一种多路晶振筛选装置及系统制造方法及图纸

技术编号:34957662 阅读:44 留言:0更新日期:2022-09-17 12:36
本实用新型专利技术提出了一种多路晶振筛选装置及系统,装置包括上位机和测试板,所述测试板上设有至少两个晶振测试单元,还设有连接器单元和电源单元,所述电源单元和每个晶振测试单元的供电端连接,所述晶振测试单元均通过所述连接器单元和上位机连接,每个晶振测试单元中均安装有被测试的晶振。本实用新型专利技术的上位机可以获取每个晶振测试单元的测试数据,从而实现多个晶振的同时测试,并且电源单元为晶振测试单元提供了多种供电方式,保证晶振的测试成功进行。进行。进行。

【技术实现步骤摘要】
一种多路晶振筛选装置及系统


[0001]本技术涉及晶振测试领域,尤其涉及一种多路晶振筛选装置及系统。

技术介绍

[0002]晶振作为一种高精度频率源被广泛地应用于通信系统、雷达系统、精密测控系统,其质量是整个产品乃至整个系统的基础。一个小小的晶振失效将导致整机失效,可能造成重大损失,因此晶振在使用前需要进行测试来筛除存在问题的晶振。
[0003]为了解决多晶振测试的测试任务量大,实现晶振的自动测试,现有技术以计算机和下位机控制板为控制核心,通过多路选择器切换晶振测试板的信号通道,控制频率计仪表进行晶振测试,将晶振测试版直接放置高低温试验箱中,由高低温试验箱来保障晶振测试时的环境温度,使测试过程更符合规范要求,但是通过多路选择器切换信号通道不能对多个晶振同时测试,且频率计仪表价格高昂,需要定时校准,导致经济成本和维护成本较高。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题就在于:针对现有技术存在的技术问题,本技术提供一种多路晶振筛选装置及系统,相比现有技术降低成本,且能够同时进行多个晶振的测试。
>[0005]为解决本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多路晶振筛选装置,其特征在于,包括上位机(1)和测试板(2),所述测试板(2)上设有至少两个晶振测试单元(21),还设有连接器单元(22)和电源单元(23),所述电源单元(23)和每个晶振测试单元(21)的供电端连接,所述晶振测试单元(21)均通过所述连接器单元(22)和上位机(1)连接,每个晶振测试单元(21)中均安装有被测试的晶振。2.根据权利要求1所述的多路晶振筛选装置,其特征在于,所述晶振测试单元(21)包括时钟电路,所述时钟电路的供电端和电源单元(23)连接,所述时钟电路的时钟信号输出端通过连接器单元(22)和上位机(1)连接,所述时钟电路的晶振输入端和被测试的晶振连接。3.根据权利要求2所述的多路晶振筛选装置,其特征在于,所述时钟电路包括时钟芯片,所述电源单元(23)包括电压转换器,所述时钟芯片的第一供电输入引脚通过电压转换器和外部电源连接,所述时钟芯片的外接晶体引脚和被测试的晶振连接,所述时钟芯片的时间输出引脚通过连接器单元(22)和上位机(1)连接。4.根据权利要求3所述的多路晶振筛选装置,其特征在于,所述时钟电路还包括二极管,所述时钟芯片的第一供电输入引脚通过所述二极管...

【专利技术属性】
技术研发人员:禾建如王键王萌
申请(专利权)人:湖南艾科诺维科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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