电容性能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出了电容性能测试装置，涉及电容器件生产技术领域，该测试装置包括测试部件和工装盘，测试部件包括夹具和接触部件，夹具包括金属夹持部和与金属夹持部连接的按压部，夹具尾端通过电线一连接有测试仪，接触部件包括弹性部件和与弹性部件连接的手持部件，手持部件的尾端通过电线二连接测试仪，金属夹持部与电线一形成导通电路，弹性部件与电线二形成另一导通电路；工装盘开有多个插孔，且边缘位置开有多个螺纹通孔，工装盘包括与多个螺纹通孔对应设置的螺栓，螺栓用于支撑工装盘，工装盘由金属材料制成，本实用新型专利技术无需逐个夹住电容器进行测试，使用测试部件和工装盘的配合大大提高了测试效率，同时设置弹性部件保护电容不受外力损坏。电容不受外力损坏。电容不受外力损坏。

【技术实现步骤摘要】
电容性能测试装置


[0001]本技术涉及电容器件生产
，特别涉及电容性能测试装置。

技术介绍

[0002]两个相互靠近的导体，中间夹一层不导电的绝缘介质，这就构成了电容器。当电容器的两个极板之间加上电压时，电容器就会储存电荷。电容器广泛的应用于各种电子产品之中，其质量关乎着产品的质量，十分重要。在电容的生产的过程中，需要对即将出厂的电容进行性能测试，在测试时，需要逐个夹住电容的两极进行测试，效率比较低，人工成本较高；同时，由于电容器比较脆弱，容易受到物理损坏，每次测试都需要使用测试仪的夹具夹住电容引脚，人工力度把握不准，容易损坏电容器。

技术实现思路

[0003]本技术提出了电容性能测试装置，解决了现有技术中需要逐个夹住电容的两极进行测试，效率比较低，同时夹住电容的测试方式容易损坏电容的缺陷。
[0004]本技术的技术方案是这样实现的：
[0005]电容性能测试装置，包括测试部件和工装盘，
[0006]所述测试部件包括夹具和接触部件，所述夹具包括金属夹持部和与所述金属夹持部连接的按压部，所述夹具尾端通过电线一连接有测试仪，所述接触部件包括弹性部件和与所述弹性部件连接的手持部件，所述手持部件的尾端通过电线二连接所述测试仪，所述金属夹持部与所述电线一形成导通电路，所述弹性部件与所述电线二形成另一导通电路；
[0007]所述工装盘开有多个插孔，且边缘位置开有多个螺纹通孔，所述工装盘包括与多个所述螺纹通孔对应设置的螺栓，所述螺栓用于支撑所述工装盘，所述工装盘由金属材料制成。<br/>[0008]进一步地，所述金属夹持部、弹性部件和工装盘由金属铜制成。
[0009]进一步地，所述弹性部件的下端面为凹面。
[0010]进一步地，所述螺栓通过限位螺母固定于所述工装盘上。
[0011]进一步地，所述工装盘的表面镀有一层铬材料制成的防锈层。
[0012]进一步地，所述电线一和所述电线二通过线卡连接。
[0013]本技术的有益效果：采用上述技术方案，通过测试部件与工装盘相配合，测试时，将待测电容排满工装盘，此时待测电容的外电极与工装盘接触并电连接，使用夹具夹住工装盘，待测电容的外电极与工装盘和夹具，继而与电线一形成导通电路；手持接触部件，让弹性部件与其中一个待测电容的内电极引脚接触，此时待测电容的内电极与弹性部件，继而与电线二形成另一导通电路；保持待测电容的外电极导通电路导通，手持接触部件逐一测试待测电容，以完成工装盘上的待测电容的测试，改进了测试的技术方案，使得测试效率得到提高；弹性部件具有的弹性可吸收接触部件与待测电容接触时的外力，对电容形成保护作用。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1为本技术的结构示意图；
[0016]图2为本技术的工装盘结构示意图。
[0017]图中：1
‑
测试部件,2
‑
工装盘，21
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插孔，22
‑
螺纹通孔，23
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螺栓，3
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夹具，31
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金属夹持部，32
‑
按压部，33
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电线一，4
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接触部件，41
‑
弹性部件，42
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手持部件，43
‑
电线二，5
‑
线卡。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]参照图1，电容性能测试装置，包括测试部件1和工装盘2，测试部件1包括夹具3和接触部件4，夹具3包括金属夹持部31和与金属夹持部31连接的按压部32，夹具3尾端通过电线一33连接有测试仪，接触部件4包括弹性部件41和与弹性部件41连接的手持部件42，手持部件42的尾端通过电线二43连接测试仪，金属夹持部31与电线一33形成导通电路，弹性部件41与电线二43形成另一导通电路；工装盘2开有多个插孔21，且边缘位置开有多个螺纹通孔22，工装盘2包括与多个螺纹通孔对应设置的螺栓23，螺栓23用于支撑工装盘2，工装盘2由金属材料制成，通过测试部件1与工装盘2相配合，测试时，夹具3夹住工装盘2一侧，然后拿持接触部件4与工装盘2内待测电容的引脚逐一接触即可完成测试，为了防止点触时外力把握不准确，设置弹性部件41用于吸收外力，避免损坏电容，电容性能测试装置结构简单，提高了测试效率，同时还降低外力对电容带来的损坏。
[0020]优选地，为了提高金属导电效率，金属夹持部31、弹性部件41和工装盘2由金属铜制成。
[0021]优选地，为了弹性部件工作时迅速定位与待测电容引脚接触，弹性部件41的下端面为凹面。
[0022]优选地，为了提高连接稳定性，螺栓23通过限位螺母固定于工装盘2上。
[0023]优选地，为了提高工装盘的使用寿命，工装盘2的表面镀有一层铬材料制成的防锈层。
[0024]优选地，为了使电线一33和电线二43不易折断，电线一33和电线二43通过线卡5连接。
[0025]采用上述技术方案，通过测试部件1与工装盘2相配合，大大提高测试速度。测试时，将待测电容插入工装盘2的插孔21内，此时待测电容的外电极与工装盘2接触并电连接，使用夹具3夹住工装盘2，待测电容的外电极与工装盘2和夹具3，继而与电线一33形成导通电路；手持接触部件4，让弹性部件41与其中一个待测电容的内电极引脚接触，此时待测电容的内电极与弹性部件41，继而与电线二43形成另一导通电路；保持待测电容的外电极电
路导通，手持接触部件4逐一测试待测电容，以完成工装盘上的待测电容的测试，本技术改进了测试的技术方案，使得测试效率得到提高；弹性部件41具有的弹性可吸收接触部件4与待测电容接触时的外力，对电容形成保护作用。
[0026]以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电容性能测试装置，其特征在于：包括测试部件和工装盘，所述测试部件包括夹具和接触部件，所述夹具包括金属夹持部和与所述金属夹持部连接的按压部，所述夹具尾端通过电线一连接有测试仪，所述接触部件包括弹性部件和与所述弹性部件连接的手持部件，所述手持部件的尾端通过电线二连接所述测试仪，所述金属夹持部与所述电线一形成导通电路，所述弹性部件与所述电线二形成另一导通电路；所述工装盘开有多个插孔，且边缘位置开有多个螺纹通孔，所述工装盘包括与多个所述螺纹通孔对应设置的螺栓，所述螺栓用于支撑所述工装盘，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李勇忠，柴辉胜，何惠玲，郭利，何南，
申请(专利权)人：福州欣翔威电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：