接器连接，第一控制组件通过与开关阵列通信，来控制开关阵列中开关的开闭，使得测试组件依次与每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路，最后，测试组件通过上述测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。采用本装置能够提高电连接器耐压测试的效率及准确性。压测试的效率及准确性。压测试的效率及准确性。

【技术实现步骤摘要】
耐压测试装置


[0001]本申请涉及电连接器介质耐压测试
，特别是涉及一种介质耐压测试装置。

技术介绍

[0002]电连接器是连接和断开电线、电缆以及电插头等部件的互联元件，在航空航天、轨道交通、新能源汽车以及重大仪器装备等领域具有重要且广泛的应用。其中，介质耐压是电连接器的一项重要的可靠性指标，用于表征电连接器的绝缘性能。如果电连接器的介质耐压不合格，当电连接器的电压突然增大时，电连接器的绝缘能力会大幅下降，可能导致电连接器短路。因此，介质耐压测试是电连接器检测中的必要检测项。
[0003]目前，常用的介质耐压测试的方法有两步测量法，基本原理是测量电连接器上间距最近的接触件和接触件或者接触件与电连接器外壳之间的绝缘能力。
[0004]但是，两步测量法需要人工测量接触件之间的间距，测量效率低，且人工测量容易产生误差，影响介质耐压测试的准确性。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种测量效率高及准确性高的耐压测试装置。
[0006]第一方面，本申请提供了一种耐压测试装置。该耐压测试装置包括：
[0007]第一控制组件、多个测试端口、开关阵列以及测试组件，开关阵列设置于多个测试端口和测试组件之间，开关阵列包括多个开关；多个测试端口，用于与第一电连接器的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，第一电连接器用于与待测试的第二电连接器连接，在连接时，多个第一接触件与第二电连接器的多个第二接触件相互接触，且，第一壳体与第二电连接器的第二壳体相互接触，其中，多个第二接触件按照阵列排布，阵列划分为多个接触件行和多个接触件列；第一控制组件与开关阵列通信连接，用于控制开关阵列中开关的开闭，以使测试组件依次与每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路；测试组件，用于通过测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。
[0008]在其中一个实施例中，对于相邻的第一接触件行以及第二接触件行，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使第一接触件行中的各第二接触件相互短路，第二接触件行中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与第一接触件行中的第一目标接触件和第二接触件行中的第二目标接触件间形成测试通路。
[0009]在其中一个实施例中，对于相邻的第一接触件列以及第二接触件列，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使第一接触件列中的各第二接触件相互短路，第二接触件列中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与第一接触件列中的第三目标接
触件和第二接触件列中的第四目标接触件间形成测试通路。
[0010]在其中一个实施例中，对于各接触件行以及第二壳体，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使接触件行中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与接触件行中的第五目标接触件和第二壳体间形成测试通路。
[0011]在其中一个实施例中，对于各接触件列以及第二壳体，第一控制组件，具体用于控制开关阵列中的开关开闭，以使接触件列中的各第二接触件相互短路，且，测试组件与接触件列中的第六目标接触件和第二壳体间形成测试通路。
[0012]在其中一个实施例中，耐压测试装置还包括连接端口，连接端口用于与测试组件连接。
[0013]在其中一个实施例中，耐压测试装置还包括第二控制组件，第一控制组件内置有多个测试程序，第二控制组件，用于向第一控制组件发送程序选择指令；第一控制组件，用于根据程序选择指令所指示的目标测试程序控制开关阵列中开关的开闭；其中，各测试程序与不同的待测试的电连接器类型对应。
[0014]在其中一个实施例中，耐压测试装置还包括显示组件，显示组件与第一控制组件连接，用于在第一控制组件的控制下显示当前测试通路、测试电压及测得的漏电流。
[0015]第二方面，本申请还提供了一种耐压测试方法，该方法包括：
[0016]控制测试组件依次与待测试的第二电连接器中每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路；控制测试组件通过测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。
[0017]在其中一个实施例中，测试通路中漏电流的最大测量值为1mA。
[0018]上述耐压测试装置，包括第一控制组件、多个测试端口、开关阵列以及测试组件，其中多个测试端口，与第一电连接器的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，第一电连接器与待测试的第二电连接器连接，连接后多个第一接触件与第二电连接器的多个第二接触件相互接触，同时第一壳体与第二电连接器的第二壳体相互接触，第一控制组件通过与开关阵列通信，来控制开关阵列中开关的开闭，使得测试组件依次与每相邻两个接触件行间形成测试通路、与每相邻两个接触件列间形成测试通路、与各接触件行以及第二壳体间形成测试通路、与各接触件列以及第二壳体间形成测试通路，最后，测试组件通过上述测试通路向第二电连接器施加测试电压，并在施加测试电压后测量漏电流。通过这种方式，该装置可以通过第一控制组件控制开关阵列依次连接第二电连接器的各接触件形成测试通路，由测试组件对测试通路进行耐压测试，这样在电连接器测试中，只需要将待测试的第二电连接器连接到第一电连接器，耐压测试装置自动进行测试，测试完成后更换下一个电连接器进行测试，测试过程中无需人工测量选择测试通路，测试效率高，同时避免了人工测量接触件距离导致的误差，测试结果更准确。
附图说明
[0019]图1为一个实施例中耐压测试装置的示意图；
[0020]图2为另一个实施例中接触件行之间的测量通路示意图；
[0021]图3为另一个实施例中接触件列之间的测量通路示意图；
Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)器件，FPGA作为耐压测试装置的主控核心，可以通过编程对测量过程进行控制。开关阵列13可以是高压开关切换阵列，其中包括多个高压开关。测试组件14可以是耐压测试仪。
[0040]多个测试端口12，用于与第一电连接器15的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，第一电连接器用于与待测试的第二电连接器16连接，在连接时，多个第一接触件与第二电连接器的多个第二接触件相互接触，且，第一壳体与第二电连接器16的第二壳体相互接触，其中，多个第二接触件按照阵列排布，阵列划分为多个接触件行和多个接触件列。
[0041]其中，多个测试端口12可以是输入输出端口，每个端口与第一电连接器15的第一壳体以及多个第一接触件分别连接。
[0042]可选的，该耐压测试装置中，第一电连接器15为装置中的固定端，第二电连接器16为待测试的电连接器，测试时，第一电连接器15和待测试的第二电连接器16匹配使用，例如，当第一电连接器15为母头电连接器时，可以测试公头类型的第二电连接器16，当第一电连接器15为公头电连本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种耐压测试装置，其特征在于，所述耐压测试装置包括第一控制组件、多个测试端口、开关阵列以及测试组件，所述开关阵列设置于所述多个测试端口和所述测试组件之间，所述开关阵列包括多个开关；所述多个测试端口，用于与第一电连接器的第一壳体以及多个第一接触件分别连接，所述第一电连接器用于与待测试的第二电连接器连接，在连接时，所述多个第一接触件与所述第二电连接器的多个第二接触件相互接触，且，所述第一壳体与所述第二电连接器的第二壳体相互接触，其中，所述多个第二接触件按照阵列排布，所述阵列划分为多个接触件行和多个接触件列；所述第一控制组件与所述开关阵列通信连接，用于控制所述开关阵列中开关的开闭，以使所述测试组件依次与每相邻两个所述接触件行间形成测试通路、与每相邻两个所述接触件列间形成测试通路、与各所述接触件行以及所述第二壳体间形成测试通路、与各所述接触件列以及所述第二壳体间形成测试通路；所述测试组件，用于通过所述测试通路向所述第二电连接器施加测试电压，并在施加所述测试电压后测量漏电流。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，对于相邻的第一接触件行以及第二接触件行，所述第一控制组件，具体用于控制所述开关阵列中的开关开闭，以使所述第一接触件行中的各所述第二接触件相互短路，所述第二接触件行中的各所述第二接触件相互短路，且，所述测试组件与所述第一接触件行中的第一目标接触件和所述第二接触件行中的第二目标接触件间形成所述测试通路。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，对于相邻的第一接触件列以及第二接触件列，所述第一控制组件，具体用于控制所述开关阵列中的开关开闭，以使所述第一接触件列中的各所述第二接触件相互短路，所述第二接触件列中的各所述第二接触件相互短路，且，所述测试组件与所述第一接触件列中的第三目标接触件和所述第二接触件列中的第四目标接触件间形成所述测试通路。4.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡湘洪，陈波，罗军，区宪来，刘石，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：