一种测量装置制造方法及图纸

技术编号:34975067 阅读:23 留言:0更新日期:2022-09-21 14:16
本实用新型专利技术公开了一种测量装置。该测量装置包括安装台架和位移放大机构,固定在安装台架的单轴位移装置的输出轴能够沿预设方向输出预设位移,位移放大机构的支点座和杠杆通过转动轴转动连接,杠杆包括位于转动轴一侧的动力臂和位于转动轴另一侧的阻力臂,动力臂上的第一标记点与单轴位移装置的输出轴抵接,百分表的表头连接阻力臂的第二标记点处上,第二标记点与转动轴之间的间距d2与第一标记点到转动轴之间的间距d1的比值不小于10:1。该测量装置通过利用杠杆和百分表能够将单轴位移装置输出的直线位移进行两次放大,从而使该测量装置能够达到量测精度的要求,并且该测量装置结构简单,量测成本低,对量测环境要求低。对量测环境要求低。对量测环境要求低。

【技术实现步骤摘要】
一种测量装置


[0001]本技术涉及位移测量
,尤其涉及一种测量装置。

技术介绍

[0002]基于现有的TEM透射电子显微镜的送样装置的单轴移动分辨力的验证要求,需要能够检测到50nm位移分辨力的量测量装置来对其进行性能测试。目前量测精度较高的测量装置主要包括:超高精度百分表和基于迈克尔逊原理的激光干涉仪。
[0003]但是,高精度的百分表的量测精度较低,其量测精度只能到0.001mm,不能满足测试需求。激光干涉仪分为普通激光干涉仪和超高精度干涉仪,普通的激光干涉仪的量测精度受制于激光波长,其量测精度只能到0.0005mm的精度,同样无法满足需求;而超高精度的以稳频氦氖激光为光源的干涉仪可以达到1ppm的分辨力,但是测试结构程序复杂,测量环境要求高,量测成本很高。
[0004]因此,如何提出一种既能够满足量测精度,又结构简单、对量测环境要求较低以及量测成本较低的测量装置是现在亟需解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种测量装置,该测量装置能够达到量测精度的要求,且结构简单,对量测环境要求较低,量测成本低。
[0006]为达此目的,本技术采用以下技术方案:
[0007]一种测量装置,包括:安装台架,用于固定待检测的单轴位移装置,所述单轴位移装置的输出轴能够沿预设方向输出预设位移;位移放大机构,所述位移放大机构包括支点座、杠杆、转动轴和百分表,所述支点座固定设置在所述安装台架上,且所述支点座上设置有转动槽,所述杠杆通过所述转动轴转动连接在所述转动槽内,且所述杠杆包括位于所述转动轴一侧的动力臂和位于所述转动轴另一侧的阻力臂,所述动力臂上设置有第一标记点,所述输出轴与所述第一标记点抵接,且在所述输出轴沿所述预设方向输出预设位移时能够驱动所述杠杆绕所述转动轴在预设平面内转动,所述预设平面平行于所述预设方向,所述阻力臂上设置有第二标记点,所述百分表的表头抵接在所述第二标记点处,所述第二标记点与所述转动轴之间的间距d2与所述第一标记点到所述转动轴之间的间距d1的比值不小于10:1。
[0008]作为优选,所述第一标记点处设置有第一刚性块,所述第一刚性块呈球状,所述第一刚性块的球面与所述输出轴抵接。
[0009]作为优选,所述第二标记点处设置有第二刚性块,所述第二刚性块呈球状,所述百分表的表头连接在所述第二刚性块处。
[0010]作为优选,所述位移放大机构还包括底座,所述底座设置在所述支点座上,所述底座内设置有第三刚性块,所述第三刚性块呈球状,所述转动轴的一端穿过所述支点座的侧壁板与所述第三刚性块的球面抵接。
[0011]作为优选,所述安装台架包括气浮平台、第一立板、第二立板和顶板,所述第一立板和所述第二立板间隔设置且均垂直凸设在所述气浮平台上,所述顶板与所述气浮平台上下平行设置,且所述顶板的两端分别与所述第一立板的顶端和所述第二立板的顶端连接,所述第一立板上设置有固定所述单轴位移装置的固定孔,所述位移放大机构位于所述气浮平台、所述第一立板、所述第二立板和所述顶板围设形成的安装空间内,且所述位移放大机构与所述顶板固定连接。
[0012]作为优选,所述安装台架还包括侧板,所述侧板位于所述安装空间内且连接在所述顶板上,所述支点座固定连接在所述侧板上。
[0013]作为优选,所述测量装置还包括安装架和复位件,所述安装架位于所述安装空间内且连接在所述顶板上,所述复位件的一端与所述安装架连接,另一端与所述阻力臂连接。
[0014]作为优选,所述复位件为螺旋弹簧。
[0015]作为优选,所述复位件的一端与所述安装架通过吊环螺丝连接。
[0016]作为优选,所述支点座和所述杠杆之间的间距为0.5mm。
[0017]本技术的有益效果:
[0018]本技术提供了一种测量装置,该测量装置包括安装台架和位移放大机构,固定在安装台架的单轴位移装置的输出轴能够沿预设方向输出预设位移,位移放大机构的支点座和杠杆通过转动轴转动连接,杠杆包括位于转动轴一侧的动力臂和位于转动轴另一侧的阻力臂,动力臂上的第一标记点与单轴位移装置的输出轴抵接,百分表的表头连接在设置在第二标记点处的阻力臂上,第二标记点与转动轴之间的间距d2与第一标记点到转动轴之间的间距d1不小于10:1。该测量装置通过利用杠杆和百分表能够将单轴位移装置输出的直线位移进行两次放大,从而使该测量装置能够达到量测精度的要求,并且该测量装置结构简单,量测成本低,对量测环境要求也较低。
附图说明
[0019]图1是本技术实施例所提供的测量装置在某一视角下的结构示意图;
[0020]图2是本技术实施例所提供的测量装置在另一视角下的结构示意图;
[0021]图3是本技术实施例所提供的位移放大机构的部分结构的示意图;
[0022]图4是本技术实施例所提供的支点座、转动轴、底座的结构示意图;
[0023]图5是图4中A

A方向的剖视图。
[0024]图中:
[0025]10、单轴位移装置;11、输出轴;12、旋转表头;
[0026]100、安装台架;101、气浮平台;102、第一立板;103、第二立板;104、顶板;105、连接横板;
[0027]200、位移放大机构;201、支点座;2011、连接板;2012、U型架;202、杠杆;203、转动轴;204、百分表;205、侧板;206、过渡件;207、第一刚性块;208、第二刚性块;209、底座;210、第三刚性块;
[0028]300、安装架;400、复位件。
具体实施方式
[0029]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0030]在本技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中,术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置。
[0031]在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0032]本实施例提本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量装置,其特征在于,包括:安装台架(100),用于固定待检测的单轴位移装置(10),所述单轴位移装置(10)的输出轴(11)能够沿预设方向输出预设位移;位移放大机构(200),所述位移放大机构(200)包括支点座(201)、杠杆(202)、转动轴(203)和百分表(204),所述支点座(201)固定设置在所述安装台架(100)上,且所述支点座(201)上设置有转动槽,所述杠杆(202)通过所述转动轴(203)转动连接在所述转动槽内,且所述杠杆(202)包括位于所述转动轴(203)一侧的动力臂和位于所述转动轴(203)另一侧的阻力臂,所述动力臂上设置有第一标记点,所述输出轴(11)与所述第一标记点抵接,且在所述输出轴(11)沿所述预设方向输出预设位移时能够驱动所述杠杆(202)绕所述转动轴(203)在预设平面内转动,所述预设平面平行于所述预设方向,所述阻力臂上设置有第二标记点,所述百分表(204)的表头抵接在所述第二标记点处,所述第二标记点与所述转动轴(203)之间的间距d2与所述第一标记点到所述转动轴(203)之间的间距d1的比值不小于10:1。2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述第一标记点处设置有第一刚性块(207),所述第一刚性块(207)呈球状,所述第一刚性块(207)的球面与所述输出轴(11)抵接。3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述第二标记点处设置有第二刚性块(208),所述第二刚性块(208)呈球状,所述百分表(204)的表头连接在所述第二刚性块(208)处。4.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述位移放大机构(200)还包括底座(209),所述底座(209)设置在所述支点座(201)上,所述底座(209)内设置有第三刚性块(210),所述第三刚性块(210)呈球状,所述转动轴(203)的一端穿过所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:白生伟唐爱权魏志猛邹文兵
申请(专利权)人:苏州博众仪器科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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