一种芯片自动检测筛选装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片自动检测筛选装置，包括用于吸取芯片并将芯片依次搬运至测高工位、良品下料工位或不良品下料工位的吸料搬运机构，用于放置待测品料盘并带动待测品料盘沿着Y轴方向移动的第一Y轴移动驱动装置，用于放置良品料盘并带动良品料盘沿着Y轴方向移动的第二Y轴移动驱动装置，用于放置不良品料盘并带动不良品料盘沿着Y轴移动的第三Y轴移动驱动装置，以及用于对芯片进行高度测量的测高机构。本实用新型专利技术的结构简单、新颖，设计合理，可实现芯片的自动化高度测量和自动化不良品筛选作业，自动化程度高，替代了人手分拣，节省时间，大大提高了生产效率，可满足企业的规模化生产需求。模化生产需求。模化生产需求。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片自动检测筛选装置


[0001]本技术涉及芯片检测的
，更具体地说，是涉及一种芯片自动检测筛选装置。

技术介绍

[0002]在芯片制作完成后，需要对芯片的高度进行测量，从而将不良品和良品分出，然而，现有的芯片产线中都是通过人工来对芯片进行测量和不良品筛选的，这样操作麻烦、费时，大大降低了生产效率，不利于生产。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服现有技术中的上述缺陷，提供一种芯片自动检测筛选装置。
[0004]为实现上述目的，本技术提供了一种芯片自动检测筛选装置，包括用于吸取芯片并将芯片依次搬运至测高工位、良品下料工位或不良品下料工位的吸料搬运机构，用于放置待测品料盘并带动待测品料盘沿着Y轴方向移动的第一Y轴移动驱动装置，用于放置良品料盘并带动良品料盘沿着Y轴方向移动的第二Y轴移动驱动装置，用于放置不良品料盘并带动不良品料盘沿着Y轴移动的第三Y轴移动驱动装置，以及用于对芯片进行高度测量的测高机构，所述吸料搬运机构平行于X轴方向布置，所述第一Y轴移动驱动装置、第二Y轴移动驱动装置和第三Y轴移动驱动装置沿着本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片自动检测筛选装置，其特征在于：包括用于吸取芯片并将芯片依次搬运至测高工位、良品下料工位或不良品下料工位的吸料搬运机构(1)，用于放置待测品料盘(2)并带动待测品料盘(2)沿着Y轴方向移动的第一Y轴移动驱动装置(3)，用于放置良品料盘(4)并带动良品料盘(4)沿着Y轴方向移动的第二Y轴移动驱动装置(5)，用于放置不良品料盘(6)并带动不良品料盘(6)沿着Y轴移动的第三Y轴移动驱动装置(7)，以及用于对芯片进行高度测量的测高机构(8)，所述吸料搬运机构(1)平行于X轴方向布置，所述第一Y轴移动驱动装置(3)、第二Y轴移动驱动装置(5)和第三Y轴移动驱动装置(7)沿着吸料搬运机构(1)的搬运方向依次布置于吸料搬运机构(1)的吸料部位的X轴平移路径下方，所述吸料搬运机构(1)的吸料部位能够沿着X轴方向平移，所述测高机构(8)布置于吸料搬运机构(1)的吸料部位的X轴平移路径下方且位于吸料搬运机构(1)的上料工位与良品下料工位之间。2.根据权利要求1所述的一种芯片自动检测筛选装置，其特征在于：所述吸料搬运机构(1)设置有两个吸料部位。3.根据权利要求1所述的一种芯片自动检测筛选装置，其特征在于：所述吸料搬运机构(1)包括支架(11)、X轴平移模组(12)、平移座(13)、升降驱动气缸(14)、吸盘(15)和吸盘安装座(16)，所述X轴平移模组(12)横向安装在支架(11)的横梁正面，所述平移座(13)设有两个并分别安装在X轴平移模组(12)的两个平移部位上，所述升降驱动气缸(14)设有两个并分别朝下安装在各自对应的平移座(13)正面，所述吸盘(15)设有两个并分别通过吸盘安装座(16)安装在各自对应的升降驱动气缸(14)的输出轴上。4.根据权利要求1所述的一种芯片自动检测筛...

【专利技术属性】
技术研发人员：张华，蒲继雄，丁攀峰，冯文灿，
申请(专利权)人：东莞广达智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：