COM接口测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种COM接口测试治具，COM接口测试治具包括电路板；电路板上设置有COM接口安装位，COM接口安装位用于安装COM接口；COM接口安装位上包括多个接口PIN脚安装位，多个接口PIN脚安装位用于在COM接口接入时，一一对应接入COM接口中的多个PIN脚；电路板上还设置有多条短路线，每条短路线分别与每组短路测试安装位中的多个接口PIN脚安装位电连接。本实用新型专利技术提高了COM接口短路测试的效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
COM接口测试治具


[0001]本技术涉及COM接口测试
，特别涉及一种COM接口测试治具。

技术介绍

[0002]在传统的COM短路测试中，需要先将采用一根相应PIN脚数量的连接排线，一端设置一DB公头，另一头对应连接在待测的COM接口的多个PIN脚上。在安装DB公头前，还需要松开固定螺丝，取下DB公头外壳，再将DB公头内部需要短路的脚位用飞线焊接方式进行短接，并在焊接完成后再重新拧回固定螺丝，最后将DB公头插入短路测试装置进行COM接口短路测试。整套操作过程过于麻烦，费事费力，测试效率较低。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的是提出一种COM接口测试治具。旨在提高COM接口短路测试的效率。
[0004]实现上述目的，一种COM接口测试治具，所述COM接口测试治具包括：
[0005]电路板；
[0006]所述电路板上设置有COM接口安装位，所述COM接口安装位用于安装COM接口；
[0007]所述COM接口安装位上包括多个接口PIN脚安装位，多个所述接口PIN脚安装位用于在所述COM接口接入时，一一对应接入所述COM接口中的多个PIN脚；
[0008]其中，多个所述接口PIN脚安装位中具有多组短路测试安装位，每组所述短路测试安装位包括多个需要互相短路连接的所述接口PIN脚安装位；
[0009]所述电路板上还设置有多条短路线，每条短路线分别与每组所述短路测试安装位中的多个所述接口PIN脚安装位电连接。
[0010]可选地，电路板上的所述COM接口安装位的数量为多个，多个所述COM接口安装位的类型不同。
[0011]可选地，多个所述COM接口安装位中的多个接口PIN脚安装位的数量互相各不相同。
[0012]可选地，多个所述COM接口安装位中的多个接口PIN脚安装位的数量相同，多个所述COM接口安装位中的多个接口PIN脚安装位的排布不同。
[0013]可选地，所述COM接口安装位包括DB9 COM安装位和DB15 COM安装位。
[0014]可选地，多个所述接口PIN脚安装位中具有三组所述短路测试安装位，第一组所述短路测试安装位包括RX脚安装位和TX脚安装位，第二组所述短路测试安装位包括RTS脚安装位和CTS脚安装位，第三组所述短路测试安装位包括DSR脚安装位、DTR脚安装位和CD脚安装位。
[0015]可选地，在每组所述短路测试安装位中的多个所述接口PIN脚安装位之间的所述短路线上还串联设置有串联安装位；
[0016]所述串联安装位，用于在接入一连接元件时，导通所述短路线两端上连接的所述
接口PIN脚安装位之间的电连接通路。
[0017]可选地，所述电路板还设置有多个信号测试端，多个信号测试端分别与多个所述接口PIN脚安装位一一对应电连接。
[0018]本技术提供了一种COM接口测试治具，COM接口测试治具包括一电路板，电路板上设置有用于接入COM接口的COM接口安装位。COM接口安装位内包括有多个接口PIN脚安装位，以用于在接入COM接口时，一一对应接入COM接口中的多个PIN脚。同时，多个接口PIN脚安装位中具有多组短路测试安装位，电路板上还设置有多条短路线，以分别与每组短路测试安装位中的多个接口PIN脚安装位电连接，从而使得每组短路测试安装位中的多个接口PIN脚安装位之间互相短路连接。如此，在实际测试过程中，只需要将COM接口接入COM接口安装位，其上需要在短路测试中互相短路连接的脚位就会直接处于互相短路连接状态，测试人员此时只用采用一个与测试设备连接的连接公头插入COM接口，即可对COM接口进行短路测试，无需再用手工飞线焊接的方式进行测试，有效地降低了COM接口短路测试的操作量，本技术提高了COM接口短路测试的效率。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本是为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0020]图1为本技术COM接口测试治具一实施例的结构示意图；
[0021]图2为本技术COM接口测试治具另一实施例的结构示意图；
[0022]图3为本技术COM接口测试治具再一实施例的结构示意图；
[0023]图4为本技术COM接口测试治具又一实施例的结构示意图；
[0024]图5为本技术COM接口测试治具另一实施例的结构示意图。
[0025]附图标号说明：
[0026]标号名称标号名称00电路板10COM接口安装位11接口PIN脚安装位12短路线20串联安装位30信号测试端
[0027]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0028]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后......)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改
变。
[0030]另外，若本技术实施例中有设计“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特种可以明示或者隐含地包括至少一个该特种。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不再本技术要求的保护范围之内。
[0031]在传统的COM短路测试中，需要先将采用一根相应PIN脚数量的连接排线，一端设置一DB公头，另一头对应连接在待测的COM接口的多个PIN脚上。在安装DB公头前，还需要松开固定螺丝，取下DB公头外壳，再将DB公头内部需要短路的脚位用飞线焊接方式进行短接，并在焊接完成后再重新拧回固定螺丝，最后将DB公头插入短路测试装置进行COM接口短路测试。整套操作过程过于麻烦，费事费力，测试效率较低。
[0032]为此，本技术提出了一种COM接口测试治具。参考图1，在本技术一实施例中，所述COM接口测试治具包括：
[0033]电路板；
[0034]电路板上设置有COM接口安装位，COM接口安装位用于安装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种COM接口测试治具，其特征在于，所述COM接口测试治具包括：电路板；所述电路板上设置有COM接口安装位，所述COM接口安装位用于安装COM接口；所述COM接口安装位上包括多个接口PIN脚安装位，多个所述接口PIN脚安装位用于在所述COM接口接入时，一一对应接入所述COM接口中的多个PIN脚；其中，多个所述接口PIN脚安装位中具有多组短路测试安装位，每组所述短路测试安装位包括多个需要互相短路连接的所述接口PIN脚安装位；所述电路板上还设置有多条短路线，每条短路线分别与每组所述短路测试安装位中的多个所述接口PIN脚安装位电连接。2.如权利要求1所述的COM接口测试治具，其特征在于，电路板上的所述COM接口安装位的数量为多个，多个所述COM接口安装位的类型不同。3.如权利要求2所述的COM接口测试治具，其特征在于，多个所述COM接口安装位中的多个接口PIN脚安装位的数量互相各不相同。4.如权利要求2所述的COM接口测试治具，其特征在于，多个所述COM接口安装位中的多个接口PIN脚安装位的数量相...

【专利技术属性】
技术研发人员：严俊钦，程匹克，
申请(专利权)人：深圳宝新创科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：