一种热解吸设备制造技术

本发明专利技术公开了一种热解吸设备，涉及检验设备技术领域。具体包括：解吸组件，用于对待检样品进行解吸；降温组件，用于延长所述解吸组件达到目标温度的时间；以及吹扫组件，用于将解吸后的待检样品吹入电离室和将被所述解吸组件提前解吸出的杂质进行清除。旨在在现有恒温加热的基础上，降低样品中杂质对质谱结果的干扰。扰。扰。

【技术实现步骤摘要】
一种热解吸设备


[0001]本专利技术涉及检验设备
，特别涉及一种热解吸设备。

技术介绍

[0002]热解吸技术是一种简单而又重要的质谱前处理方式：常压下分析物首先通过受热的方式被释放至气相，气化之后直接吹入质谱电离区发生电离并被质谱检测。由于无需其他繁复的前处理步骤，简化了操作流程，缩短了处理时间，热解吸与质谱联合检测各种复杂样品的应用越来越广泛。
[0003]实际样品组分较为复杂，各个组分有着不同的解吸温度范围。而绝大多数热解吸技术多采取恒温加热方式，在较短时间内就能达到并保持预设温度，解吸温度低于此温度的组分将会同时释放而出，解吸后这些组分仍混合在一起，干扰各个目标物的电离与检测。同时加热温度过高，低解吸温度的组分消耗过快，影响检测的灵敏度和准确性。即使可以手动调控不同的温度，却无法对样品中的复杂组分进行连续分离解吸；且温度一旦升高，短时间内无法实现大幅度降温，影响下一个样品分析。因此，在现有恒温加热方式的基础上，如何避免样品中杂质对质谱分析的影响，成为了亟待解决的技术难题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是提供一种热解吸设备和方法，旨在在现有恒温加热的基础上，降低样品中杂质对质谱结果的干扰。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术提出一种热解吸设备，包括：
[0006]解吸组件，用于对待检样品进行解吸；
[0007]降温组件，用于延长所述解吸组件达到目标温度的时间；以及
[0008]吹扫组件，用于将解吸后的待检样品吹入电离室和将被所述解吸组件提前解吸出的杂质进行清除。
[0009]在本申请的一实施例中，所述解吸组件包括：
[0010]第一壳体，带有解吸空间；
[0011]加热件，用于对放置于所述解吸空间内的待检样品进行加热；和
[0012]第一出气口，设于所述第一壳体上供解吸后的待检样品进入电离区。
[0013]在本申请的一实施例中，所述降温组件包括：
[0014]第二壳体，带有入口和出口，所述第二壳体包覆于所述第一壳体上并与所述第一壳体之间形成降温空间；和
[0015]泵体，用于向所述降温空间内泵入换热介质。
[0016]在本申请的一实施例中，所述降温组件还包括设于所述第一壳体上用于检测所述第一壳体温度的温度传感器。
[0017]在本申请的一实施例中，所述吹扫组件包括：
[0018]第一进气口，设于所述第一壳体上用于向所述解吸空间内泵入气流；和
[0019]第二出气口，设于所述第一壳体上用于将解吸出的杂质排出；
[0020]第一开关件，设于所述第一出气口上；
[0021]第二开关件，设于所述第二出气口上；以及
[0022]控制件，当所述温度传感器检测的温度落在第一区间时，打开第一开关件并关闭第二开关件；当所述温度传感器检测的温度落在第二区间内时，打开所述第一开关件并关闭第二开关件。
[0023]在本申请的一实施例中，当所述换热介质为气体时，所述第一进气口连通解吸空间和降温空间，所述第二出气口一端与解吸空间连通，另一端伸出所述降温空间，所述第二壳体通过第二出气口排出换热介质。
[0024]在本申请的一实施例中，所述第一进气口的输出端正对所述加热件的顶部。
[0025]在本申请的一实施例中，还包括用于向所述解吸空间内放入待检样品的送样组件。
[0026]在本申请的一实施例中，所述送样组件包括：
[0027]抓持部；和
[0028]放料部，连接于所述抓持部，所述放料部上设有用于存放待检样品的凹槽，所述抓持部与所述放料部的连接处受热后可与所述第一壳体过盈配合。
[0029]采用上述技术方案，通过设置降温组件延长解吸组件到达目标温度的时间，然后通过对降温组件流量的控制，在待检样品中非目标组分的温度区间内加大加热功率，使非目标组分快速转换成气态，然后通过吹扫组件将该非目标组分清清除。在待检样品中目标组件的温度区间内，延长该温度的时间，为目标组分的解吸提供更多的时间，保证目标组分的充分解吸，然后将解吸完成后的目标组分通入电离区域进行下一步电离。旨在在现有恒温加热的基础上，降低样品中杂质对质谱结果的干扰。
附图说明
[0030]下面结合具体实施例和附图对本专利技术进行详细的说明，其中：
[0031]图1为本专利技术第一种实施例的结构示意图。
[0032]图2为送样组件的结构示意图。
具体实施方式
[0033]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚，以下结合附图和实施例对本专利技术进行详细的说明。应当理解，以下具体实施例仅用以解释本专利技术，并不对本专利技术构成限制。
[0034]如图1至图2所示，为了实现上述目的，本专利技术提出一种热解吸设备，包括：
[0035]解吸组件，用于对待检样品进行解吸；
[0036]降温组件，用于延长所述解吸组件达到目标温度的时间；以及
[0037]吹扫组件，用于将解吸后的待检样品吹入电离室和将被所述解吸组件提前解吸出的杂质进行清除。
[0038]具体的，一种热解吸设备，包括解吸组件、降温组件、吹扫组件。其中，
[0039]解吸组件，用于对待检样品进行解吸。其工作过程为：通过给待检样品加热，使待
检样品达到相对应的解吸温度，从而变成气态。由于解吸组件中的发热组件一般为恒温发热，本申请中的恒温发热是指其在短时间内可快速上升至指定温度，并保持在指定温度，该指定温度是指待检样品的相对应的解吸温度。
[0040]降温组件，用于延长解吸组件达到目标温度的时间，本申请中的目标温度与上文的指定温度为相同温度。均为加热件50的加热完成后的最高温度。
[0041]降温组件可以采用现有技术中采用的液体换热的方式进行降温，也可以采用吹入冷却气体进行降温。
[0042]当将降温组件采用液体换热的方式进行降温时，降温组件包括换热管，换热管内通入冷水，换热管卷绕在解吸组件上，从而带走解吸组件的热量，延长解吸组件达到目标温度的时间。
[0043]当降温组件采用吹入冷却气体的方式进行降温时，降温组件包括包覆在解吸组件外部的外壳，降温组件内的冷却气体与解吸组件的外壳换热后，对解吸组件进行降温。
[0044]吹扫组件用于将解吸后的待检样品吹入电离室中，使完成解吸的待检样品被电离，从而实现后续对待检样品的质谱检测。吹扫组件还用于将被解吸组件提前解吸出的杂质清除。
[0045]由于降温组件延长了解吸组件达到目标温度的时间，从而解吸组件的温度缓慢的上升到目标温度，在此过程中，待检样品的受热时间延长，待检样品中的杂质会在解吸组件温度缓慢上升的过程中，全部或者部分变成气态，对应的真正的待检样品还没有变成气态，此时吹扫组件将解吸的待检样品中的杂质清除，从而避免了待检样品中杂质对质谱结果干扰。
[0046]本申请中的目标温度可以根据真正待检样品的温度进行调节。其可以查阅相关资料获得真正待检样品的温度。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种热解吸设备，其特征在于，包括：解吸组件，用于对待检样品进行解吸；降温组件，用于延长所述解吸组件达到目标温度的时间；以及吹扫组件，用于将解吸后的待检样品吹入电离室和将被所述解吸组件提前解吸出的杂质进行清除。2.如权利要求1所述的热解吸设备，其特征在于，所述解吸组件包括：第一壳体，带有解吸空间；加热件，用于对放置于所述解吸空间内的待检样品进行加热；和第一出气口，设于所述第一壳体上供解吸后的待检样品进入电离区。3.如权利要求2所述的热解吸设备，其特征在于，所述降温组件包括：第二壳体，带有入口和出口，所述第二壳体包覆于所述第一壳体上并与所述第一壳体之间形成降温空间；和泵体，用于向所述降温空间内泵入换热介质。4.如权利要求3所述的热解吸设备，其特征在于，所述降温组件还包括设于所述第一壳体上用于检测所述第一壳体温度的温度传感器。5.如权利要求4所述的热解吸设备，其特征在于，所述吹扫组件包括：第一进气口，设于所述第一壳体上用于向所述解吸空间内泵入气流；和第二出气口，设于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲁信琼，杨芹，余泉，
申请(专利权)人：清华大学深圳国际研究生院，
类型：发明
国别省市：