大斜度井地层真厚度计算方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请公开了一种大斜度井地层真厚度计算方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括：确定目标大斜度井的顶面靶点与底面靶点相对于井口的三维坐标；确定顶面靶点或底面靶点在构造图上的构造投影点的海拔埋深；计算地层视倾角；根据地层视倾角，计算地层真厚度。本发明专利技术基于地层顶面构造图、地质分层、X坐标偏移距、Y坐标偏移距计算大斜度井地层真厚度，有效规避计算地层真厚度必须用到地层真倾角这一参数的限制，快速计算地层真厚度，对大斜度开发井区的储量评价有重要作用。发井区的储量评价有重要作用。发井区的储量评价有重要作用。

【技术实现步骤摘要】
大斜度井地层真厚度计算方法、装置、电子设备及介质


[0001]本专利技术涉及油气开发领域，更具体地，涉及一种大斜度井地层真厚度计算方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]储层真厚度是储量计算的重要参数之一，大斜度井是常见的实现“少井高产，提高经济效益”开发井型。然而，当地层倾角不为零时，大斜度井钻揭的地层顶、底海拔之差并不代表地层真厚度，从而造成对该地层中钻遇的储层真厚度认识产生偏差；同一地层中可以发育多套储层，但储层真厚度与地层真厚度的计算方法相同，即可以简单将某一储层当成地层进行真厚度计算，逐一计算同一地层中多套储层的真厚度之后，在进行累加，即可得该地层中储层真厚度。
[0003]庄培德基于列昂托夫斯基提出的野外剖面地层真厚度计算公式M＝l(sinα
×
cosβ
×
sinγ
±
cosα
×
sinβ)，讨论了剖面导线方位角与岩层倾向方位角不同条件下列昂托夫斯公式的变形。列昂托夫斯公式中M为地层真厚度，m；l为斜距，代表某测次的导线长度，m；α为地层真倾角，
°
；β为地形坡度角，
°
；γ为剖面导线与岩层走向之间所夹的正锐角，
°
；当岩层倾向与地形坡向相反时，公式中
“±”
取“+”；当岩层倾向与地形坡向相同时，公式中
“±”
取
“‑”
。
[0004]在此基础上，分钻井轨迹方位与地层走向垂直、钻井轨迹方位与地层走向不垂直两种情况，分别推导了两种情况下“钻井轨迹与地层倾向相同”和“钻井轨迹与地层倾向相反”时，地层真厚度的求取方法，最终归纳提出了一种利用钻井轨迹、分层、地层倾角进行地层真厚度求取的通用公式M＝l1×
|sinβ1×
cosα
‑
cosβ1×
sinα
×
cosΦ|，式中M为地层真厚度，m；l1为钻井轨迹钻遇地层长度，m；β1为钻井轨迹倾角，
°
；α为地层真倾角，
°
；为井轨迹在水平面上的投影线与地层倾向的夹角，取值范围为
‑
360
°
～360
°
。
[0005]万禄进对列昂托夫斯基公式进行了改进，论证了一个一步到位既可进行岩层标量真厚度计算，又可进行岩层矢量真厚度计算的快捷公式M＝L[sinα
×
cosβ
×
cos(θ
‑
δ)+cosα
×
sinβ]，式中M为地层真厚度，m；L为岩层在导线上的斜距，m；α为地层真倾角(为正锐角)，
°
；β为地形坡角(为正或负锐角)，
°
；θ为剖面方向正或负任意象限角，
°
；δ为岩层倾向正或负任意象限角，
°
。
[0006]在列昂托夫斯基提出的公式基础上，从实际情况出发推导地层厚度计算公式，分析了地层厚度取值范围和角度误差影响，讨论了“0值”、“负值”、“负厚度”等问题。其修正后的地层真厚度计算公式，所需参数与列昂托夫斯基提出的公式相同。
[0007]由此可见，现有的大斜度井中地层真厚度计算方法发展于列昂托夫斯基提出的用于野外剖面实测地层真厚度计算公式，因此，无论不同学者推导的公式存在何种差异，皆无一例外需要用到了地层真倾角这一参数。但是大斜度井钻孔中，并不能像野外剖面实测一样，用罗盘实测出地层真倾角，即地层真倾角在大斜度井中是未知的。
[0008]因此，有必要开发一种大斜度井地层真厚度计算方法、装置、电子设备及介质，提
供一种利用地层顶面构造图、地质分层、X坐标偏移距、Y坐标偏移距计算大斜度井地层真厚度的有效方法。
[0009]公开于本专利技术
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本专利技术的一般
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0010]本专利技术提出了一种大斜度井地层真厚度计算方法、装置、电子设备及介质，其能够基于地层顶面构造图、地质分层、X坐标偏移距、Y坐标偏移距计算大斜度井地层真厚度，有效规避计算地层真厚度必须用到地层真倾角这一参数的限制，快速计算地层真厚度，对大斜度开发井区的储量评价有重要作用。
[0011]第一方面，本公开实施例提供了一种大斜度井地层真厚度计算方法，包括：
[0012]确定目标大斜度井的顶面靶点与底面靶点相对于井口的三维坐标；
[0013]确定所述顶面靶点或所述底面靶点在构造图上的构造投影点的海拔埋深；
[0014]计算地层视倾角；
[0015]根据所述地层视倾角，计算地层真厚度。
[0016]优选地，还包括：
[0017]判断所述大斜度井为顺层或逆层。
[0018]优选地，若所述大斜度井为顺层，计算地层视倾角包括：
[0019]确定所述顶面靶点在地层底面上的第一构造投影点；
[0020]确定所述顶面靶点在所述底面靶点所在水平面的第一水平投影点；
[0021]计算所述底面靶点与所述第一水平投影点的距离以及所述第一构造投影点与所述第一水平投影点的距离；
[0022]计算所述地层视倾角。
[0023]优选地，还包括：
[0024]确定所述底面靶点在顶面构造图上的构造投影点的海拔埋深；
[0025]确定所述底面靶点在所述顶面靶点所在水平面的水平投影点；
[0026]所述底面靶点与所述第一水平投影点的距离等于所述顶面靶点与所述水平投影点的距离，所述第一构造投影点与所述第一水平投影点的距离等于所述构造投影点与所述水平投影点的距离。
[0027]优选地，若所述大斜度井为逆层，计算地层视倾角包括：
[0028]确定所述底面靶点在顶面构造图上的构造投影点的海拔埋深；
[0029]确定所述底面靶点在所述顶面靶点所在水平面的水平投影点；
[0030]计算所述顶面靶点与所述水平投影点的距离以及所述构造投影点与所述水平投影点的距离；
[0031]计算所述地层视倾角。
[0032]优选地，所述地层视倾角为：
[0033][0034]其中，β为地层视倾角，D
b
为底面靶点在顶面构造图上的构造投影点的海拔埋深，Z
a
为顶面靶点的Z轴坐标，即顶面靶点的实钻海拔埋深，X
a
为顶面靶点沿X轴距井口的偏移距离，X
b
为底面靶点沿X轴距井口的偏移距离，Y
a
为顶面靶点沿Y轴距井口的偏移距离，Y
b
为底面靶点沿Y轴距井口的偏移距离。
[0035]优选地，通过公式(2)计算所述地层真厚度：
[0036][0037]其中，H为地层真厚度，Z
b
为底面靶点的Z轴坐标，即底面靶点的实钻海拔埋深。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大斜度井地层真厚度计算方法，其特征在于，包括：确定目标大斜度井的顶面靶点与底面靶点相对于井口的三维坐标；确定所述顶面靶点或所述底面靶点在构造图上的构造投影点的海拔埋深；计算地层视倾角；根据所述地层视倾角，计算地层真厚度。2.根据权利要求1所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，还包括：判断所述大斜度井为顺层或逆层。3.根据权利要求2所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，若所述大斜度井为顺层，计算地层视倾角包括：确定所述顶面靶点在地层底面上的第一构造投影点；确定所述顶面靶点在所述底面靶点所在水平面的第一水平投影点；计算所述底面靶点与所述第一水平投影点的距离以及所述第一构造投影点与所述第一水平投影点的距离；计算所述地层视倾角。4.根据权利要求3所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，还包括：确定所述底面靶点在顶面构造图上的构造投影点的海拔埋深；确定所述底面靶点在所述顶面靶点所在水平面的水平投影点；所述底面靶点与所述第一水平投影点的距离等于所述顶面靶点与所述水平投影点的距离，所述第一构造投影点与所述第一水平投影点的距离等于所述构造投影点与所述水平投影点的距离。5.根据权利要求2所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，若所述大斜度井为逆层，计算地层视倾角包括：确定所述底面靶点在顶面构造图上的构造投影点的海拔埋深；确定所述底面靶点在所述顶面靶点所在水平面的水平投影点；计算所述顶面靶点与所述水平投影点的距离以及所述构造投影点与所述水平投影点的距离；计算所述地层视倾角。6.根据权利要求4或5所述的大斜度井地层真厚度计算方法，其中，所述地层视倾角为：其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨俊，吴小奇，肖开华，金武军，徐康，陈迎宾，周小进，周凌方，王彦青，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：