表面检查装置制造方法及图纸

提供表面检查装置。表面检查装置具有：拍摄设备，其对物体的被设为检查对象的部分进行拍摄；第一光源，其是对所述部分进行照明的多个光源中的一个，在从该光源输出的光中，主要是被设为检查对象的该部分镜面反射的光的成分被射入到所述拍摄设备，第二光源，其是所述多个光源中的另一个，隔着所述拍摄设备的光轴配置在与所述第一光源相反的一侧，对于该第二光源，主要是被设为检查对象的所述部分漫反射的光的成分射入到所述拍摄设备。的光的成分射入到所述拍摄设备。的光的成分射入到所述拍摄设备。

【技术实现步骤摘要】
表面检查装置


[0001]本专利技术涉及表面检查装置。

技术介绍

[0002]目前，在各种产品中都使用着由合成树脂成型而成的部件(以下称为“成型品”)。另一方面，有时在成型品的表面会出现能够视觉观察的缺陷。在这种缺陷中，存在意外形成的凹陷即“缩痕”、和在熔融的树脂合流的部分形成的“焊缝”等。另外，在有意地在表面上形成凹凸的纹理加工的情况下，有时也会出现与设想的质感的差异。质感根据颜色、光泽、凹凸这些复合因素而变化。
[0003]如今，能够视觉观察的缺陷是基于目视而进行检查的。另外，作为相关技术文献，例如可举出日本专利第5765152号公报。
[0004]作为对检查对象的物体的表面的状态进行检查的装置，提出了各种方式，但需要特殊的光学系统等，不存在能够低成本地检查缺陷和质感的装置。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于，与使用特殊的光学系统的情况相比，能够低成本地进行缺陷和质感的检查。
[0006]根据本专利技术的第一方案，提供一种表面检查装置，其具有：拍摄设备，其对物体的被设为检查对象的部分进行拍摄；第一光源，其是对所述部分进行照明的多个光源中的一个，在从该光源输出的光中，主要是被设为检查对象的该部分镜面反射的光的成分被射入到所述拍摄设备，第二光源，其是所述多个光源中的另一个，隔着所述拍摄设备的光轴配置在与所述第一光源相反的一侧，对于该第二光源，主要是被设为检查对象的所述部分漫反射的光的成分射入到所述拍摄设备。
[0007]根据本专利技术的第二方案，所述拍摄设备的光轴相对于所述部分的法线大致平行地配置。
[0008]根据本专利技术的第三方案，所述光轴相对于所述法线的倾斜程度在大致10
°
以内。
[0009]根据本专利技术的第四方案，所述第一光源的输出轴相对于所述光轴的倾斜程度为大致5
°
～15
°
。
[0010]根据本专利技术的第五方案，所述第二光源的输出轴相对于所述光轴的倾斜程度为大致45
°
。
[0011]根据本专利技术的第六方案，所述拍摄设备、所述第一光源和所述第二光源位于大致相同的面上。
[0012]根据本专利技术的第七方案，在由所述拍摄设备拍摄到的图像中包含表示检查的范围的标识的像。
[0013]根据本专利技术的第八方案，所述标识的像通过图像处理而合成到由所述拍摄设备拍摄到的所述图像中。
[0014]根据本专利技术的第九方案，所述标识的像是对物理地配置于光轴上的标识进行拍摄而得到的像。
[0015]根据本专利技术的第十方案，所述第一光源和所述第二光源均输出可见光。
[0016]根据本专利技术的第十一方案，所述可见光均为白色。
[0017]根据本专利技术的第十二方案，所述拍摄设备输出亮度信号。
[0018]根据本专利技术的第十三方案，还具有处理器，还具有处理器，所述处理器输出由所述第一光源拍摄到的第一图像的亮度分布与由所述第二光源拍摄到的第二图像的亮度分布相减而得到的第三图像。
[0019](效果)
[0020]根据上述第一方案，与使用特殊的光学系统的情况相比，能够低成本地检查缺陷和质感。
[0021]根据所述第二方案，能够提高对缺陷和质感进行检测的精度。
[0022]根据上述第三方案，能够使视野内的计测的条件均匀化。
[0023]根据上述第四方案，能够强调阴影。
[0024]根据上述第五方案，能够提高质感的检测的精度。
[0025]根据上述第六方案，能够生成强调了缺陷的图像。
[0026]根据上述第七方案，能够容易地确认检查的范围。
[0027]根据上述第八方案，能够容易地确认检查的范围。
[0028]根据上述第九方案，能够容易地确认检查的范围。
[0029]根据上述第十方案，能够检查实际的质感。
[0030]根据上述第十一方案，能够检查实际的质感。
[0031]根据上述第十二方案，能够输出光泽像。
[0032]根据上述第十三方案，能够提高缺陷的灵敏度。
附图说明
[0033]图1是说明在实施方式1中设想的表面检查装置的使用例的图。
[0034]图2是说明在检查对象的表面出现的缺陷的例子的图。(A)表示缩痕的例子，(B)表示焊缝的例子。
[0035]图3是说明在实施方式1中使用的表面检查装置的硬件结构的一例的图。
[0036]图4是说明实施方式1中的表面检查装置的光学系统的构造例的图。
[0037]图5是说明表面检查装置的检查动作的一例的流程图。
[0038]图6是说明实施方式1中的表面检查装置的检查原理的图。(A)表示图像C的例子，(B)表示在检查对象的表面形成的凹型的缺陷的截面，(C)表示图像A的亮度分布SA和图像B的亮度分布SB，(D)表示与图像C对应的亮度分布SA
‑
SB和图像A的亮度分布SA。
[0039]图7是说明实施方式2中的图像C的显示例的图。(A)表示将拍摄检查对象而得的图像C直接显示于显示器的例子，(B)表示在拍摄检查对象而得的图像C上重叠显示标识的例子。
[0040]图8是说明实施方式3中的图像C的显示例的图。(A)表示标识的安装位置，(B)表示拍摄检查对象而得到的图像C的显示例。
[0041]图9是说明实施方式4中的表面检查装置的光学系统的配置的图。
[0042]图10是说明在实施方式5中设想的表面检查装置的使用例的图。
具体实施方式
[0043]以下，参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。
[0044]＜实施方式1＞
[0045]＜表面检查装置的使用例＞
[0046]图1是说明在实施方式1中设想的表面检查装置1的使用例的图。
[0047]在实施方式1中使用的表面检查装置1是所谓的区域照相机，拍摄的范围(以下称为“拍摄范围”)在面上规定。
[0048]另外，在图1中，省略了对外部光相对于拍摄范围的射入进行遮蔽的遮光框100(参照图4)的存在。遮光框100由不使外部光通过的材料或部件构成。
[0049]遮光框100除了用于外部光的遮光以外，还用于表面检查装置1与检查对象10的定位。此处的定位例如包括拍摄范围的定位、检查对象10的表面与光源108、109(参照图4)的定位、检查对象10的表面与照相机107(参照图4)的定位。
[0050]另外，遮光框100构成表面检查装置1的一部分。遮光框100既可以与表面检查装置1为一体，也可以相对于表面检查装置1的壳体能够装卸。
[0051]在图1的情况下，拍摄范围包含作为检查对象的物体(以下也称为“检查对象”)10的全体。不过，拍摄范围也可以仅包含检查对象10中的要关注的一部分。本实施方式中的检查对象10假定为成形品。
[0052]区域照相机的检查是在表面检查装置1和检查对象10处于静止的状态下执行的。换言之，在表面检查装置1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面检查装置，其具有：拍摄设备，其对物体的被设为检查对象的部分进行拍摄；第一光源，其是对所述部分进行照明的多个光源中的一个，在从该光源输出的光中，主要是被设为检查对象的该部分镜面反射的光的成分被射入到所述拍摄设备，第二光源，其是所述多个光源中的另一个，隔着所述拍摄设备的光轴配置在与所述第一光源相反的一侧，对于该第二光源，主要是被设为检查对象的所述部分漫反射的光的成分被射入到所述拍摄设备。2.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述拍摄设备的光轴相对于所述部分的法线大致平行地配置。3.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，所述光轴相对于所述法线的倾斜程度在大致10
°
以内。4.根据权利要求3所述的表面检查装置，其中，所述第一光源的输出轴相对于所述光轴的倾斜程度为大致5
°
～15
°
。5.根据权利要求3或4所述的表面检查装置，其中，所述第二光源的输出轴相对于所述光轴的倾斜程度为大致45
...

【专利技术属性】
技术研发人员：平松崇，田崎海渡，相川清史，宇野美穗，大贯宏子，市川裕一，桑田良隆，
申请(专利权)人：富士胶片商业创新有限公司，
类型：发明
国别省市：